[實(shí)用新型]一種晶圓檢測設(shè)備的擴(kuò)晶環(huán)轉(zhuǎn)送裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201721170192.6 | 申請日: | 2017-09-13 |
| 公開(公告)號: | CN207282471U | 公開(公告)日: | 2018-04-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉振輝;韋日文;王勝利;楊波 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市矽電半導(dǎo)體設(shè)備有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/677 | 分類號: | H01L21/677;H01L21/683 |
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| 地址: | 518172 廣東省深圳市龍崗區(qū)龍城*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 檢測 設(shè)備 擴(kuò)晶環(huán) 轉(zhuǎn)送 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及晶圓測試技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種晶圓檢測設(shè)備的擴(kuò)晶環(huán)轉(zhuǎn)送裝置。
背景技術(shù)
晶圓是指硅半導(dǎo)體集成電路制作所用的硅晶片,在晶圓上可加工制作成各種電路元件結(jié)構(gòu),而成為有特定電性功能之IC芯片。在晶圓制造完成之后,晶圓測試是一步非常重要的測試,晶圓測試是通過探針與晶圓上接點(diǎn)相接觸,測試其電氣特性,判斷其是否符合出廠標(biāo)準(zhǔn)。
擴(kuò)晶環(huán)(也叫擴(kuò)張環(huán))作為晶圓載體,普遍用于承載晶圓并使其在載片臺上進(jìn)行電學(xué)性能的測試。
目前,將承載有晶圓的擴(kuò)晶環(huán)從料盒放置到載片臺的過程,大都是采用人工手動(dòng)操作,但是每進(jìn)行一次單個(gè)晶圓的測試,都需要人工對承載有晶圓的擴(kuò)晶環(huán)進(jìn)行上下料,生產(chǎn)效率較低,勞動(dòng)力成本較高。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的是提供一種晶圓檢測設(shè)備的擴(kuò)晶環(huán)轉(zhuǎn)送裝置,具有能實(shí)現(xiàn)擴(kuò)晶環(huán)在料盒和制片臺組件之間循環(huán)轉(zhuǎn)運(yùn)過程的自動(dòng)化、提高生產(chǎn)效率的優(yōu)點(diǎn)。
本實(shí)用新型的上述技術(shù)目的是通過以下技術(shù)方案得以實(shí)現(xiàn)的:一種晶圓檢測設(shè)備的擴(kuò)晶環(huán)轉(zhuǎn)送裝置,設(shè)于用于承載擴(kuò)晶環(huán)的料盒和對擴(kuò)晶環(huán)上的晶圓進(jìn)行檢測的載片臺組件之間,包括:用于將所述料盒內(nèi)承載有待檢測晶圓的擴(kuò)晶環(huán)夾送至中轉(zhuǎn)工位上、并將所述中轉(zhuǎn)工位上晶圓檢測完成的擴(kuò)晶環(huán)返送至所述料盒內(nèi)的第一機(jī)械手組件;以及,用于將所述中轉(zhuǎn)工位上承載有待檢測晶圓的擴(kuò)晶環(huán)輸送至所述載片臺組件上進(jìn)行檢測、并將所述載片臺組件上晶圓檢測完成的擴(kuò)晶環(huán)返送至所述中轉(zhuǎn)工位上的第二機(jī)械手組件,且所述第二機(jī)械手組件與所述第一機(jī)械手組件錯(cuò)位布置。
