[實(shí)用新型]一種用于三星芯片測試板自動(dòng)檢測修復(fù)平臺(tái)抓取機(jī)構(gòu)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201721360939.4
• 申請(qǐng)日: 2017-10-22
• 公開（公告）號(hào): CN207361316U
• 公開（公告）日: 2018-05-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊曉華;張坤;吳歡歡;史先映
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘇州英多液晶技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): B65G47/90
• 分類號(hào): B65G47/90
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實(shí)用新型涉及一種用于三星芯片測試板自動(dòng)檢測修復(fù)平臺(tái)抓取機(jī)構(gòu)，主體鈑金一側(cè)設(shè)有輸入料倉，輸入料倉對(duì)應(yīng)的所述主體鈑金內(nèi)腔底部設(shè)有旋轉(zhuǎn)平臺(tái)，旋轉(zhuǎn)平臺(tái)上設(shè)有與抓取模組相配合設(shè)置的絲桿與導(dǎo)向柱，且導(dǎo)向柱設(shè)為距離所述輸入料倉較近的一側(cè)，旋轉(zhuǎn)平臺(tái)與所述輸入料倉對(duì)應(yīng)的一側(cè)設(shè)有收集料倉，抓取模組一側(cè)設(shè)有測試機(jī)，收集料倉一側(cè)設(shè)有機(jī)械手，機(jī)械手一側(cè)分別設(shè)有完好產(chǎn)品與夾具臺(tái)，實(shí)現(xiàn)了將檢測與更換集成在一套設(shè)備中的目的，節(jié)省設(shè)備的空間，同時(shí)實(shí)現(xiàn)完全自動(dòng)化上下料檢測與更換，去除人工，避免了人員在檢測標(biāo)注過程中出現(xiàn)標(biāo)注錯(cuò)誤的情況，產(chǎn)品進(jìn)行更換時(shí)完全通過機(jī)械手自動(dòng)更換，夾具臺(tái)可提供不同產(chǎn)品更換時(shí)所需要的更換夾具。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及一種用于三星芯片測試板自動(dòng)檢測修復(fù)平臺(tái)抓取機(jī)構(gòu)，屬于測試板技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)

常規(guī)技術(shù)情況下，手動(dòng)取板將測試板放入測試設(shè)備，對(duì)損壞點(diǎn)進(jìn)行標(biāo)記測試后手動(dòng)取出。將測試板通過治具將損壞點(diǎn)更換，常規(guī)技術(shù)下存在著許多缺點(diǎn)與不足，常規(guī)技術(shù)中存在的技術(shù)問題有幾點(diǎn)，①全程需要人員進(jìn)行操作，②更換時(shí)因空間位置原因，治具不容易夾抓更換效率低，易損壞產(chǎn)品，人員進(jìn)行損壞點(diǎn)標(biāo)記時(shí)，因產(chǎn)品比較密集容易出錯(cuò)，為此，我們提供了一種用于三星芯片測試板自動(dòng)檢測修復(fù)平臺(tái)抓取機(jī)構(gòu)。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題克服現(xiàn)有的缺陷，提供一種用于三星芯片測試板自動(dòng)檢測修復(fù)平臺(tái)抓取機(jī)構(gòu)，通過loading與Unloading進(jìn)行自動(dòng)上下料，自動(dòng)將測試板放入檢測設(shè)備，檢測出損壞產(chǎn)品后進(jìn)行坐標(biāo)標(biāo)記，通過機(jī)械手在夾具臺(tái)自動(dòng)裝夾更換夾具，運(yùn)動(dòng)至標(biāo)記的坐標(biāo)位將產(chǎn)品更換，將廢棄產(chǎn)品放入廢料倉內(nèi)，再次對(duì)標(biāo)記的坐標(biāo)點(diǎn)產(chǎn)品進(jìn)行測試，完成后將測試板通過機(jī)構(gòu)將產(chǎn)品取出放置收料倉內(nèi)，實(shí)現(xiàn)了將檢測與更換集成在一套設(shè)備中的目的，節(jié)省設(shè)備的空間，同時(shí)實(shí)現(xiàn)完全自動(dòng)化上下料檢測與更換，去除人工，避免了人員在檢測標(biāo)注過程中出現(xiàn)標(biāo)注錯(cuò)誤的情況，產(chǎn)品進(jìn)行更換時(shí)完全通過機(jī)械手自動(dòng)更換，夾具臺(tái)可提供不同產(chǎn)品更換時(shí)所需要的更換夾具，可以有效解決背景技術(shù)中的問題。

