[實用新型]一種二極管芯片檢測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201721708038.X | 申請日: | 2017-12-11 |
| 公開(公告)號: | CN207542200U | 公開(公告)日: | 2018-06-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳創(chuàng);高萌 | 申請(專利權(quán))人: | 徐州市晨創(chuàng)電子科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 221000 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 上端 測試針 二極管芯片 工作臺 本實用新型 環(huán)形卡塊 檢測裝置 安裝板 安裝殼 支撐板 支撐柱 氣缸 托板 針腔 活塞桿連接 測試芯片 均勻環(huán)繞 上端外壁 使用壽命 延長測試 形變 彈簧 外壁 下端 針頭 對稱 檢測 | ||
1.一種二極管芯片檢測裝置,包括工作臺(1),其特征在于:所述工作臺(1)的上端一側(cè)固定連接有支撐柱(2),且支撐柱(2)的上端設(shè)有支撐板(3),所述支撐板(3)的下端安裝有氣缸(4),所述氣缸(4)通過活塞桿連接有安裝板(5),且安裝板(5)的外壁一側(cè)安裝有兩個對稱的安裝殼(6),所述安裝殼(6)的內(nèi)部設(shè)有針腔(7),所述針腔(7)內(nèi)設(shè)有測試針(8),所述測試針(8)的上端外壁固定連接有環(huán)形卡塊(9),所述環(huán)形卡塊(9)的上端均勻環(huán)繞設(shè)有若干個彈簧(10),且彈簧(10)遠(yuǎn)離環(huán)形卡塊(9)的一端與針腔(7)的頂壁固定連接,所述測試針(8)的上端設(shè)有第一引線(11),所述第一引線(11)的上端連接有第二引線(12),所述工作臺(1)的上端設(shè)有托板(15),且托板(15)的上端設(shè)有測試芯片(16)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種二極管芯片檢測裝置,其特征在于:所述彈簧(10)的個數(shù)為5-10個。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種二極管芯片檢測裝置,其特征在于:所述測試針(8)的下端穿過針腔(7)的內(nèi)壁向外延伸,且測試針(8)的延伸端設(shè)有針頭。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種二極管芯片檢測裝置,其特征在于:所述第一引線(11)為螺旋形結(jié)構(gòu)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種二極管芯片檢測裝置,其特征在于:所述安裝殼(6)的內(nèi)壁設(shè)有供第一引線(11)穿過的通孔(13),且通孔(13)與針腔(7)連通。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種二極管芯片檢測裝置,其特征在于:所述第二引線(12)的外壁設(shè)有保護(hù)膠套(14),所述保護(hù)膠套(14)固定于安裝殼(6)的上端。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





