[實用新型]金屬內(nèi)連線的互連結(jié)構(gòu)及半導(dǎo)體器件有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201721487820.3 | 申請日: | 2017-11-09 |
| 公開(公告)號: | CN207409478U | 公開(公告)日: | 2018-05-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 謝明燈 | 申請(專利權(quán))人: | 睿力集成電路有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/528 | 分類號: | H01L23/528;H01L23/538;H01L21/768 |
| 代理公司: | 上海思微知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 智云 |
| 地址: | 230000 安徽省合肥市*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 互連結(jié)構(gòu) 半導(dǎo)體器件 金屬內(nèi)連線 傳導(dǎo) 填充介質(zhì)材料 本實用新型 低介電常數(shù) 多層互連 寄生電容 互連層 有效地 支撐蓋 襯底 堆疊 減小 分隔 | ||
本實用新型提供了一種金屬內(nèi)連線的互連結(jié)構(gòu)及半導(dǎo)體器件。利用支撐蓋層,實現(xiàn)多層互連層能夠依次堆疊在襯底上而構(gòu)成互連結(jié)構(gòu),并且在每一互連層中的多個傳導(dǎo)部中,相鄰的傳導(dǎo)部之間沒有填充介質(zhì)材料,而是利用具備較低介電常數(shù)的空氣相互分隔,從而有效地減小了互連結(jié)構(gòu)中的寄生電容,進(jìn)一步改善了互連結(jié)構(gòu)RC延遲的問題。
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種金屬內(nèi)連線的互連結(jié)構(gòu)及一種半導(dǎo)體器件。
背景技術(shù)
隨著半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)進(jìn)入高性能與多功能的集成電路新時代,集成電路內(nèi)半導(dǎo)體元件的密度會隨之增加,從而使半導(dǎo)體元件尺寸之間的間距會隨之縮小,進(jìn)而會使半導(dǎo)體元件中的用于傳導(dǎo)電信號的傳導(dǎo)部之間的距離也相應(yīng)的縮減,這將直接導(dǎo)致任意兩相鄰的傳導(dǎo)部之間所產(chǎn)生的寄生電容增加。尤其是,隨著半導(dǎo)體尺寸的不斷縮減,相鄰傳導(dǎo)部之間所產(chǎn)生的寄生電容以及由寄生電容帶來的干擾越來越明顯,例如由于寄生電容的存在會導(dǎo)致由傳導(dǎo)部構(gòu)成的金屬內(nèi)連線的互連結(jié)構(gòu)中電容耦合上升,從而增加電力消耗并提高電阻-電容(RC)時間常數(shù)。
為解決上述問題,業(yè)界開始采用低介電常數(shù)(Low-K)的材料作為傳導(dǎo)部之間的填充材料,但還是不能滿足金屬內(nèi)連線的互連結(jié)構(gòu)中對填充材料的介電常數(shù)的要求,從而在一定程度上限制了半導(dǎo)體集成電路性能。
可見,如何進(jìn)一步降低傳導(dǎo)部之間的介電常數(shù),以減小金屬內(nèi)連線的互連結(jié)構(gòu)中的寄生電容,對于進(jìn)一步提升半導(dǎo)體器件電路的性能至關(guān)重要。
實用新型內(nèi)容
本實用新型的目的在于提供一種金屬內(nèi)連線的互連結(jié)構(gòu),以解決現(xiàn)有的互連結(jié)構(gòu)中傳導(dǎo)部之間的填充材料的介電常數(shù)較高,而存在較大的寄生電容的問題。
為解決上述技術(shù)問題,本實用新型提供一種背金屬內(nèi)連線的互連結(jié)構(gòu),包括:
一襯底;
多層互連層,依次堆疊在所述襯底上,所述互連層包括多個傳導(dǎo)部,其中,相鄰的所述傳導(dǎo)部共同界定出一空氣間隙,所述空氣間隙位于相鄰的所述傳導(dǎo)部之間,并使所述傳導(dǎo)部具有暴露在所述空氣間隙中的非傳導(dǎo)側(cè)壁;以及,
至少一層支撐蓋層,形成在相鄰的所述互連層之間,所述支撐蓋層貼附于其下方的所述互連層中的所述傳導(dǎo)部的頂部并且并且遮蓋其下方在相鄰的所述傳導(dǎo)部之間的所述空氣間隙的上方,以及所述支撐蓋層支撐其上方的所述互連層中的所述傳導(dǎo)部。
可選的,所述傳導(dǎo)部包括一導(dǎo)電層和一披覆膜,所述披覆膜覆蓋所述導(dǎo)電層的頂部和側(cè)壁以及在所述傳導(dǎo)部之間的所述空氣間隙的底部,并且所述披覆膜中位于所述導(dǎo)電層一側(cè)的部分暴露在所述空氣間隙中。
可選的,所述披覆膜在所述導(dǎo)電層的頂部周邊形成有橫向增厚的懸空部,以縮小所述空氣間隙上方被所述支撐蓋層遮蓋的開口尺寸。
可選的,所述傳導(dǎo)部還包括一粘附層,所述粘附層位于所述導(dǎo)電層和所述披覆膜之間而覆蓋所述導(dǎo)電層的頂部和側(cè)壁,所述披覆膜覆蓋所述粘附層的表面。
可選的,所述粘附層包括一氮氧化硅層。
可選的,所述導(dǎo)電層包括一金屬層和分別位于所述金屬層的頂部和底部的金屬擴(kuò)散阻擋層。
可選的,所述空氣間隙在一線路截斷方向的寬度等于小于所述傳導(dǎo)部在同一線路截斷方向的寬度。
可選的,在每一所述互連層中,多個所述傳導(dǎo)部的頂表面之間的高度位置的差值小于等于所述支撐蓋層的厚度值。
基于以上所述的金屬內(nèi)連線的互連結(jié)構(gòu),本實用新型還提供了一種半導(dǎo)體器件,所述半導(dǎo)體器件包括如上所述的金屬內(nèi)連線的互連結(jié)構(gòu)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于睿力集成電路有限公司,未經(jīng)睿力集成電路有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201721487820.3/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種功率器件和集成電路板
- 下一篇:一種集成電路芯片的保護(hù)圈