為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供了如下的技術(shù)方案：

一種用于三星芯片測試板自動(dòng)檢測修復(fù)平臺(tái)抓取機(jī)構(gòu)，包括主體鈑金，所述主體鈑金一側(cè)設(shè)有輸入料倉，所述輸入料倉對(duì)應(yīng)的所述主體鈑金內(nèi)腔底部設(shè)有旋轉(zhuǎn)平臺(tái)，所述旋轉(zhuǎn)平臺(tái)上設(shè)有與抓取模組相配合設(shè)置的絲桿與導(dǎo)向柱，且所述導(dǎo)向柱設(shè)為距離所述輸入料倉較近的一側(cè)，所述旋轉(zhuǎn)平臺(tái)與所述輸入料倉對(duì)應(yīng)的一側(cè)設(shè)有收集料倉，所述抓取模組一側(cè)設(shè)有測試機(jī)，所述收集料倉一側(cè)設(shè)有機(jī)械手，所述機(jī)械手一側(cè)分別設(shè)有完好產(chǎn)品與夾具臺(tái)。

進(jìn)一步而言，所述輸入料倉一側(cè)設(shè)有氣缸。

進(jìn)一步而言，所述抓取模組底部設(shè)有伺服電機(jī)，且伺服電機(jī)設(shè)于所述旋轉(zhuǎn)平臺(tái)上。

進(jìn)一步而言，所述旋轉(zhuǎn)平臺(tái)一側(cè)連接DD馬達(dá)。

進(jìn)一步而言，所述夾具臺(tái)設(shè)于所述測試機(jī)與完好產(chǎn)品之間。

進(jìn)一步而言，所述夾具臺(tái)上設(shè)有不同型號(hào)的放置槽。

本實(shí)用新型有益效果：本實(shí)用新型通過loading與Unloading進(jìn)行自動(dòng)上下料，自動(dòng)將測試板放入檢測設(shè)備，檢測出損壞產(chǎn)品后進(jìn)行坐標(biāo)標(biāo)記，通過機(jī)械手在夾具臺(tái)自動(dòng)裝夾更換夾具，運(yùn)動(dòng)至標(biāo)記的坐標(biāo)位將產(chǎn)品更換，將廢棄產(chǎn)品放入廢料倉內(nèi)，再次對(duì)標(biāo)記的坐標(biāo)點(diǎn)產(chǎn)品進(jìn)行測試，完成后將測試板通過機(jī)構(gòu)將產(chǎn)品取出放置收料倉內(nèi)，實(shí)現(xiàn)了將檢測與更換集成在一套設(shè)備中的目的，節(jié)省設(shè)備的空間，同時(shí)實(shí)現(xiàn)完全自動(dòng)化上下料檢測與更換，去除人工，避免了人員在檢測標(biāo)注過程中出現(xiàn)標(biāo)注錯(cuò)誤的情況，產(chǎn)品進(jìn)行更換時(shí)完全通過機(jī)械手自動(dòng)更換，夾具臺(tái)可提供不同產(chǎn)品更換時(shí)所需要的更換夾具。

附圖說明

附圖用來提供對(duì)本實(shí)用新型的進(jìn)一步理解，并且構(gòu)成說明書的一部分，與本實(shí)用新型的實(shí)施例一起用于解釋本實(shí)用新型，并不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型的限制。