[實用新型]一種智能卡的測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201721273229.8 | 申請日： | 2017-09-29 |
| 公開（公告）號： | CN207164210U | 公開（公告）日： | 2018-03-30 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 王艷杰;楊立新;白志華;竇志軍 | 申請（專利權(quán)）人： | 北京智芯微電子科技有限公司;國網(wǎng)信息通信產(chǎn)業(yè)集團有限公司;國家電網(wǎng)公司 |
| 主分類號： | G01R31/303 | 分類號： | G01R31/303 |
| 代理公司： | 北京中譽威圣知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11279 | 代理人： | 李曉康,俞佳 |
| 地址： | 100192 北京市海淀區(qū)*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 智能卡 測試 裝置 | ||
1.一種智能卡的測試裝置，其特征在于，包括：主控制板以及多個分控制板；
所述主控制板用于接收上位機發(fā)出的指令，將處理后的指令傳輸給分控制板；接收分控制板發(fā)送的測試結(jié)果，并將處理后的測試結(jié)果發(fā)送給所述上位機；
所述分控制板與所述主控制板相連接，分控制板通過非接觸線圈與待測卡片無線連接；
所述分控制板用于接收主控制板傳輸?shù)闹噶睿鶕?jù)主控制板傳輸?shù)闹噶睿ㄟ^非接觸線圈向所述待測卡片發(fā)送測試信號；通過所述非接觸線圈接收所述待測卡片發(fā)送的測試結(jié)果，并將處理后的測試結(jié)果發(fā)送給所述主控制板。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述非接觸線圈包括：RFID天線和線圈。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述分控制板與所述主控制板通過CAN總線相連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，
所述主控制板包括：STM32F107芯片。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，分控制板包括：STM32F103芯片。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試裝置，其特征在于，
所述分控制板包括銷售點終端安全存取模塊PSAM卡,所述PSAM卡用于向待測芯片發(fā)送測試信號進行加密和/或?qū)λ龃郎y芯片發(fā)送的測試結(jié)果進行解密。
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