[實(shí)用新型]一種可對(duì)晶體引腳剪切高度自動(dòng)篩選的測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201721573332.4
• 申請(qǐng)日: 2017-11-22
• 公開（公告）號(hào): CN207746135U
• 公開（公告）日: 2018-08-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉銘
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 珠海鑫匯電子科技有限公司
• 主分類號(hào): B07C5/04
• 分類號(hào): B07C5/04;B07C5/02;B07C5/36
• 代理公司: 廣州容大專利代理事務(wù)所(普通合伙) 44326
• 代理人: 劉新年

本實(shí)用新型涉及一種可對(duì)晶體引腳剪切高度自動(dòng)篩選的測(cè)試裝置，包括有用于自動(dòng)輸出待測(cè)晶體的震動(dòng)盤和用于對(duì)晶體進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試機(jī)；所述震動(dòng)盤的輸出端設(shè)有傾斜向下輸送滑道，所述測(cè)試機(jī)的檢測(cè)模塊設(shè)于輸送滑道的下端，所述輸送滑道的上端設(shè)有篩選板，所述篩選板的下端橫跨輸送滑道、且正對(duì)輸送滑道的位置設(shè)有可供給符合引腳高度的晶體通過(guò)的高度限定缺口。這樣，通過(guò)該測(cè)試裝置即可在自動(dòng)完成晶體測(cè)試的同時(shí)，自動(dòng)化完成引腳剪切高度的篩選，簡(jiǎn)化了工序，降低勞動(dòng)強(qiáng)度，避免漏查和誤判，產(chǎn)品質(zhì)量更佳，測(cè)試和篩選效率高，縮短生產(chǎn)周期，降低生產(chǎn)成本，增強(qiáng)產(chǎn)品的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力，而且結(jié)構(gòu)非常簡(jiǎn)單，對(duì)現(xiàn)有升級(jí)改造極為容易，有利于普及推廣應(yīng)用。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型屬于晶體加工設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種可對(duì)晶體引腳剪切高度自動(dòng)篩選的測(cè)試裝置。

背景技術(shù)

目前，石英晶體的生產(chǎn)加工中包括有對(duì)晶體剪切引腳的篩選和檢測(cè)兩道獨(dú)立的工序，而且現(xiàn)有的工廠都是采用大量人員來(lái)人工完成對(duì)晶體剪切引腳的篩選，造成生產(chǎn)效率極低，生產(chǎn)成本高，也使產(chǎn)品生產(chǎn)周期大大延長(zhǎng)，同時(shí)采用人工操作勞動(dòng)強(qiáng)度極高，容易出現(xiàn)人為漏查和誤判的情況，也使產(chǎn)品質(zhì)量降低。

實(shí)用新型內(nèi)容

為解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述問(wèn)題，本實(shí)用新型提供了一種可在自動(dòng)完成晶體測(cè)試的同時(shí)，自動(dòng)化完成引腳剪切高度的篩選，簡(jiǎn)化加工工序，降低勞動(dòng)強(qiáng)度，避免了人為漏查和誤判的問(wèn)題，產(chǎn)品質(zhì)量更佳，測(cè)試和篩選效率高，縮短生產(chǎn)周期，降低生產(chǎn)成本，且結(jié)構(gòu)非常簡(jiǎn)單，對(duì)現(xiàn)有升級(jí)改造極為容易的測(cè)試機(jī)。

為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案：

一種可對(duì)晶體引腳剪切高度自動(dòng)篩選的測(cè)試裝置，包括有用于自動(dòng)輸出待測(cè)晶體的震動(dòng)盤和用于對(duì)晶體進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試機(jī)；其中，所述震動(dòng)盤的輸出端設(shè)有傾斜向下輸送滑道，所述測(cè)試機(jī)的檢測(cè)模塊設(shè)于輸送滑道的下端，所述輸送滑道的上端設(shè)有篩選板，所述篩選板的下端橫跨輸送滑道、且正對(duì)輸送滑道的位置設(shè)有可供給符合引腳高度的晶體通過(guò)的高度限定缺口。

進(jìn)一步地，所述篩選板的下端左右兩側(cè)設(shè)有安裝腳，所述篩選板通過(guò)穿過(guò)安裝腳的螺絲固定在輸送滑道上。

進(jìn)一步地，所述篩選板上設(shè)有可上下移動(dòng)、調(diào)節(jié)高度限定缺口高度的高度調(diào)節(jié)片。

進(jìn)一步地，所述篩選板上設(shè)有與其表面有間隙的橫向夾緊帶，所述夾緊帶位于高度限定缺口的上方、與篩選板的表面之間形成調(diào)節(jié)插孔，所述高度調(diào)節(jié)片可上下移動(dòng)、調(diào)節(jié)高度限定缺口高度地插入在調(diào)節(jié)插孔內(nèi)、且下端與高度限定缺口部分重疊。

進(jìn)一步地，所述夾緊帶通過(guò)螺絲固定在篩選板的表面，或者和高度限定缺口與篩選板一體成型。

本實(shí)用新型的有益效果是：

本實(shí)用新型通過(guò)上述技術(shù)方案，即可在自動(dòng)完成晶體測(cè)試的同時(shí)，自動(dòng)化完成引腳剪切高度的篩選，簡(jiǎn)化了晶體的生產(chǎn)加工工序，降低勞動(dòng)強(qiáng)度，避免了人為漏查和誤判的問(wèn)題，產(chǎn)品質(zhì)量更佳，同時(shí)大大提高測(cè)試和篩選效率，縮短生產(chǎn)周期，降低生產(chǎn)成本，增強(qiáng)產(chǎn)品的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力，使產(chǎn)品更易獲得商業(yè)成功，而且結(jié)構(gòu)非常簡(jiǎn)單，對(duì)現(xiàn)有升級(jí)改造極為容易，有利于普及推廣應(yīng)用。

另外，篩選板的高度限定缺口高度可根據(jù)不同規(guī)格的晶體的引腳高度進(jìn)行相應(yīng)調(diào)節(jié)，使用靈活，操作方便，通用性強(qiáng)，而且結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、巧妙，生產(chǎn)加工容易。

附圖說(shuō)明

圖1是本實(shí)用新型所述一種可對(duì)晶體引腳剪切高度自動(dòng)篩選的測(cè)試裝置實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是圖1中A部的放大結(jié)構(gòu)示意圖；

圖中：1—震動(dòng)盤，2—測(cè)試機(jī)，21—檢測(cè)模塊，3—輸送滑道，4—篩選板，41-高度限定缺口，42-安裝腳，43—高度調(diào)節(jié)片，44—夾緊帶，45—調(diào)節(jié)插孔。

具體實(shí)施方式