[實用新型]一種抗干擾的測距裝置

有效

• 申請號: 201721649624.1
• 申請日: 2017-11-30
• 公開（公告）號: CN207601310U
• 公開（公告）日: 2018-07-10
• 發明（設計）人: 馮強;盧鎖;李旭興;沃倫;張瑩;劉浩;張慶舜;鄭凱;疏達;李遠
• 申請（專利權）人: 北醒（北京）光子科技有限公司
• 主分類號: G01S17/08
• 分類號: G01S17/08;G01S7/495
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型公開了一種抗干擾的裝置，包括檢測模塊，用于檢測第一光測距裝置的光探測過程是否受到第二光測距裝置的干擾；延遲模塊，用于當檢測到第一光測距裝置受到第二光測距裝置的干擾時，第一光測距裝置將光探測過程延遲預設時間；數據處理模塊，用于當檢測到第一光測距裝置的光探測過程沒有受到第二光測距裝置的干擾時，第一光測距裝置獲取光探測過程所采集的探測數據，進行數據處理過程獲得測距結果。可見，第一光測距裝置檢測到光探測過程受到其它光測距裝置的干擾后，將光探測過程延遲預設時間，使得第一光測距裝置的光探測過程，不會受到第二光測距裝置的光探測過程的影響，確保第一光測距裝置在光探測過程中所采集的探測數據的準確性。

技術領域

本實用新型涉及紅外測距技術領域，特別是涉及一種抗干擾的測距裝置。

背景技術

由于利用光信號傳輸的測距方法具有探測速度快，探測精度高等優點，成為目前最常用的測距方式之一。以激光雷達測距技術為例，采用激光雷達測距技術進行測距時，包括兩個工作過程，第一個工作過程是光探測過程，在光探測過程中，先由激光雷達中的激光器發射探測光，該探測光遇到障礙物被反射，再由激光雷達中的光電探測器對被反射的探測光進行接收，并且，對接收到的光信號進行光電轉換；第二個工作過程是數據處理過程，由激光雷達中的處理器對光電探測器輸出的電信號進行處理，從而獲得激光雷達與障礙物的距離。

在很多應用場景下，存在多臺光測距裝置同時工作的情況。但是，多臺光測距裝置同時工作時，不同的光測距裝置的光源發射的探測光會相互干擾，降低光測距裝置測距的準確性。

實用新型內容

本實用新型實施例解決的技術問題之一在于提供一種抗干擾的測距方法及裝置，從而能夠提高光測距裝置的準確性。

為此，第一方面，本申請實施例提供了一種抗干擾的測距方法，應用于測距系統中的任意一個光測距裝置，所述方法包括：

第一光測距裝置檢測光探測過程是否受到所述測距系統中第二光測距裝置的干擾；

當檢測到所述第一光測距裝置的所述光探測過程受到所述測距系統中第二光測距裝置的干擾時，所述第一光測距裝置將所述光探測過程延遲預設時間；

當檢測到所述第一光測距裝置的所述光探測過程沒有受到所述測距系統中第二光測距裝置的干擾時，所述第一光測距裝置獲取所述光探測過程所采集的探測數據，進行數據處理過程獲得測距結果。

在一些可能的實施方式中，所述第一光測距裝置檢測光探測過程是否受到所述測距系統中第二光測距裝置的干擾包括：

所述第一光測距裝置采集環境圖像，所述環境圖像用于表征所述第一光測距裝置所處的環境信息；

所述第一光測距裝置根據所述環境圖像，檢測所述光探測過程是否受到所述測距系統中所述第二光測距裝置的干擾。

在一些可能的實施方式中，所述測距系統中各個光測距裝置的光探測過程的時間長度都相同，所述環境圖像包括第一環境圖像和第二環境圖像，所述第一環境圖像用于表征所述第一光測距裝置所處的第一時刻的環境信息，所述第一時刻在所述光探測過程前，所述第二環境圖像用于表征所述第一光測距裝置所處的第二時刻的環境信息，所述第二時刻在所述光探測過程后，所述第一光測距裝置根據所述環境圖像，檢測光探測過程是否受到所述測距系統中第二光測距裝置的干擾包括：

所述第一光測距裝置根據所述第一環境圖像和所述第二環境圖像獲得差值圖像，所述差值圖像用于表征所述第一環境圖像和所述第二環境圖像灰度值的差異；

所述第一光測距裝置獲得所述差值圖像中各個像素點的灰度值的絕對值的和；

當所述灰度值的絕對值的和大于所述預設的第一閾值時，所述第一光測距裝置確定所述光探測過程受到所述測距系統中所述第二光測距裝置的干擾。