[實(shí)用新型]用于半導(dǎo)體芯片測試的微調(diào)支架有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201721250822.0 | 申請日: | 2017-09-27 |
| 公開(公告)號: | CN207472910U | 公開(公告)日: | 2018-06-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王浩;王剛;程堯;張偉 | 申請(專利權(quán))人: | 上海旻艾半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04;G01R31/26 |
| 代理公司: | 南京申云知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32274 | 代理人: | 邱興天 |
| 地址: | 201306 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 微分頭 固定底座 微調(diào)支架 固定塊 半導(dǎo)體芯片測試 本實(shí)用新型 機(jī)臺固定座 支架底座 通用 可左右移動 測微螺桿 工作效率 水平板 抵住 | ||
1.一種用于半導(dǎo)體芯片測試的微調(diào)支架,其特征在于:包括機(jī)臺固定座(1)、安裝在機(jī)臺固定座(1)上的通用固定底座(2)和設(shè)置在通用固定底座(2)上可左右移動的L形的支架底座(3);所述的通用固定底座(2)上安裝有一微分頭固定塊(4),而所述的支架底座(3)的水平板(31)上則設(shè)置有與微分頭固定塊(4)配合使用的橫向微分頭(6),所述的橫向微分頭(6)的橫向測微螺桿(61)抵住微分頭固定塊(4);
所述的支架底座(3)的豎直板(32)上還安裝有一可上下移動并可通過螺絲固定位置的縱向安裝座(7);該縱向安裝座(7)的上端安裝有頂部支撐板(8),頂部支撐板(8)上安裝有PCB測試板(9);所述的縱向安裝座(7)上還安裝有縱向微分頭安裝座(10),該縱向微分頭安裝座(10)安裝有一縱向微分頭(11),該縱向微分頭(11)的縱向測微螺桿(12)向下豎直伸出,并抵在支架底座(3)的水平板(31)上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于半導(dǎo)體芯片測試的微調(diào)支架,其特征在于:所述的微分頭固定塊(4)上還設(shè)置有一通孔(13);所述的支架底座(3)的水平板(31)的側(cè)壁上還設(shè)置有與通孔(13)位置相適配的螺紋孔(14);還包括一安裝有梅花旋鈕(16)的螺紋桿(15),該螺紋桿(15)穿過通孔(13)可相匹配的旋入至螺紋孔(14)中。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于半導(dǎo)體芯片測試的微調(diào)支架,其特征在于:所述的支架底座(3)的豎直板(32)上還設(shè)置有彈簧槽(33);該彈簧槽(33)內(nèi)還安裝有復(fù)位彈簧(34),且該復(fù)位彈簧(34)的另一端安裝在縱向安裝座(7)上。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于半導(dǎo)體芯片測試的微調(diào)支架,其特征在于:所述的支架底座(3)的水平板(31)上還設(shè)置有與支架底座(3)左右移動方向相同的腰形限位槽(35);而所述的通用固定底座(2)上設(shè)置有與腰形限位槽(35)配合使用的限位桿(21);調(diào)整支架底座(3)的位置使限位桿(21)放入至腰形限位槽(35)中。
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G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測量儀器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測量儀器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測量儀器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測量儀器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路





