[實用新型]一種用于三星芯片測試板自動檢測修復平臺抓取機構

有效

• 申請號: 201721360939.4
• 申請日: 2017-10-22
• 公開（公告）號: CN207361316U
• 公開（公告）日: 2018-05-15
• 發明（設計）人: 楊曉華;張坤;吳歡歡;史先映
• 申請（專利權）人: 蘇州英多液晶技術有限公司
• 主分類號: B65G47/90
• 分類號: B65G47/90
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種用于三星芯片測試板自動檢測修復平臺抓取機構，包括主體鈑金(1)，其特征在于：所述主體鈑金(1)一側設有輸入料倉(10)，所述輸入料倉(10)對應的所述主體鈑金(1)內腔底部設有旋轉平臺(6)，所述旋轉平臺(6)上設有與抓取模組(9)相配合設置的絲桿(7)與導向柱(8)，且所述導向柱(8)設為距離所述輸入料倉(10)較近的一側，所述旋轉平臺(6)與所述輸入料倉(10)對應的一側設有收集料倉(5)，所述抓取模組(9)一側設有測試機(11)，所述收集料倉(5)一側設有機械手(4)，所述機械手(4)一側分別設有完好產品(3)與夾具臺(2)。

2.根據權利要求1所述的一種用于三星芯片測試板自動檢測修復平臺抓取機構，其特征在于：所述輸入料倉(10)一側設有氣缸。

3.根據權利要求1所述的一種用于三星芯片測試板自動檢測修復平臺抓取機構，其特征在于：所述抓取模組(9)底部設有伺服電機，且伺服電機設于所述旋轉平臺(6)上。

4.根據權利要求1所述的一種用于三星芯片測試板自動檢測修復平臺抓取機構，其特征在于：所述旋轉平臺(6)一側連接DD馬達。

5.根據權利要求1所述的一種用于三星芯片測試板自動檢測修復平臺抓取機構，其特征在于：所述夾具臺(2)設于所述測試機(11)與完好產品(3)之間。

6.根據權利要求1所述的一種用于三星芯片測試板自動檢測修復平臺抓取機構，其特征在于：所述夾具臺(2)上設有不同型號的放置槽。