通過采用上述技術(shù)方案,在將料盒內(nèi)承載有待檢測晶圓的擴(kuò)晶環(huán)轉(zhuǎn)送到載片臺組件上進(jìn)行晶圓檢測、并將晶圓檢測完成的擴(kuò)晶環(huán)返送至料盒內(nèi)的過程中,采用第一機(jī)械手組件將料盒內(nèi)的擴(kuò)晶環(huán)夾送至中轉(zhuǎn)工位上,第二機(jī)械手組件將中轉(zhuǎn)工位上的擴(kuò)晶環(huán)夾取并輸送至載片臺組件上進(jìn)行檢測,載片臺組件對擴(kuò)晶環(huán)上的晶圓進(jìn)行檢測,之后第二機(jī)械手將晶圓檢測完成的擴(kuò)晶環(huán)沿原先途徑返送至中轉(zhuǎn)工位上,最后第一機(jī)械手組件將中轉(zhuǎn)工位上晶圓檢測完成的擴(kuò)晶環(huán)沿原先途徑返送至料盒內(nèi),整個(gè)過程實(shí)現(xiàn)了擴(kuò)晶環(huán)上下料過程的自動(dòng)化,提高了擴(kuò)晶環(huán)的檢測效率;同時(shí)擴(kuò)晶環(huán)的上下料途徑相同、且第一機(jī)械手組件和第二機(jī)械手組件錯(cuò)位布置的方式,使擴(kuò)晶環(huán)轉(zhuǎn)送裝置的整體布局更加優(yōu)化、占用空間較少。
本實(shí)用新型的進(jìn)一步設(shè)置,所述第一機(jī)械手組件包括:第一底座;承載于所述第一底座上的第一導(dǎo)軌;承載于所述第一底座上的第一電機(jī);由所述第一電機(jī)驅(qū)動(dòng)在兩個(gè)第一導(dǎo)向輪之間做循環(huán)往復(fù)運(yùn)動(dòng)的第一同步帶;與所述第一同步帶固定連接且隨所述第一同步帶的運(yùn)動(dòng)在所述第一導(dǎo)軌上做循環(huán)往復(fù)運(yùn)動(dòng)的第一機(jī)械手臂;以及,與所述第一機(jī)械手臂固定連接、可伸入所述料盒的腔體內(nèi)并將所述料盒內(nèi)的擴(kuò)晶環(huán)帶出或置入所述料盒的載物部。
通過采用上述技術(shù)方案,第一電機(jī)通過驅(qū)動(dòng)第一同步帶帶動(dòng)第一機(jī)械手臂在第一導(dǎo)軌上循環(huán)往復(fù)運(yùn)動(dòng),并通過第一機(jī)械手臂一端的載物部伸入料盒的腔體內(nèi)將料盒內(nèi)的擴(kuò)晶環(huán)帶出或置入的方式,實(shí)現(xiàn)了擴(kuò)晶環(huán)進(jìn)出料盒的自動(dòng)化過程,提高了生產(chǎn)效率。
本實(shí)用新型的進(jìn)一步設(shè)置,所述載物部上設(shè)有可伸入擴(kuò)晶環(huán)的內(nèi)圈對擴(kuò)晶環(huán)進(jìn)行定位的定位環(huán)。
通過采用上述技術(shù)方案,定位環(huán)伸入擴(kuò)晶環(huán)的內(nèi)圈的結(jié)構(gòu)設(shè)置,使擴(kuò)晶環(huán)在載物部上的定位安裝結(jié)構(gòu)更加穩(wěn)固,提高了擴(kuò)晶環(huán)進(jìn)出料盒過程的穩(wěn)定性。
本實(shí)用新型的進(jìn)一步設(shè)置,所述第一底座對應(yīng)于所述第一導(dǎo)軌兩端的位置上設(shè)有第一行程開關(guān),所述第一機(jī)械手臂上設(shè)有隨所述第一機(jī)械手臂的運(yùn)動(dòng)沿所述第一導(dǎo)軌方向運(yùn)動(dòng)的、且當(dāng)其擋在所述第一行程開關(guān)的兩片開關(guān)片之間時(shí)、可使所述第一行程開關(guān)向控制器發(fā)送感應(yīng)信號以指示控制器控制所述第一電機(jī)停止運(yùn)行的第一擋片。
通過采用上述技術(shù)方案,第一導(dǎo)軌兩端的兩個(gè)第一行程開關(guān)與第一機(jī)械手臂上的第一擋片的設(shè)置,可以有效控制第一機(jī)械手臂在第一導(dǎo)軌上運(yùn)動(dòng)的行程,對第一機(jī)械手臂有一個(gè)終端限位保護(hù)的作用。
本實(shí)用新型的進(jìn)一步設(shè)置,所述第二機(jī)械手組件包括:第二底座;承載于所述第二底座上的第二導(dǎo)軌;由一驅(qū)動(dòng)組件驅(qū)動(dòng)在所述第二導(dǎo)軌上滑移的滑移組件;固定裝配于所述滑移組件上隨所述滑移組件沿所述第二導(dǎo)軌方向運(yùn)動(dòng)的升降氣缸;由所述升降氣缸驅(qū)動(dòng)相對所述滑移組件豎向滑移的、用于吸附或者釋放擴(kuò)晶環(huán)的第二機(jī)械手臂;以及,設(shè)于所述第二機(jī)械手臂上、與真空氣源連通的、用于吸附擴(kuò)晶環(huán)的若干個(gè)吸盤。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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