[實用新型]一種IC測試探針

有效

• 申請號: 201721207090.7
• 申請日: 2017-09-19
• 公開（公告）號: CN207248938U
• 公開（公告）日: 2018-04-17
• 發明（設計）人: 傅馬騰
• 申請（專利權）人: 東莞市臺易電子科技有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067;G01R31/28
• 代理公司: 北京權智天下知識產權代理事務所(普通合伙)11638
• 代理人: 王新愛

技術領域

本實用新型涉及IC測試設備技術領域，具體為一種IC測試探針。

背景技術

IC，即集成電路，是采用半導體制作工藝，在一塊較小的單晶硅片上制作上許多晶體管及電阻器、電容器等元器件，并按照多層布線或遂道布線的方法將元器件組合成完整的電子電路，在集成電路的生產加工過程中經常需要使用探針進行檢測，目前使用的探針使用過程中不便于安裝在測試插座上，并且在檢測過程中探針的長度不能根據使用需要快速的調節長度，以及不便更換不同的探針型號，對檢測造成了很大的不便。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種IC測試探針，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：一種IC測試探針，包括連接套筒、滑動伸縮裝置和探測主體,所述滑動伸縮裝置固定卡接在連接套筒的內部，所述滑動伸縮裝置的底端固定安裝有固定槽板，所述固定槽板的上端滑動卡接有移動滑塊，所述移動滑塊上端面固定連接有橡膠塊，所述連接套筒上螺紋轉動有旋擰固定鈕，所述連接套筒的一端固定連接有第二保護彈簧，所述連接套筒的另一端固定連接有第一保護彈簧，所述第二保護彈簧背離連接套筒的一側固定連接有第一連接套環，所述第一保護彈簧背離連接套筒的一側固定有第二連接套環，所述第一連接套環和第二連接套環背離連接套筒的端頭均卡接有探測主體，所述探測主體的一端安裝有螺紋連接柱，所述螺紋連接柱背離連接套筒的一端焊接有卡環，所述卡環背離螺紋連接柱的一端卡接有探針。

優選的，所述第一保護彈簧對著連接套筒的一端與固定槽板相固定連接。

優選的，所述第二保護彈簧對著連接套筒的一端與移動滑塊相固定連接。

優選的，所述第二保護彈簧與第一連接套環以及第一保護彈簧與第二連接套環之間固定連接有支撐柱。

優選的，所述連接套筒外部兩側對稱鑲嵌有橡膠防滑顆粒。

優選的，所述第二連接套環和第一連接套環背離連接套筒的端頭均螺紋固定有螺紋連接柱。

與現有技術相比，本實用新型的有益效果是：

1、本實用新型連接套筒外部兩側對稱鑲嵌有橡膠防滑顆粒，大大增大了摩擦力，從而方便了檢測過程中將裝置固定在測試插座上，連接套筒內部卡接有滑動伸縮裝置，且第一保護彈簧對著連接套筒的一端與固定槽板相固定連接，第二保護彈簧對著連接套筒的一端與移動滑塊相固定連接，通過抽拉第二保護彈簧即可調整整個裝置的長度，通過旋擰旋擰固定鈕使得旋擰固定鈕的底端擠壓橡膠塊從而將長度固定，大大方便了檢測過程中對不同長度的調節。

2、本實用新型連接套筒兩側對稱安裝了第二保護彈簧和第一保護彈簧，能夠在檢測的過程中有效的緩解探針所受到的壓力和撞擊力，從而有效的保護了探針,第二連接套環和第一連接套環背離連接套筒的端頭均螺紋固定有螺紋連接柱，且不同型號的探針可以卡接在螺紋連接柱一端的卡環內部，從而可以根據使用需要快捷的更換不同的型號的探針，大大方便了對IC的檢測。

附圖說明

圖1為本實用新型主體結構示意圖；

圖2為本實用新型滑動伸縮裝置結構示意圖；

圖3為本實用新型探測主體結構示意圖。

圖中：1-第一連接套環；2-旋擰固定鈕；3-連接套筒；4-滑動伸縮裝置；5-第二連接套環；6-探測主體；7-第一保護彈簧；8-第二保護彈簧；9-橡膠塊；10-固定槽板；11-移動滑塊；12-螺紋連接柱；13-探針；14-卡環。

具體實施方式

下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。