[實用新型]一種測量孔可調的X射線熒光分析用裝試樣器

有效

• 申請號: 201721741660.0
• 申請日: 2017-12-14
• 公開（公告）號: CN207798712U
• 公開（公告）日: 2018-08-31
• 發明（設計）人: 李杰;張穗忠;李潔;于錄軍;謝芬;夏念平
• 申請（專利權）人: 武漢鋼鐵有限公司
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 42102
• 代理人: 段姣姣

一種測量孔可調的X射線熒光分析用裝試樣器，主要由試樣放置盒、設于試樣放置盒上端的端蓋、端蓋上的觀測孔一、試樣放置盒內的彈簧墊板、彈簧墊板上放置的彈簧、彈簧上放置的試樣墊板組成，其在于：在端蓋的下端面連接有環狀凸塊，在環狀凸塊的下端連接有測量孔調節器，測量孔調節器通過螺紋與試樣放置盒配合連接。本實用新型結構簡單，僅需一套裝置，減少了需要配置的試樣盒的數量，從而提高分析效率，并使分析成降低本；其適用于不同大小的試樣，通過旋擰端蓋而調節測量孔的大小，確保了測量靈敏度。

技術領域

本實用新型涉及一種試樣試驗分析用裝置，具體屬于一種X射線熒光分析用裝試樣器。

背景技術

X射線熒光分析是對試樣化學成分的一種常用的快速分析方法，其具有良好的穩定性和精密度，較寬的測量范圍，較高的靈敏度，可多元素快速同時測定，并且對試樣幾乎不造成損耗等特點，被廣泛應用于冶金、礦山、地質、金屬材料等各領域。在工礦企業和科研院所應用十分廣泛。

在X射線熒光分析過程中，加工好的試樣需要被固定盛放于試樣盒中，并露出一定面積的平整表面用于分析測定。測量時光源發射的X射線通過蓋子上的測量孔照射到試樣表面，激發試樣產生熒光光譜，根據產生的熒光譜線的波長和強度來確定試樣的化學組成。樣品盒蓋上測量孔的大小決定了可照射到試樣上的X射線的通量，從而決定了測量的靈敏度。因此就目前情況，本技術領域的技術人員為盡量選擇較大的測量孔以獲取更高的測量靈敏度。但試樣的尺寸會對測量孔的大小進行限制，對于不同尺寸的試樣，人們目前均采取選擇不同的試樣盒或更換具有不同孔徑的試樣盒蓋子，以保證試樣能夠被良好的固定。這必造成需要準備一系列從大到小不同型號的試樣盒或試樣盒蓋以適應不同尺寸的試樣。一是造成試驗室購置成本加大，二是還需要較多的放置空間。

實用新型內容

本實用新型針對現有技術存在的不足，提供一種結構簡單，僅需一套裝置即可適用于不同大小的試樣，通過旋擰端蓋而調節測量孔的大小，以確保測量靈敏度要求的測量孔可調的X射線熒光分析用裝試樣器。

實現上述目的的技術措施：

一種測量孔可調的X射線熒光分析用裝試樣器，主要由試樣放置盒、設于試樣放置盒上端的端蓋、端蓋上的觀測孔一、試樣放置盒內的彈簧墊板、彈簧墊板上放置的彈簧、彈簧上放置的試樣墊板組成，其在于：在端蓋的下端面連接有環狀凸塊，在環狀凸塊的下端連接有測量孔調節器，測量孔調節器通過螺紋與試樣放置盒配合連接。

其在于：所述測量孔調節器由外殼、外殼頂部設有的卡槽、連接在外殼內的固定板、在固定板上設有的連接孔和觀測孔二、通過連接孔安裝的弧形葉片、弧形葉片形成的測量孔、弧形葉片上設置的固定孔及調節孔、固定孔及調節孔內裝有的銷軸、弧形葉片上端面的環形壓板、環形壓板上設有的凹槽、調節槽及觀測孔三組成。

其在于：所述環狀凸塊由圓環，設在圓環外側的卡齒、觀測孔四及與凹槽配合的凸條組成；環形壓板與凸條的下端面處于同一平面安裝；卡齒與卡槽相配合。

其在于：所述弧形葉片至少為3片；固定孔及調節孔設置在弧形葉片的大端處。

其在于：觀測孔一、觀測孔二、觀測孔三、觀測孔四及測量孔為同心圓布局。

本實用新型的特點：結構簡單，僅需一套裝置，減少了需要配置的試樣盒的數量，從而提高分析效率，并使分析成降低本；其適用于不同大小的試樣，通過旋擰端蓋而調節測量孔的大小，確保了測量靈敏度。

附圖說明

圖1為本實用新型的結構示意圖；

圖2為圖1中測量孔調節器的結構示意圖；

圖3為圖1中端蓋結構示意圖；

圖4為圖3中端蓋的仰視結構示意圖；

圖5為圖2中外殼與固定板的結構示意圖；