[實(shí)用新型]一種用于太赫茲時(shí)域光譜測(cè)量的裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201721697935.5
• 申請(qǐng)日: 2017-12-07
• 公開（公告）號(hào): CN207751869U
• 公開（公告）日: 2018-08-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 祁春超;唐莎娜;袁弧
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市華訊方舟太赫茲科技有限公司;華訊方舟科技有限公司
• 主分類號(hào): G01N21/3586
• 分類號(hào): G01N21/3586
• 代理公司: 深圳中一專利商標(biāo)事務(wù)所 44237
• 代理人: 官建紅

本實(shí)用新型涉及太赫茲無損測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種用于太赫茲時(shí)域光譜測(cè)量的裝置，包括安裝架、設(shè)置在安裝架的底部的樣品架、設(shè)置在安裝架上且分別位于樣品架兩側(cè)的兩組反光鏡組、分別設(shè)置在安裝架的兩相對(duì)側(cè)面上且與兩組反光鏡組一一對(duì)應(yīng)的兩個(gè)光電導(dǎo)天線，以及設(shè)置在安裝架的側(cè)面上的紅光校準(zhǔn)儀，其中一反光鏡組開設(shè)有與紅光校準(zhǔn)儀同軸的開孔。本實(shí)用新型通過設(shè)置安裝架、樣品架、反光鏡組、光電導(dǎo)天線和紅光校準(zhǔn)儀，使得裝置處于一個(gè)可視化的操作系統(tǒng)；在裝置中的一個(gè)反射鏡上開設(shè)一個(gè)開孔，使得紅光可以通過小孔徑開孔，反射到各鏡面上，來校準(zhǔn)整個(gè)系統(tǒng)的光路，同時(shí)也可以確定樣品擺放的位置，進(jìn)而解決了光路搭建過程中的盲目性。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型屬于太赫茲無損測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種用于太赫茲時(shí)域光譜測(cè)量的裝置。

背景技術(shù)

太赫茲波是指頻率在0.1Hz到10THz范圍的電磁波輻射，介于微波和紅外之間的波，正好處于宏觀電子學(xué)向微觀電子學(xué)過渡的區(qū)域。太赫茲曾被稱為“太赫茲空隙”，是由于太赫茲波缺乏有效的產(chǎn)生和檢測(cè)方式，使得太赫茲波成為電磁波譜中最后一個(gè)未被全面研究的頻率窗口。太赫茲波技術(shù)具有以下特點(diǎn)：(1)太赫波對(duì)于很多非極性材料有良好的穿透性，如對(duì)陶瓷、塑料、紡織纖維等很多物質(zhì)透射率高。(2)太赫茲光子能量低，頻率為1THz的電磁波的光子能量只有4mev，是X射線的百萬分之一，是一種非常安全的電磁輻射，許多極性大分子振動(dòng)和轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)間的躍遷也正好處于太赫茲頻率范圍。(3)利用太赫茲時(shí)域光譜技術(shù)可以獲得亞皮秒、飛秒時(shí)間分辨率，而且通過取樣測(cè)量技術(shù)，能夠有效地抑制背景輻射噪聲的干擾，信噪比可以達(dá)到1010。(4)太赫茲波波長較長，受物質(zhì)顆粒散射影響很小。

太赫茲時(shí)域光譜技術(shù)是近幾年來最具有代表性也是研究最多的太赫茲技術(shù)，是一種新型、非常有效的相干探測(cè)技術(shù)，具有透視性、安全性、寬帶性、瞬態(tài)性、高分辨率、高性噪比等優(yōu)點(diǎn)。太赫茲時(shí)域光譜系統(tǒng)通過記錄參考和透過樣品或從樣品反射后的太赫茲時(shí)域電場(chǎng)波形，通過傅里葉變換獲得被測(cè)樣品的頻譜信息，通過分析和處理頻域信號(hào)即可獲得樣品的消光系數(shù)、吸收系數(shù)、折射系數(shù)等相關(guān)參數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)物質(zhì)識(shí)別并進(jìn)一步獲得物質(zhì)的一些重要的物理和化學(xué)信息。

目前也有對(duì)太赫茲光譜測(cè)量方式的改進(jìn)方案。如申請(qǐng)?zhí)枮?01110050929.1，發(fā)明名稱為《用于太赫茲光譜測(cè)量的樣品承載裝置及其使用方法》的專利中提出采用聚乙烯制備的樣品盒，聚乙烯對(duì)太赫茲吸收很少，因此可以作為樣品容器，放置固體、液體或氣體樣品。另外，申請(qǐng)?zhí)枮?01220576555.7，發(fā)明名稱為《一種用于太赫茲光譜測(cè)試的樣品承載裝置》的專利中提出了一套包含彈簧片的夾板系統(tǒng)，能夠方便地安放片狀樣品，能夠保證光路垂直投射到樣品表面上。

雖然上述提及的專利中涉及太赫茲測(cè)試樣品裝置，但是這些專利中提出的方案均不能解決太赫茲測(cè)試中光路搭建的盲目性，和對(duì)光電導(dǎo)天線的觸碰造成的損害，以及對(duì)不同樣品隨時(shí)切換和擺放的問題。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型的目的在于提供一種用于太赫茲時(shí)域光譜測(cè)量的裝置，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中的太赫茲測(cè)試裝置的光路搭建盲目的技術(shù)問題。

本實(shí)用新型是這樣實(shí)現(xiàn)的，一種用于太赫茲時(shí)域光譜測(cè)量的裝置，包括安裝架、設(shè)置在所述安裝架的底部的樣品架、設(shè)置在所述安裝架上且分別位于所述樣品架兩側(cè)的兩組反光鏡組、分別設(shè)置在所述安裝架的兩相對(duì)側(cè)面上且與兩組反光鏡組一一對(duì)應(yīng)的兩個(gè)光電導(dǎo)天線，以及設(shè)置在所述安裝架的側(cè)面上的紅光校準(zhǔn)儀，其中一所述反光鏡組開設(shè)有與所述紅光校準(zhǔn)儀同軸的開孔。

進(jìn)一步地，所述安裝架包括所述底部、分別垂直連接在所述底部兩端的第一側(cè)部和第二側(cè)部、與所述底部相對(duì)設(shè)置且與所述第一側(cè)部垂直連接的第一頂部，以及與所述底部相對(duì)設(shè)置且與所述第二側(cè)部垂直連接的第二頂部，所述第一側(cè)部靠近所述第一頂部的一端設(shè)置有第一光電導(dǎo)天線，所述第二側(cè)部靠近所述第二頂部的一端設(shè)置有第二光電導(dǎo)天線。

進(jìn)一步地，每一組所述反光鏡組均包括設(shè)置在所述第一頂部或第二頂部上的上反光鏡，以及設(shè)置在所述底部上的下反光鏡，所述上反光鏡與所述下反光鏡相對(duì)設(shè)置。