[實用新型]一種測量孔可調的X射線熒光分析用裝試樣器

有效

• 申請號: 201721741660.0
• 申請日: 2017-12-14
• 公開（公告）號: CN207798712U
• 公開（公告）日: 2018-08-31
• 發明（設計）人: 李杰;張穗忠;李潔;于錄軍;謝芬;夏念平
• 申請（專利權）人: 武漢鋼鐵有限公司
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 42102
• 代理人: 段姣姣

1.一種測量孔可調的X射線熒光分析用裝試樣器，主要由試樣放置盒、設于試樣放置盒上端的端蓋、端蓋上的觀測孔一、試樣放置盒內的彈簧墊板、彈簧墊板上放置的彈簧、彈簧上放置的試樣墊板組成，其特征在于：在端蓋的下端面連接有環狀凸塊，在環狀凸塊的下端連接有測量孔調節器，測量孔調節器通過螺紋與試樣放置盒配合連接。

2.如權利要求1所述的一種測量孔可調的X射線熒光分析用裝試樣器，其特征在于：所述測量孔調節器由外殼、外殼頂部設有的卡槽、連接在外殼內的固定板、在固定板上設有的連接孔和觀測孔二、通過連接孔安裝的弧形葉片、弧形葉片形成的測量孔、弧形葉片上設置的固定孔及調節孔、固定孔及調節孔內裝有的銷軸、弧形葉片上端面的環形壓板、環形壓板上設有的凹槽、調節槽及觀測孔三組成。

3.如權利要求1或2所述的一種測量孔可調的X射線熒光分析用裝試樣器，其特征在于：所述環狀凸塊由圓環，設在圓環外側的卡齒、觀測孔四及與凹槽配合的凸條組成；環形壓板與凸條的下端面處于同一平面安裝；卡齒與卡槽相配合。

4.如權利要求2所述的一種測量孔可調的X射線熒光分析用裝試樣器，其特征在于：所述弧形葉片至少為3片；固定孔及調節孔設置在弧形葉片的大端處。

5.如權利要求1或2所述的一種測量孔可調的X射線熒光分析用裝試樣器，其特征在于：觀測孔一、觀測孔二、觀測孔三、觀測孔四及測量孔為同心圓布局。