[實用新型]一種IC測試探針

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201721207090.7
• 申請日: 2017-09-19
• 公開（公告）號: CN207248938U
• 公開（公告）日: 2018-04-17
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 傅馬騰
• 申請（專利權(quán)）人: 東莞市臺易電子科技有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067;G01R31/28
• 代理公司: 北京權(quán)智天下知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)11638
• 代理人: 王新愛

1.一種IC測試探針，包括連接套筒(3)、滑動伸縮裝置(4)和探測主體(6),其特征在于：所述滑動伸縮裝置(4)固定卡接在連接套筒(3)的內(nèi)部，所述滑動伸縮裝置(4)的底端固定安裝有固定槽板(10)，所述固定槽板(10)的上端滑動卡接有移動滑塊(11)，所述移動滑塊(11)上端面固定連接有橡膠塊(9)，所述連接套筒(3)上螺紋轉(zhuǎn)動有旋擰固定鈕(2)，所述連接套筒(3)的一端固定連接有第二保護彈簧(8)，所述連接套筒(3)的另一端固定連接有第一保護彈簧(7)，所述第二保護彈簧(8)背離連接套筒(3)的一側(cè)固定連接有第一連接套環(huán)(1)，所述第一保護彈簧(7)背離連接套筒(3)的一側(cè)固定有第二連接套環(huán)(5)，所述第一連接套環(huán)(1)和第二連接套環(huán)(5)背離連接套筒(3)的端頭均卡接有探測主體(6)，所述探測主體(6)的一端安裝有螺紋連接柱(12)，所述螺紋連接柱(12)背離連接套筒(3)的一端焊接有卡環(huán)(14)，所述卡環(huán)(14)背離螺紋連接柱(12)的一端卡接有探針(13)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種IC測試探針，其特征在于：所述第一保護彈簧(7)對著連接套筒(3)的一端與固定槽板(10)相固定連接。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種IC測試探針，其特征在于：所述第二保護彈簧(8)對著連接套筒(3)的一端與移動滑塊(11)相固定連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種IC測試探針，其特征在于：所述第二保護彈簧(8)與第一連接套環(huán)(1)以及第一保護彈簧(7)與第二連接套環(huán)(5)之間固定連接有支撐柱。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種IC測試探針，其特征在于：所述連接套筒(3)外部兩側(cè)對稱鑲嵌有橡膠防滑顆粒。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種IC測試探針，其特征在于：所述第二連接套環(huán)(5)和第一連接套環(huán)(1)背離連接套筒(3)的端頭均螺紋固定有螺紋連接柱(12)。