[實用新型]一種PCIE沖擊測試卡

有效

• 申請號: 201721604435.2
• 申請日: 2017-11-27
• 公開（公告）號: CN207424192U
• 公開（公告）日: 2018-05-29
• 發明（設計）人: 吳鑫
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01M7/08
• 代理公司: 濟南信達專利事務所有限公司 37100
• 代理人: 馮春連

本實用新型提供一種PCIE沖擊測試卡，屬于PCIE測試卡技術領域。為解決現有PCIE外接卡連接外部PCIE接口插槽進行沖擊試驗時存在問題，本測試卡包括PCB板，PCB板的長度是PCIE外接卡長度的倍數，PCB板的寬度是PCIE外接卡寬度的倍數；PCB板具有金手指，PCB板具有指示金手指連接外部PCIE接口插槽狀態的指示燈、為指示燈供電的電池模組、控制指示燈啟閉的開關；PCB板表面布置有調節PCB板重量的多個配重鐵片，通過在尺寸和重量上模擬現有PCIE外接卡對外部PCIE接口插槽進行測試，一方面準確獲知外部PCIE接口插槽是否可用，另一方面減少可靠性測試過程中PCIE外接卡的損壞，降低研發測試成本。本實用新型要用于服務器不開機類可靠性破壞性測試，能實時模擬監控PCIE外接卡在測試過程中的狀況。

技術領域

本實用新型涉及PCIE測試卡，具體地說是一種PCIE沖擊測試卡。

背景技術

在當前計算機系統中，主板一般都會包括3-8個PCIE接口插槽或PCIE接口轉接卡也會有PCIE插槽，生產測試每種主板時都需要測試這些插槽功能是否完善，以確保主板為好板，在之前的主板生產過程中，PCIE插槽測試一般使用各種網卡、HBA、SAS卡、顯卡等，使用的這些卡成本很高，并且每種主板使用的PCIE測試卡混雜，測試設備管控麻煩，各主板共用測試卡困難，造成測試設備成本高昂，使用率低。

基于此，為更好的測試主板上PCIE接口插槽插入PCIE外接卡時的連接穩定性，以及PCIE外接卡插入PCIE接口插槽的抗沖擊性能，設計一種PCIE沖擊測試卡，以降低試驗成本。

發明內容

本實用新型的技術任務是解決現有技術的不足，提供一種PCIE沖擊測試卡。

本實用新型的技術方案是按以下方式實現的：

一種PCIE沖擊測試卡，其結構包括PCB板，PCB板的長度是PCIE外接卡長度的倍數，PCB板的寬度是PCIE外接卡寬度的倍數； PCB板具有金手指，PCB板具有指示金手指連接外部PCIE接口插槽狀態的指示燈、為指示燈供電的電池模組、控制指示燈啟閉的開關；PCB板表面布置有調節PCB板重量的多個配重鐵片。

所涉及金手指為PCIE X1、PCIE X2、PCIE X4、PCIE X8、PCIE X16中的至少一種。

所涉及指示燈的個數等于金手指的個數；指示燈在PCB板正常通電、PCB板連接擴充卡、金手指與外部PCIE接口插槽接觸不良、金手指移位后又復位時分別顯示不同的顏色。

所涉及PCB板為半高半寬PCIE外接卡、全高半寬PCIE外接卡、半高全寬PCIE外接卡或全高全寬PCIE外接卡中的一種。

所涉及PCB板表面開口，PCB板表面垂直連接有螺紋柱，上述配重鐵片的中心開設與所述螺紋柱相配合的螺紋孔，配重鐵片通過其中心的螺紋孔連接于螺紋柱。

本實用新型的一種PCIE沖擊測試卡與現有技術相比所產生的有益效果是：

1）本實用新型的測試卡可以模擬現有PCIE外接卡，觀察指示燈的顯示狀態，通過沖擊測試卡對外部PCIE接口插槽進行測試，一方面可以準確獲知外部PCIE接口插槽是否可用，另一方面可以減少可靠性測試過程中PCIE外接卡的損壞，降低研發測試成本；

2）本實用新型的尺寸和重量可以根據不同主板支持的外部PCIE接口插槽來進行調整，真正達到尺寸、重量以及功能與現有PCIE外接卡一致，主要用于服務器不開機類可靠性破壞性測試，如沖擊、振動、碰撞、跌落測試等，能實時模擬監控PCIE外接卡在測試過程中的狀況，避免現有PCIE外接卡的損壞，節約成本。

附圖說明

附圖1是本實用新型的結構示意圖。

附圖中的標記分別表示：