[實(shí)用新型]一種使用PCIE的SSD檢測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201721126376.2 | 申請日: | 2017-09-04 |
| 公開(公告)號: | CN207301908U | 公開(公告)日: | 2018-05-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 江強(qiáng) | 申請(專利權(quán))人: | 蘇州勃朗特半導(dǎo)體存儲技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G06F1/18 | 分類號: | G06F1/18;G06F13/40;G06F11/22 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 215104 江蘇省蘇州市吳*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 使用 pcie ssd 檢測 裝置 | ||
1.一種使用PCIE的SSD檢測裝置,其特征在于:包括殼體、設(shè)置與殼體內(nèi)的測試部件及設(shè)置于殼體一端的數(shù)據(jù)存儲件轉(zhuǎn)接裝置,所述殼體為頂部開口的中空結(jié)構(gòu),所述測試部件設(shè)置于所述殼體內(nèi)部,所述殼體與所述數(shù)據(jù)存儲件轉(zhuǎn)接裝置之間還設(shè)有一密封隔離層;所述測試部件包括四塊主板,每塊主板上設(shè)有復(fù)數(shù)個插槽;四塊主板包括第一主板、第二主板、第三主板及第四主板,所述第一主板、第二主板及第三主板通過線束經(jīng)所述插槽插接相連;所述第一主板及第四主板設(shè)置于所述殼體中部,所述第二主板及第三主板設(shè)置于所述殼體左側(cè),所述第三主板設(shè)置于所述殼體底部,所述第二主板設(shè)置于所述第三主板的正上方;所述第一主板設(shè)置于第四主板的正上方,所述第四主板設(shè)置于所述殼體中部,所述第一主板的中部設(shè)有第一孔位,所述第一孔位內(nèi)設(shè)有第一CPU組件,所述第四主板的中部設(shè)有第四孔位,所述第四孔位內(nèi)設(shè)有第四CPU組件,所述第一主板的頂面上設(shè)有散熱片,所述第四主板的底面上設(shè)有散熱風(fēng)扇,所述散熱片設(shè)置于所述第一CPU組件的正上方,所述散熱風(fēng)扇設(shè)置于所述第四CPU組件的正下方,且所述散熱風(fēng)扇設(shè)置于所述第四主板與殼體底部之間;所述第一主板的頂面右側(cè)設(shè)有復(fù)數(shù)個插槽,所述數(shù)據(jù)存儲件轉(zhuǎn)接裝置經(jīng)線束與所述插槽相連;所述第一主板的底部設(shè)有一插片,所述第一主板經(jīng)插片與所述第四主板頂部的插槽插接相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的使用PCIE的SSD檢測裝置,其特征在于:所述殼體上設(shè)有復(fù)數(shù)個通槽,所述通槽使所述殼體構(gòu)成頂部開口的鏤空結(jié)構(gòu)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的使用PCIE的SSD檢測裝置,其特征在于:所述數(shù)據(jù)存儲件轉(zhuǎn)接裝置設(shè)置于所述殼體的右側(cè),所述數(shù)據(jù)存儲件轉(zhuǎn)接裝置包括支架及設(shè)置于支架內(nèi)的兩組固態(tài)硬盤轉(zhuǎn)接裝置,所述支架內(nèi)設(shè)有一層板,兩組所述固態(tài)硬盤轉(zhuǎn)接裝置分別插設(shè)于所述層板的上方及下方,且經(jīng)線束與所述第一主板的插槽相連。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的使用PCIE的SSD檢測裝置,其特征在于:每組所述固態(tài)硬盤轉(zhuǎn)接裝置內(nèi)分別卡設(shè)有固態(tài)硬盤,兩組所述固態(tài)硬盤轉(zhuǎn)接裝置包括第一固態(tài)硬盤轉(zhuǎn)接裝置及第二固態(tài)硬盤轉(zhuǎn)接裝置,所述第一固態(tài)硬盤轉(zhuǎn)接裝置插設(shè)于所述層板的上方,所述第二固態(tài)硬盤轉(zhuǎn)接裝置插設(shè)于所述層板的下方。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的使用PCIE的SSD檢測裝置,其特征在于:所述第一固態(tài)硬盤轉(zhuǎn)接裝置包括第一殼體、設(shè)置于第一殼體內(nèi)的壓板及卡板,所述第一殼體為頂部開口及前端開口的中空結(jié)構(gòu),所述第一殼體左、右內(nèi)側(cè)壁的上分別設(shè)有一滑槽,所述滑槽平行于所述第一殼體的底板設(shè)置,所述壓板的兩側(cè)滑動設(shè)置于所述滑槽內(nèi);所述第一殼體底部兩側(cè)分別設(shè)有一定位塊,兩側(cè)所述定位塊內(nèi)分別設(shè)有一定位滑槽,所述定位滑槽由前至后傾斜向下設(shè)置,所述定位滑槽與所述第一殼體的底板之間呈5°~15°的夾角;所述壓板的中部設(shè)有一放料通槽,所述卡板放置于所述放料通槽內(nèi),所述卡板的前端面抵于所述放料通槽的前端面上,所述卡板頂面兩側(cè)的前后端分別設(shè)有一定位條,兩側(cè)所述定位條分別滑動設(shè)置于所述定位滑槽內(nèi)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的使用PCIE的SSD檢測裝置,其特征在于:所述第一殼體右側(cè)壁的頂部設(shè)有第一缺口,所述第一缺口正對所述卡板的右側(cè)設(shè)置;所述壓板的前端設(shè)有拉槽口;所述定位滑槽包括上定位滑槽及下定位滑槽,所述上定位滑槽設(shè)置于所述下定位滑槽的上方,且所述上定位滑槽與所述下定位滑槽相互平行設(shè)置。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的使用PCIE的SSD檢測裝置,其特征在于:所述第二固態(tài)硬盤轉(zhuǎn)接裝置包括定位板及設(shè)置于定位板四周邊緣的邊框,所述定位板前端的邊框上設(shè)有第二缺口,所述第二缺口的底部所述定位板的頂面齊平設(shè)置;所述定位板的后端設(shè)有一定位桿,所述定位桿靠近所述定位板后端邊框的內(nèi)緣面設(shè)置;所述定位桿與所述第二缺口之間還均布有復(fù)數(shù)個通孔,復(fù)數(shù)個所述通孔由前至后并排設(shè)置;還包括一卡位桿,所述卡位桿能夠與任一通孔卡接配合。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的使用PCIE的SSD檢測裝置,其特征在于:所述通孔為條形通孔;所述定位桿及所述卡位桿的前端分別與所述定位板之間設(shè)有一卡位間隙;每個所述通孔的兩側(cè)分別設(shè)有一輔助定位孔。
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