[實用新型]一種用于太赫茲時域光譜測量的裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201721697935.5
• 申請日: 2017-12-07
• 公開（公告）號: CN207751869U
• 公開（公告）日: 2018-08-21
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 祁春超;唐莎娜;袁弧
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市華訊方舟太赫茲科技有限公司;華訊方舟科技有限公司
• 主分類號: G01N21/3586
• 分類號: G01N21/3586
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務(wù)所 44237
• 代理人: 官建紅

1.一種用于太赫茲時域光譜測量的裝置，其特征在于，包括安裝架、設(shè)置在所述安裝架的底部的樣品架、設(shè)置在所述安裝架上且分別位于所述樣品架兩側(cè)的兩組反光鏡組、分別設(shè)置在所述安裝架的兩相對側(cè)面上且與兩組反光鏡組一一對應(yīng)的兩個光電導(dǎo)天線，以及設(shè)置在所述安裝架的側(cè)面上的紅光校準儀，其中一所述反光鏡組開設(shè)有與所述紅光校準儀同軸的開孔。

2.如權(quán)利要求1所述的用于太赫茲時域光譜測量的裝置，其特征在于，所述安裝架包括所述底部、分別垂直連接在所述底部兩端的第一側(cè)部和第二側(cè)部、與所述底部相對設(shè)置且與所述第一側(cè)部垂直連接的第一頂部，以及與所述底部相對設(shè)置且與所述第二側(cè)部垂直連接的第二頂部，所述第一側(cè)部靠近所述第一頂部的一端設(shè)置有第一光電導(dǎo)天線，所述第二側(cè)部靠近所述第二頂部的一端設(shè)置有第二光電導(dǎo)天線。

3.如權(quán)利要求2所述的用于太赫茲時域光譜測量的裝置，其特征在于，每一組所述反光鏡組均包括設(shè)置在所述第一頂部或第二頂部上的上反光鏡，以及設(shè)置在所述底部上的下反光鏡，所述上反光鏡與所述下反光鏡相對設(shè)置。

4.如權(quán)利要求3所述的用于太赫茲時域光譜測量的裝置，其特征在于，所述上反光鏡與所述下反光鏡均為離軸拋物面反射鏡。

5.如權(quán)利要求3所述的用于太赫茲時域光譜測量的裝置，其特征在于，所述上反光鏡的鏡面與所述第一光電導(dǎo)天線或第二光電導(dǎo)天線相對設(shè)置，所述下反光鏡的鏡面與所述樣品架相對設(shè)置。

6.如權(quán)利要求1至5任一項所述的用于太赫茲時域光譜測量的裝置，其特征在于，所述樣品架包括固定設(shè)置在所述安裝架的底部的底座，以及與所述底座固定連接且豎直設(shè)置的薄板，所述薄板用于固定樣品。

7.如權(quán)利要求6所述的用于太赫茲時域光譜測量的裝置，其特征在于，所述薄板的兩相對表面均設(shè)置有用于固定所述樣品的圓環(huán)形磁鐵。

8.如權(quán)利要求6所述的用于太赫茲時域光譜測量的裝置，其特征在于，所述薄板為聚乙烯薄板。

9.如權(quán)利要求1至5任一項所述的用于太赫茲時域光譜測量的裝置，其特征在于，所述光電導(dǎo)天線通過可調(diào)節(jié)支座固定在所述安裝架上。

10.如權(quán)利要求1至5任一項所述的用于太赫茲時域光譜測量的裝置，其特征在于，所述紅光校準儀通過可調(diào)節(jié)支座固定在所述安裝架上。