[實用新型]一種二極管芯片檢測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201721708038.X | 申請日: | 2017-12-11 |
| 公開(公告)號: | CN207542200U | 公開(公告)日: | 2018-06-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳創(chuàng);高萌 | 申請(專利權(quán))人: | 徐州市晨創(chuàng)電子科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 221000 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 上端 測試針 二極管芯片 工作臺 本實用新型 環(huán)形卡塊 檢測裝置 安裝板 安裝殼 支撐板 支撐柱 氣缸 托板 針腔 活塞桿連接 測試芯片 均勻環(huán)繞 上端外壁 使用壽命 延長測試 形變 彈簧 外壁 下端 針頭 對稱 檢測 | ||
本實用新型公開了一種二極管芯片檢測裝置,包括工作臺,所述工作臺的上端一側(cè)固定連接有支撐柱,且支撐柱的上端設(shè)有支撐板,所述支撐板的下端安裝有氣缸,所述氣缸通過活塞桿連接有安裝板,且安裝板的外壁一側(cè)安裝有兩個對稱的安裝殼,所述安裝殼的內(nèi)部設(shè)有針腔,所述針腔內(nèi)設(shè)有測試針,所述測試針的上端外壁固定連接有環(huán)形卡塊,所述環(huán)形卡塊的上端均勻環(huán)繞設(shè)有若干個彈簧,所述測試針的上端設(shè)有第一引線,所述工作臺的上端設(shè)有托板,且托板的上端設(shè)有測試芯片。本實用新型結(jié)構(gòu)簡單,易操作,有效的檢測二極管芯片的性能,避免測試針的針頭發(fā)生形變,延長測試針的使用壽命,使用時便捷巧妙,適宜廣泛推廣。
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及電子元器件檢測技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種二極管芯片檢測裝置。
背景技術(shù)
在二極管芯片的研發(fā)及大規(guī)模生產(chǎn)過程中,均需要對芯片的各類性能進行測試。傳統(tǒng)測試方法是人工測試,直接拿著測試裝置對芯片進行測試,比較的費事費力,并且由人工進行測試時,存在著明顯個體差異,經(jīng)驗豐富的技工進行測試時,芯片測試的結(jié)果具有一定的可靠性和準確性,但是經(jīng)驗欠缺的技工測試時,芯片測試的結(jié)果不具有參考性。測試時,測試治具會和芯片發(fā)生碰撞,容易造成測試治具的變形,導(dǎo)致測試治具壽命減少。測試治具的變形過大,在測試中是不可接受的,會誤造成很多測試不良。
實用新型內(nèi)容
為了解決上述背景技術(shù)中提到的問題,本實用新型提供一種二極管芯片檢測裝置。
為了實現(xiàn)上述目的,本實用新型采用了如下技術(shù)方案:
一種二極管芯片檢測裝置,包括工作臺,所述工作臺的上端一側(cè)固定連接有支撐柱,且支撐柱的上端設(shè)有支撐板,所述支撐板的下端安裝有氣缸,所述氣缸通過活塞桿連接有安裝板,且安裝板的外壁一側(cè)安裝有兩個對稱的安裝殼,所述安裝殼的內(nèi)部設(shè)有針腔,所述針腔內(nèi)設(shè)有測試針,所述測試針的上端外壁固定連接有環(huán)形卡塊,所述環(huán)形卡塊的上端均勻環(huán)繞設(shè)有若干個彈簧,且彈簧遠離環(huán)形卡塊的一端與針腔的頂壁固定連接,所述測試針的上端設(shè)有第一引線,所述第一引線的上端連接有第二引線,所述工作臺的上端設(shè)有托板,且托板的上端設(shè)有測試芯片。
優(yōu)選地,所述彈簧的個數(shù)為5-10個。
優(yōu)選地,所述測試針的下端穿過針腔的內(nèi)壁向外延伸,且測試針的延伸端設(shè)有針頭。
優(yōu)選地,所述第一引線為螺旋形結(jié)構(gòu)。
優(yōu)選地,所述安裝殼的內(nèi)壁設(shè)有供第一引線穿過的通孔,且通孔與針腔連通。
優(yōu)選地,所述第二引線的外壁設(shè)有保護膠套,所述保護膠套固定于安裝殼的上端。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實用新型的有益效果是:將測試芯片放置于托板的上端,氣缸實現(xiàn)了安裝板的升降功能,便于對測試針進行測試,由于測試針下降時具有一定的速度,測試針對待測試點產(chǎn)生了部分沖擊力,此時,測試針在針腔內(nèi)向上運動,導(dǎo)致彈簧被壓縮,從而緩沖了針頭與待測試點之間的沖擊力,保護了測試針的針頭和測試芯片,沖擊力消失后,針頭與待測試點能夠完全貼合,可以接通電源,進行測試。本實用新型結(jié)構(gòu)簡單,易操作,有效的檢測二極管芯片的性能,避免測試針的針頭發(fā)生形變,延長測試針的使用壽命,使用時便捷巧妙,適宜廣泛推廣。
附圖說明
圖1為本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為本實用新型A結(jié)構(gòu)放大示意圖。
圖中:工作臺1、支撐柱2、支撐板3、氣缸4、安裝板5、安裝殼6、針腔7、測試針8、環(huán)形卡塊9、彈簧10、第一引線11、第二引線12、通孔13、保護膠套14、托板15、測試芯片16。
具體實施方式
下面將結(jié)合本實用新型實施例中的附圖,對本實用新型實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例,而不是全部的實施例。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





