[實用新型]一種可對晶體引腳剪切高度自動篩選的測試裝置

有效

• 申請號: 201721573332.4
• 申請日: 2017-11-22
• 公開（公告）號: CN207746135U
• 公開（公告）日: 2018-08-21
• 發明（設計）人: 劉銘
• 申請（專利權）人: 珠海鑫匯電子科技有限公司
• 主分類號: B07C5/04
• 分類號: B07C5/04;B07C5/02;B07C5/36
• 代理公司: 廣州容大專利代理事務所(普通合伙) 44326
• 代理人: 劉新年

1.一種可對晶體引腳剪切高度自動篩選的測試裝置，其特征在于：包括有用于自動輸出待測晶體的震動盤(1)和用于對晶體進行測試的測試機(2)；其中，所述震動盤(1)的輸出端設有傾斜向下輸送滑道(3)，所述測試機(2)的檢測模塊(21)設于輸送滑道(3)的下端，所述輸送滑道(3)的上端設有篩選板(4)，所述篩選板(4)的下端橫跨輸送滑道(3)、且正對輸送滑道(3)的位置設有可供給符合引腳高度的晶體通過的高度限定缺口(41)。

2.根據權利要求1所述的可對晶體引腳剪切高度自動篩選的測試裝置，其特征在于：所述篩選板(4)的下端左右兩側設有安裝腳(42)，所述篩選板(4)通過穿過安裝腳(42)的螺絲固定在輸送滑道(3)上。

3.根據權利要求1或2所述的可對晶體引腳剪切高度自動篩選的測試裝置，其特征在于：所述篩選板(4)上設有可上下移動、調節高度限定缺口(41)高度的高度調節片(43)。

4.根據權利要求3所述的可對晶體引腳剪切高度自動篩選的測試裝置，其特征在于：所述篩選板(4)上設有與其表面有間隙的橫向夾緊帶(44)，所述夾緊帶(44)位于高度限定缺口(41)的上方、與篩選板(4)的表面之間形成調節插孔(45)，所述高度調節片(43)可上下移動、調節高度限定缺口(41)高度地插入在調節插孔(45)內、且下端與高度限定缺口(41)部分重疊。

5.根據權利要求4所述的可對晶體引腳剪切高度自動篩選的測試裝置，其特征在于：所述夾緊帶(44)通過螺絲固定在篩選板(4)的表面，或者和高度限定缺口(41)與篩選板(4)一體成型。