[實用新型]精密樣品檢測升降臺

有效

• 申請號: 201721366557.2
• 申請日: 2017-10-23
• 公開（公告）號: CN207866692U
• 公開（公告）日: 2018-09-14
• 發明（設計）人: 曾維俊;雷恒波;孫海旋;王駿;王弼陡;劉良寶;劉群
• 申請（專利權）人: 中國科學院蘇州生物醫學工程技術研究所;中國科學技術大學
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;B25H1/16
• 代理公司: 北京遠大卓悅知識產權代理事務所(普通合伙) 11369
• 代理人: 韓飛

1.一種精密樣品檢測升降臺，其特征在于，包括：升降臺基座、插設在所述升降臺基座內部的圓柱形空腔內的導柱、套設在所述導柱上部的外周且與所述升降臺基座的上法蘭連接的直線軸承、設置于所述直線軸承側部的限位組件、設置于所述直線軸承和限位組件之間的觸發組件、固定于所述導柱上端面上的載物臺、設置于所述導柱內部的滾珠絲桿副、設置在所述升降臺基座底部用于與所述滾珠絲桿副的絲桿軸的下部配合的軸承組件、連接于所述升降臺基座底端的套筒、連接于所述套筒底端的電機座、設置于所述電機座底端的伺服電機、設置于所述電機座上端的諧波減速機、與所述諧波減速機的輸出端連接的法蘭軸及柔性連接所述絲桿軸底端與所述法蘭軸上端的聯軸器。

2.根據權利要求1所述的精密樣品檢測升降臺，其特征在于，所述升降臺基座的下端面上開設有供所述絲桿軸穿出的中心孔，所述升降臺基座下部設置有用于與外部安裝面固定連接的下法蘭。

3.根據權利要求2所述的精密樣品檢測升降臺，其特征在于，所述軸承組件包括配合設置在所述中心孔內且套設在所述絲桿軸下端的外周上的軸承座及由上至下依次設置在所述絲桿軸與軸承座之間的第一角接觸球軸承、隔圈、第二角接觸球軸承和端蓋；所述軸承座內還設置有軸套。

4.根據權利要求3所述的精密樣品檢測升降臺，其特征在于，所述軸承座的上端及端蓋的中部均開設有供所述絲桿軸穿出的開孔，所述開孔內壁上設置有開槽，所述開槽內設置有密封圈。

5.根據權利要求4所述的精密樣品檢測升降臺，其特征在于，所述導柱為空心軸結構，所述導柱內部固接有限位套，所述絲桿軸插設在所述導柱內，所述導柱下端的內壁上固接有與所述絲桿軸配合的螺母。

6.根據權利要求5所述的精密樣品檢測升降臺，其特征在于，所述絲桿軸的頂端與所述限位套銷連接，所述絲桿軸的下端穿出所述升降臺基座的下端面上的中心孔，與設置在所述中心孔內的所述第一角接觸球軸承和第二角接觸球軸承內孔配合。

7.根據權利要求1所述的精密樣品檢測升降臺，其特征在于，所述導柱側部開設有矩形長槽，所述升降臺基座側部開設有銷孔，所述銷孔內設置有用于穿過所述銷孔以配合插入到所述矩形長槽內的銷釘。

8.根據權利要求1所述的精密樣品檢測升降臺，其特征在于，所述限位組件包括底部與所述上法蘭側部固接的限位支架、設置于所述限位支架下端內側的光電開關、第一限位橡膠套、第一微動作開關及設置于所述限位支架上端內側的第二限位橡膠套、第二微動作開關，所述第一微動作開關和第二微動作開關上均設置有圓柱形的觸發頭。

9.根據權利要求8所述的精密樣品檢測升降臺，其特征在于，所述觸發組件包括頂端與所述導柱連接的動作頭、設置于所述動作頭底端側部的凸塊及連接于所述凸塊上的觸發擋片；所述凸塊包括一上下對稱的弧形側面，所述弧形側面處于所述擋片的對側，所述凸塊的弧形側面用于與所述第一微動作開關和第二微動作開關上的觸發頭配合接觸。

10.根據權利要求9所述的精密樣品檢測升降臺，其特征在于，所述光電開關上設置有用于與所述擋片配合的凹槽。