[實用新型]一種EEPROM測試工裝

有效

• 申請號: 201721343031.2
• 申請日: 2017-10-18
• 公開（公告）號: CN207367607U
• 公開（公告）日: 2018-05-15
• 發明（設計）人: 陸云峰
• 申請（專利權）人: 浙江永泰隆電子股份有限公司
• 主分類號: G11C29/12
• 分類號: G11C29/12
• 代理公司: 北京馳納智財知識產權代理事務所(普通合伙) 11367
• 代理人: 孫海波

本實用新型公開了一種EEPROM測試工裝，該測試工裝包括用于顯示測試數據的電腦上位機、該測試工裝與電腦上位機通訊的串口通訊模塊、用于接收電能表對EEPROM芯片操作數據的7塊ARM輔芯片和1塊ARM主芯片、向該測試工裝提供電源的電源電路、用于存儲操作數據的外置RAM和放置EEPROM芯片的EEPROM芯片座。將EEPROM測試工裝接入電能表與EEPROM芯片之間，測試電能表儲存的安全性與正確性，電路結構簡單，使用靈活。

技術領域

本實用新型涉及電能表存儲器技術領域，具體涉及一種針對電子式電能表的EEPROM存儲器進行測試的EEPROM測試工裝。

背景技術

隨著電子技術的不斷發展，電子式電能表的功能日新月異，功能越來越復雜，存儲的數據量越來越多，例如月使用電量、年使用電量、使用金額等數據的保存。保存的數據越來越多，勢必更加會考慮EEPROM存儲器的數據讀寫的位置是否正確，EEPROM存儲器的讀寫數據值是否正確，因此對EEPROM存儲器需要測試的點更加多，這對于測試員而言將是一項很艱巨很耗時的任務。

現有技術中，公開號為CN105738855A的中國發明專利公開了一種面向智能電表嵌入式應用的測試方法，可以對電表的存儲芯片單元和計量芯片單元進行測試，包括：存儲芯片對不同數據的分塊存儲，EEPROM不能寫時的存儲策略；智能電表重要數據是否有備份；存儲器重要數據被破壞可否自恢復；存儲數據是否有溢出錯誤。該方法提供的策略未實質解決電表的EEPROM存儲器測試數據安全性問題。

傳統的測試方法是在取下EEPROM存儲器芯片并修改里面的數據，再將EEPROM芯片焊回電能表上，電能表上電測試。每測試EEPROM存儲器芯片就要保存的一個數據量，都要如上重復做一遍，而一個復雜功能的電能表可能需要測試上百個數據量，這樣工作量特別大。而且在測試電能表長時間走字的情況下，也沒有監視整個EEPROM存儲器芯片保存，這也就是一個安全隱患。

實用新型內容

為了解決上述測試可靠性與效率的不足而提供的安全可靠簡單方便，本實用新型提供了一種使用范圍廣的測試EEPROM工裝。與普通測試方法相比，提高了測試效率，拓寬了測試廣度，也更加不容易損壞電能表。

為了實現上述目的，本實用新型采用如下技術方案。

本實用新型公開了一種EEPROM測試工裝，接入電能表與EEPROM芯片之間，用于測試電能表儲存的安全性與正確性，電路結構簡單，使用靈活，實現原理為：通過電能表與EEPROM芯片之間接入EEPROM測試工裝，監視到電能表到EEPROM芯片這條鏈路上的數據，并通過電腦上位機顯示出來。

本實用新型的EEPROM測試工裝包括用于顯示測試數據的電腦上位機、該測試工裝與電腦上位機通訊的串口通訊模塊、用于接收電能表對EEPROM芯片操作數據的7塊ARM輔芯片和1塊ARM主芯片、向該測試工裝提供電源的電源電路、用于存儲操作數據的外置RAM和放置EEPROM芯片的EEPROM芯片座；所述7塊ARM輔芯片和1塊ARM主芯片以串聯方式連接RX和TX引腳并通過串口通訊模塊連接電腦上位機，所述1塊ARM主芯片的IO端口與外置RAM連接。

優選的是，該測試該測試工裝還設置有多組單排插針。

在上述任一技術方案中優選的是，該測試工裝的單排插針包括第一單排插針J10、第二單排插針J6。

在上述任一技術方案中優選的是，該測試工裝還設置有繼電器HF1、按鈕S1、通訊芯片IC7、第一光耦U2和第二光耦U3。

在上述任一技術方案中優選的是，所述電能表的線路板上的EEPROM芯片所在位置的銅皮分別與該測試工裝的第一單排插針J10相連，該測試工裝的USB線與電腦上位機的串口通訊模塊相連，EEPROM芯片放入該測試工裝的EEPROM芯片座中，通過電腦上位機顯示電能表對EEPROM芯片操作監視。