[實用新型]一種用于抗靜電損傷測試的電路測試板有效

申請號：	201721236500.0	申請日：	2017-09-26
公開（公告）號：	CN207557361U	公開（公告）日：	2018-06-29
發明（設計）人：	雒興明;張薇;劉剛	申請（專利權）人：	北京銳達芯集成電路設計有限責任公司
主分類號：	G01R31/00	分類號：	G01R31/00
代理公司：	北京正理專利代理有限公司 11257	代理人：	付生輝
地址：	101111 北京市大興區經濟技術***	國省代碼：	北京;11
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摘要：
搜索關鍵詞：	開關部抗靜電芯片電路測試板待測芯片損傷測試接線電信號傳遞測試接入電路外接電源測試板電連接接線部管腳
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【說明書】：

一種用于抗靜電損傷測試的電路測試板，包括：芯片接入部、接線部和開關部，其特征在于，通過芯片接入部將待測芯片接入電路測試板，接線部將芯片接入部與開關部電連接，在測試時，接線部將開關部選擇的外接電源的電信號傳遞至待測芯片，以選擇性地對待測芯片的管腳進行抗靜電測試。

技術領域

本實用新型涉及一種電路測試板。更具體地，涉及一種用于抗靜電損傷測試的電路測試板。

背景技術

靜電放電(ESD，electrostatic discharge)是電子工業最花代價的損壞原因之一。隨著IC產品的制造工藝不斷微小化，ESD引起的產品失效問題越來越突出。靜電會使MOS集成電路的輸入端、輸出端漏電流增加，靜態功耗電流增大，輸入端的MOS管發生柵穿等。

為了能夠了解我們所制造的IC產品的抵抗靜電打擊的能力，提升產品的質量，減少因ESD而引起的損傷，世界各地的IC工程師們研制出了許多靜電放電模擬器，用來模擬現實生活中的靜電放電現象，在常規的靜點測試當中，測試人員經常用靜電模擬器對插接在面包板上的芯片進行測試，但是用該方法測試時由于芯片的管腳之間的距離非常近，容易產生電弧，同時測試中引線非常細，會有很大的內阻，抗靜電測試結果會受到影響。

本發明設計了一種適用于靜電模擬器的靜電損傷測試板，方便測試人員測試芯片的靜電放電故障臨界電壓，且可以避免電弧，減小引線電阻。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種用于抗靜電損傷測試的電路測試板。

為達到上述目的，本實用新型采用下述技術方案：

優選地，接線部包括接線柱和PCB板，其中接線柱布置在布線電路板上。

優選地，芯片接入部布置在PCB板上，并且通過PCB板上的布線與接線柱電連接。

優選地，開關部包括多個單刀雙擲開關，開關部是耐高壓的。

優選地，單刀雙擲開關的第一端子與外接電源的正極電連接，單刀雙擲開關的第二端子與外接電源的負極電連接，以及單刀雙擲開關的第三端子與接線柱電連接。

優選地，接線柱的數量與芯片接入部的管腳數相等。

優選地，一半數量的接線柱位于芯片接入部的第一側且位于第一側的接線柱分為靠近第一側和遠離第一側的兩排，而另一半數量的接線柱位于芯片接入部的第二側且位于第二側的接線柱分為靠近第二側和遠離第二側的兩排。

優選地，在芯片部的每一側，將靠近芯片接入部的接線柱與芯片接入部電連接的布線和將遠離芯片接入部的接線柱與芯片接入部電連接的布線位于PCB板的不同表面上。

優選地，電路測試板還包括正負極接口，正負極接口與外接電源的正負極連接。