[實(shí)用新型]一種PCIE沖擊測(cè)試卡

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201721604435.2
• 申請(qǐng)日: 2017-11-27
• 公開（公告）號(hào): CN207424192U
• 公開（公告）日: 2018-05-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳鑫
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 鄭州云海信息技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28;G01M7/08
• 代理公司: 濟(jì)南信達(dá)專利事務(wù)所有限公司 37100
• 代理人: 馮春連

1.一種PCIE沖擊測(cè)試卡，其結(jié)構(gòu)包括PCB板，其特征在于，所述PCB板的長度是PCIE外接卡長度的倍數(shù)，PCB板的寬度是PCIE外接卡寬度的倍數(shù)；所述PCB板具有金手指，PCB板具有指示金手指連接外部PCIE接口插槽狀態(tài)的指示燈、為指示燈供電的電池模組、控制指示燈啟閉的開關(guān)；所述PCB板表面布置有調(diào)節(jié)PCB板重量的多個(gè)配重鐵片。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種PCIE沖擊測(cè)試卡，其特征在于，所述金手指為PCIE X1、PCIE X2、PCIE X4、PCIE X8、PCIE X16中的至少一種。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種PCIE沖擊測(cè)試卡，其特征在于，所述指示燈的個(gè)數(shù)等于金手指的個(gè)數(shù)；指示燈在PCB板正常通電、PCB板連接擴(kuò)充卡、金手指與外部PCIE接口插槽接觸不良、金手指移位后又復(fù)位時(shí)分別顯示不同的顏色。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種PCIE沖擊測(cè)試卡，其特征在于，所述PCB板為半高半寬PCIE外接卡、全高半寬PCIE外接卡、半高全寬PCIE外接卡或全高全寬PCIE外接卡中的一種。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種PCIE沖擊測(cè)試卡，其特征在于，所述PCB板表面開口，PCB板表面垂直連接有螺紋柱，上述配重鐵片的中心開設(shè)與所述螺紋柱相配合的螺紋孔，配重鐵片通過其中心的螺紋孔連接于螺紋柱。