[實用新型]一種碳化硅芯片的合格率檢測設備

有效

• 申請號: 201721307876.6
• 申請日: 2017-10-11
• 公開（公告）號: CN207396436U
• 公開（公告）日: 2018-05-22
• 發明（設計）人: 陳力穎
• 申請（專利權）人: 天津力芯偉業科技有限公司
• 主分類號: G01N33/00
• 分類號: G01N33/00;G01R31/28;G01R31/01
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型公開了一種碳化硅芯片的合格率檢測設備，包括底座、芯片掃描檢測設備、檢測安裝板、放料傳送帶和芯片卡槽，所述底座的頂部安裝有伺服電機，且伺服電機的頂部通過聯軸器安裝有主動輪，所述放料傳送帶的上均勻分布有芯片卡槽，所述放料傳送帶下方的底座上通過電動升降柱安裝有透明支撐板，所述檢測安裝板的頂部安裝有探針固定板，所述探針固定板的內部安裝有FMSL高頻讀寫板，且FMSL高頻讀寫板的輸出端均勻安裝有貫穿探針固定板的檢測探針。本實用新型相對于傳統檢測設備，設計合理，操作簡單，設置的檢測探針以及芯片掃描檢測設備可以對芯片進行雙重檢測，避免漏檢的情況，進而提高了檢測的質量，同時也提高了合格率檢測的質量。

技術領域

本實用新型涉及碳化硅芯片檢測技術領域，具體為一種碳化硅芯片的合格率檢測設備。

背景技術

隨著時代的發展，人們的生活水平不斷地提高，人們對于高科技電子設備的使用越來越廣泛，現有的電子設備中大多采用碳化硅芯片，作為處理器，因此芯片的質量決定電子設備的使用，在碳化硅芯片的生產過程中，其工序主要包括固晶、焊接、檢測、刷膠，其中，檢測就是對固晶、焊接完成的芯片進行性能檢測，由于生產中的每張待測芯片上具有一定數量的節點，工作人員只能用讀卡器挨個對每張待測芯片進行檢測，由于一次只能檢測一枚芯片，耗時耗力，效率較低，且存在漏檢的現象發生，不利于批量生產使用，且檢測的方式比較單一不能夠徹底檢測芯片的合格率，因此有必要對現有技術進行改進，以解決上述問題。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種碳化硅芯片的合格率檢測設備，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：一種碳化硅芯片的合格率檢測設備，包括底座、芯片掃描檢測設備、檢測安裝板、放料傳送帶和芯片卡槽，所述底座的頂部安裝有伺服電機，且伺服電機的頂部通過聯軸器安裝有主動輪，所述服電機一側的底座上通過支撐柱安裝有從動輪，且主動輪與從動輪上安裝有放料傳送帶，所述放料傳送帶的上均勻分布有芯片卡槽，所述放料傳送帶下方的底座上通過電動升降柱安裝有透明支撐板，且透明支撐板緊貼放料傳送帶的下表面，所述伺服電機與支撐柱之間的底座上安裝有芯片掃描檢測設備，且芯片掃描檢測設備的頂部安裝有檢測板，所述芯片掃描檢測設備一側的底座上安裝有電動伸縮柱，且電動伸縮柱的頂部安裝有檢測安裝板，所述檢測安裝板的頂部安裝有探針固定板，所述探針固定板的內部安裝有FMSL高頻讀寫板，且FMSL高頻讀寫板的輸出端均勻安裝有貫穿探針固定板的檢測探針。

優選的，所述檢測板上表面的中央位置處安裝有紅外線定位燈。

優選的，所述芯片掃描檢測設備的正面安裝有檢測指標顯示器。

優選的，所述透明支撐板上均勻分布有與芯片卡槽配合使用的支撐凸起。

優選的，所述主動輪與從動輪位于同一水平面，且主動輪與從動輪的直徑相同。

與現有技術相比，本實用新型的有益效果是：該碳化硅芯片的合格率檢測設備相對于傳統檢測設備，設計合理，操作簡單，設置的檢測探針以及芯片掃描檢測設備可以對芯片進行雙重檢測，避免漏檢和檢測不徹底的情況，進而提高了檢測的質量，同時也提高了合格率檢測的質量，設置的放料轉送帶可以對芯片進行批量檢測，進而提高了檢測的效率，便于廠家生產芯片的批量檢測，設置的檢測探針可以對芯片進行全方位檢測，設置的透明支撐板可以對芯片進行支撐，同時也可以對檢測后的芯片進行下料，便于檢測工人的操作，節約了人力物力，便于推廣使用。

附圖說明

圖1為本實用新型的結構示意圖；

圖2為本實用新型的俯視圖。