[實用新型]一種智能卡的測試裝置

有效

• 申請號: 201721273229.8
• 申請日: 2017-09-29
• 公開（公告）號: CN207164210U
• 公開（公告）日: 2018-03-30
• 發明（設計）人: 王艷杰;楊立新;白志華;竇志軍
• 申請（專利權）人: 北京智芯微電子科技有限公司;國網信息通信產業集團有限公司;國家電網公司
• 主分類號: G01R31/303
• 分類號: G01R31/303
• 代理公司: 北京中譽威圣知識產權代理有限公司11279
• 代理人: 李曉康,俞佳

技術領域

本實用新型涉及通信技術領域，尤其涉及一種智能卡的測試裝置。

背景技術

智能卡(Smart Card)，內嵌有微芯片的塑料卡的通稱，以IC卡技術為核心，以計算機和通信技術為手段，將智能建筑內部的各項設施連接成為一個整體。近年來，隨著智能卡的發展，智能卡的數量越來越多，對卡片測試效率的要求也越來越高。

目前在14443協議接口的非接觸智能卡測試時，多數廠商使用的是一個卡片對應一個讀卡器，通過上位機控制讀卡器，對卡片進行測試的測試方式。

基于此，本發明創造的發明人發現，由于上位機的端口有限，現有的測試方法無法統一管理待測設備和測試結果，測試效率較低。

實用新型內容

本實用新型提供一種智能卡的測試裝置，以克服現有技術中測試效率較低的技術問題。

為解決以上技術問題，本實用新型提供一種智能卡的測試裝置，包括：主控制板以及多個分控制板；所述主控制板用于接收上位機發出的指令，將處理后的指令傳輸給分控制板；接收分控制板發送的測試結果，并將處理后的測試結果發送給所述上位機；所述分控制板與所述主控制板相連接，分控制板通過非接觸線圈與待測卡片無線連接；所述分控制板用于接收主控制板傳輸的指令，根據主控制板傳輸的指令，通過非接觸線圈向所述待測卡片發送測試信號；通過所述非接觸線圈接收所述待測卡片發送的測試結果，并將處理后的測試結果發送給所述主控制板。

在一種可能的實現方式中，所述非接觸線圈包括：RFID天線和線圈。

在一種可能的實現方式中，所述分控制板與所述主控制板通過CAN總線相連接。

在一種可能的實現方式中，所述主控制板包括：STM32F107芯片。

在一種可能的實現方式中，分控制板包括：STM32F103芯片。

在一種可能的實現方式中，所述分控制板包括銷售點終端安全存取模塊PSAM卡,所述PSAM卡用于向待測芯片發送測試信號進行加密和/或對所述待測芯片發送的測試結果進行解密。

由此，本實用新型提供的智能卡的測試裝置，通過所述分控制板與所述主控制板相連接，分控制板通過非接觸線圈與待測卡片進行無線連接，主控制板接收上位機發出的指令，將處理后的指令傳輸給分控制板；所述分控制板根據主控制板傳輸的指令，通過非接觸線圈向所述待測卡片發送測試信號以對所述待測卡片進行測試；并接收所述待測卡片發送的測試結果，并將處理后的測試結果發送給所述主控制板，主控制板接收分控制板發送的測試結果，并將處理后的測試結果發送給上位機；實現了統一管理多個待測設備和測試結果，提高測試效率。

附圖說明

圖1為本實用新型實施例一提供的智能卡的測試裝置的結構示意圖；

圖2為本實用新型實施例二提供的智能卡的測試裝置的結構示意圖。

具體實施方式

為使本實用新型實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。

實施例一

圖1為本實用新型實施例一提供的智能卡的測試裝置的結構示意圖，如圖1所示，本實施例提供的智能卡的測試裝置，包括：主控制板1以及多個分控制板2。

所述主控制板1用于接收上位機3發出的指令，將處理后的指令傳輸給分控制板2；接收分控制板2發送的測試結果，并將處理后的測試結果發送給上位機3。

具體地，上位機3可以通過PC端安裝上位機軟件來實現，上位機3發送測試指令，等待測試結果返回，將測試結果輸出和保存。可以實現單個或多個卡片的多種測試項的測試。主控制板1可以通過串口(USART)與上位機相連接。主控制板1通過識別分控制板2的標識，將上位機的測試指令解析并準確的發送給分控制板2。所述分控制板2與所述主控制板1相連接，分控制板2通過非接觸線圈與待測卡片4無線連接。

所述分控制板2用于接收主控制板1傳輸的指令，根據主控制板1傳輸的指令，通過非接觸線圈向所述待測卡片4發送測試信號；通過所述非接觸線圈接收所述待測卡片4發送的測試結果，并將處理后的測試結果發送給所述主控制板1。