[實(shí)用新型]用于檢測(cè)物件表面凹陷或翹曲的接觸式測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201721085910.X
• 申請(qǐng)日: 2017-08-28
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN207688818U
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-08-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 鐘富全;季犖;沈杭標(biāo)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 晟銘電子（寧波）有限公司
• 主分類號(hào): G01B7/34
• 分類號(hào): G01B7/34
• 代理公司: 深圳中一專利商標(biāo)事務(wù)所 44237
• 代理人: 官建紅

本實(shí)用新型提供了一種快速檢測(cè)具有導(dǎo)電面的待測(cè)物件的表面凹陷或翹曲程度的接觸式檢測(cè)裝置，其包括導(dǎo)電底板、絕緣墊塊、導(dǎo)電接觸頂針、電源及發(fā)光二極管。所述電源根據(jù)所述多個(gè)導(dǎo)電接觸頂針是否接觸所述待測(cè)物件的所述導(dǎo)電面而構(gòu)成導(dǎo)電回路，用于決定是否供電至所述發(fā)光二極管，進(jìn)而指示用戶所述待測(cè)物件的表面凹陷或翹曲是否超過(guò)預(yù)設(shè)程度。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型提供了一種用于檢測(cè)物件表面凹陷或翹曲的接觸式測(cè)試裝置。

背景技術(shù)

為使產(chǎn)品質(zhì)量能夠被管控，特別需要檢測(cè)裝置以控管生產(chǎn)流程中所生產(chǎn)的產(chǎn)品質(zhì)量。而于現(xiàn)今技術(shù)中，檢測(cè)物件表面凹陷或翹曲的測(cè)試裝置經(jīng)常被應(yīng)用于評(píng)估產(chǎn)品表面受力程度。

已知的物件表面凹陷或翹曲的測(cè)試裝置通過(guò)三次元測(cè)量裝置以測(cè)量待測(cè)物品，然而已知的物件表面凹陷或翹曲的測(cè)試裝置需通過(guò)專業(yè)人員操作且費(fèi)時(shí)，無(wú)法滿足生產(chǎn)在線檢測(cè)物件表面的凹陷或翹曲的快速檢測(cè)。

本實(shí)用新型的發(fā)明人經(jīng)多年潛心研究，設(shè)計(jì)了一種檢測(cè)物件表面的凹陷或翹曲的裝置，以針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的缺失加以改善，進(jìn)而增進(jìn)產(chǎn)業(yè)上的實(shí)施利用。

實(shí)用新型內(nèi)容

基于上述已知技術(shù)的難點(diǎn)，本實(shí)用新型的目的在于提供一種快速檢測(cè)表面凹陷或翹曲的新裝置，以改善上述現(xiàn)有檢測(cè)技術(shù)的難點(diǎn)。

根據(jù)本實(shí)用新型的目的在于，提供一種接觸式測(cè)試裝置，包括：導(dǎo)電底板、絕緣墊塊、導(dǎo)電接觸頂針、電源及發(fā)光二極管。絕緣墊塊設(shè)置于導(dǎo)電底板上的第一區(qū)域，并用于承載待測(cè)物件；導(dǎo)電接觸頂針設(shè)置于導(dǎo)電底板的未設(shè)置絕緣墊塊的第二區(qū)域，其中導(dǎo)電接觸頂針與導(dǎo)電底板構(gòu)成電性連接；電源，具有第一電極及第二電極，第一電極與導(dǎo)電底板電性連接，第二電極與待測(cè)物件的導(dǎo)電面電性連接；發(fā)光二極管，串接于第一電極與待測(cè)物件的導(dǎo)電面之間，或串接于第二電極與導(dǎo)電底板之間；其中，電源根據(jù)導(dǎo)電接觸頂針是否接觸待測(cè)物件的導(dǎo)電面而構(gòu)成，用于決定是否供電至發(fā)光二極管，進(jìn)而指示用戶待測(cè)物件的表面凹陷或翹曲是否超過(guò)預(yù)設(shè)程度。

優(yōu)選地，當(dāng)待測(cè)物件未放置于絕緣墊塊，或待測(cè)物件放置于絕緣墊塊且其表面凹陷或翹曲未超過(guò)預(yù)設(shè)程度時(shí)，發(fā)光二極管不發(fā)光；當(dāng)待測(cè)物件放置于絕緣墊塊且其表面凹陷或翹曲超過(guò)預(yù)設(shè)程度時(shí)，導(dǎo)電底板、導(dǎo)電接觸頂針、發(fā)光二極管、待測(cè)物件的導(dǎo)電面及電源形成導(dǎo)通電路，使電流流經(jīng)發(fā)光二極管而令發(fā)光二極管發(fā)光。

優(yōu)選地，當(dāng)待測(cè)物件未放置于絕緣墊塊，或待測(cè)物件放置于絕緣墊塊且其表面凹陷或翹曲未超過(guò)預(yù)設(shè)程度時(shí)，發(fā)光二極管發(fā)光；

當(dāng)待測(cè)物件放置于絕緣墊塊且其表面凹陷或翹曲超過(guò)預(yù)設(shè)程度時(shí)，導(dǎo)電底板、導(dǎo)電接觸頂針、待測(cè)物件的導(dǎo)電面及電源形成短路電路，使電流不流經(jīng)發(fā)光二極管而令發(fā)光二極管不發(fā)光。

優(yōu)選地，本實(shí)用新型的接觸式測(cè)試裝置進(jìn)一步包括具有第一端、第二端及第三端的第一開(kāi)關(guān)，且選擇性將第一端與第二端導(dǎo)通，或?qū)⒌谝欢伺c第三端導(dǎo)通，其中第一端電性連接待測(cè)物件，第二端電性連接電源的第一電極，第三端電性連接至發(fā)光二極管進(jìn)而間接連接至電源的第一電極；以及具有第四端、第五端及第六端的第二開(kāi)關(guān)，第二開(kāi)關(guān)選擇性將第四端與第五端導(dǎo)通，或?qū)⒌谒亩伺c第六端導(dǎo)通，其中第四端電性連接至多個(gè)導(dǎo)電接觸頂針且電性連接至電源的第二電極，第五端電性連接至發(fā)光二極管進(jìn)而間接連接至電源的第一電極，第六端為浮接；其中，當(dāng)?shù)谝欢伺c第二端導(dǎo)通且第四端與第五端導(dǎo)通，發(fā)光二極管正常亮，當(dāng)?shù)谝欢伺c第三端導(dǎo)通且第四端與第六端導(dǎo)通，發(fā)光二極管正常滅。

優(yōu)選地，本實(shí)用新型的接觸式檢測(cè)裝置的第一端與第三端導(dǎo)通且第四端與第六端導(dǎo)通，且當(dāng)待測(cè)物件的凹陷超過(guò)默認(rèn)程度時(shí)，待測(cè)物件的導(dǎo)電面將與至少一個(gè)導(dǎo)電接觸頂針接觸，此時(shí)電路導(dǎo)通，發(fā)光二極管發(fā)光；當(dāng)待測(cè)物件的凹陷未超過(guò)默認(rèn)程度時(shí)，待測(cè)物件不與任何導(dǎo)電接觸頂針接觸，此時(shí)電路未導(dǎo)通，發(fā)光二極管維持正常滅而不發(fā)光。