[實用新型]芯片開短路測試裝置及系統有效
| 申請號: | 201721193446.6 | 申請日: | 2017-09-18 |
| 公開(公告)號: | CN207263883U | 公開(公告)日: | 2018-04-20 |
| 發明(設計)人: | 沈丹禹;楊卓豪;宋海宏 | 申請(專利權)人: | 深圳市匯頂科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28;G01R31/02 |
| 代理公司: | 北京合智同創知識產權代理有限公司11545 | 代理人: | 李杰 |
| 地址: | 518045 廣東省深*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 芯片 短路 測試 裝置 系統 | ||
技術領域
本實用新型實施例涉及芯片檢測技術領域,尤其涉及一種芯片開短路測試裝置及系統。
背景技術
現有技術中的IC(Integrated Circuit,集成電路)測試采用的是IC在封裝廠封裝完之后,送到測試廠,由測試廠利用大型的ATE(Automatic Test Equipment,自動化測試設備)進行測試。在IC測試領域存在一個十倍法則,即壞品在后道工序被發現,比在前道工序被發現所付出的成本是十倍之多。因此,若測試后發現芯片存在封裝或加工問題,需要將芯片再反饋到封裝廠,由封裝廠改善,由此造成芯片修正成本急劇增加。
為了降低成本,保證生產質量,封裝廠也越來越注重提前發現問題。為此,封裝廠在芯片封裝之前提前進行抽樣,力爭把問題在前端解決掉。對于封裝廠的前端IC測試來說,對芯片進行開短路測試是最為主要的測試之一。但對于封裝廠而言,利用大型ATE來測試,成本較高,ATE中除用于開短路測試的部分之外,其它大部分資源是冗余的。這就造成了封裝廠采用ATE對IC進行測試成本高,且ATE的大部分功能被閑置浪費。
實用新型內容
有鑒于此,本實用新型實施例所解決的技術問題之一在于提供一種芯片開短路測試裝置、方法及系統,用以克服現有技術中的芯片開短路測試成本高的缺陷,達到芯片開短路測試成本較低的效果。
本實用新型實施例提供一種芯片開短路測試裝置,用于對待測芯片進行開短路測試,待測芯片包括管腳保護電路,管腳保護電路具有第一待測點和第二待測點,芯片開短路測試裝置包括集成電路板、第一保護單元和第二保護單元,集成電路板包括控制單元、第一電壓輸出單元和第二電壓輸出單元;其中,第一電壓輸出單元通過第一保護單元與待測芯片中的第一待測點連接;第二電壓輸出單元通過第二保護單元與待測芯片中的第二待測點連接;控制單元通過第一電壓輸出單元和第二電壓輸出單元調節并測量第一待測點和第二待測點的電壓,并根據第一待測點和第二待測點的壓差確定管腳保護電路是否開短路。
可選地,在本實用新型一具體實施例中,集成電路板為集成MCU電路板,集成MCU電路板包括VDD模塊、GND模塊和IO模塊,第一電壓輸出單元為VDD模塊、GND模塊或IO模塊。
可選地,在本實用新型一具體實施例中,第二電壓輸出單元為集成MCU電路板的IO模塊。
可選地,在本實用新型一具體實施例中,管腳保護電路包括多個保護支路,每個保護支路包括兩個保護二級管;第二電壓輸出單元的IO模塊包括IO接口和第一ADC接口,IO接口通過第二保護單元與待測芯片的第二待測點串聯,第二待測點位于多個保護支路中的一個保護支路的兩個保護二級管之間,第一ADC接口與第二待測點連接。
可選地,在本實用新型一具體實施例中,當第一電壓輸出單元為集成MCU電路板的VDD模塊時,VDD模塊包括第一DAC接口、第二ADC接口和第三ADC接口,第一DAC接口通過第一保護單元與待測芯片的第一待測點串聯,第一待測點為待測芯片的VDD端,第二ADC接口與第一保護單元的第一端連接,第三ADC接口連接在第一保護單元的第二端和第一待測點之間。
可選地,在本實用新型一具體實施例中,當第一電壓輸出單元為集成MCU電路板的GND模塊時,GND模塊包括第二DAC接口、第四ADC接口和第五ADC接口,第二DAC接口通過第一保護單元與待測芯片的第一待測點串聯,第一待測點為待測芯片的GND端,第四ADC接口連接在第一保護單元的第一端上,第五ADC接口連接在第一保護單元的第二端和第一待測點之間。
可選地,在本實用新型一具體實施例中,管腳保護電路包括多個保護支路,每個保護支路包括兩個保護二級管;當第一電壓輸出單元為集成MCU電路板的IO模塊時,IO模塊包括IO接口和第一ADC接口,第一電壓輸出單元的IO接口通過第一保護單元與待測芯片的第一待測點串聯,第一待測點位于多個保護支路中的一個保護支路的兩個保護二級管之間,第一電壓輸出單元的第一ADC接口連接在第一待測點上;第二電壓輸出單元為IO模塊,第二電壓輸出單元的IO模塊包括IO接口和第一ADC接口,IO接口通過第二保護單元與待測芯片的第二待測點串聯,第二待測點位于多個保護支路中的另一個保護支路的兩個保護二級管之間,第一ADC接口與第二待測點連接。
可選地,在本實用新型一具體實施例中,控制單元若確定第一待測點和第二待測點的壓差小于預定壓降范圍的最小值,則確定第一待測點和第二待測點之間短路;若確定第一待測點和第二待測點的壓差大于預定壓降范圍的最大值,則確定第一待測點和第二待測點之間開路。
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