[實(shí)用新型]用于檢測(cè)物件表面凹陷或翹曲的接觸式測(cè)試裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201721085910.X | 申請(qǐng)日: | 2017-08-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN207688818U | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-08-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鐘富全;季犖;沈杭標(biāo) | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 晟銘電子(寧波)有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01B7/34 | 分類(lèi)號(hào): | G01B7/34 |
| 代理公司: | 深圳中一專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所 44237 | 代理人: | 官建紅 |
| 地址: | 315800 浙江省*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 待測(cè)物件 翹曲 頂針 發(fā)光二極管 表面凹陷 導(dǎo)電接觸 電源 接觸式測(cè)試裝置 接觸式檢測(cè)裝置 本實(shí)用新型 導(dǎo)電底板 導(dǎo)電回路 絕緣墊塊 快速檢測(cè) 物件表面 導(dǎo)電面 凹陷 導(dǎo)電 預(yù)設(shè) 供電 檢測(cè) | ||
1.一種用于檢測(cè)物件表面凹陷或翹曲的接觸式測(cè)試裝置,其特征是,用于快速檢測(cè)具有導(dǎo)電面的待測(cè)物件的表面凹陷或翹曲程度,所述接觸式測(cè)試裝置包括:
導(dǎo)電底板;
至少一個(gè)絕緣墊塊,設(shè)置于所述導(dǎo)電底板上的第一區(qū)域,且承載所述待測(cè)物件;
多個(gè)導(dǎo)電接觸頂針,設(shè)置于所述導(dǎo)電底板的未設(shè)置所述絕緣墊塊的第二區(qū)域,所述多個(gè)導(dǎo)電接觸頂針與所述導(dǎo)電底板構(gòu)成電性連接;
電源,具有第一電極及第二電極,所述第一電極與所述導(dǎo)電底板電性連接,所述第二電極與所述待測(cè)物件的所述導(dǎo)電面電性連接,所述電源根據(jù)所述多個(gè)導(dǎo)電接觸頂針是否接觸所述待測(cè)物件的所述導(dǎo)電面而構(gòu)成導(dǎo)電回路;以及
發(fā)光二極管,串接于所述第一電極與所述待測(cè)物件的所述導(dǎo)電面之間,或串接于所述第二電極與所述導(dǎo)電底板之間,且所述電源是否供電至所述發(fā)光二極管取決于所述導(dǎo)電回路的構(gòu)成,進(jìn)而指示用戶(hù)所述待測(cè)對(duì)象的表面凹陷或翹曲是否超過(guò)預(yù)設(shè)程度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)物件表面凹陷或翹曲的接觸式測(cè)試裝置,其特征是,進(jìn)一步包括:
第一開(kāi)關(guān),所述第一開(kāi)關(guān)具有第一端、第二端及第三端,且選擇性地將所述第一端與所述第二端導(dǎo)通,或?qū)⑺龅谝欢伺c所述第三端導(dǎo)通,所述第一端電性連接所述待測(cè)物件,所述第二端電性連接所述電源的所述第一電極,所述第三端電性連接至所述發(fā)光二極管進(jìn)而間接連接至所述電源的所述第一電極;以及
第二開(kāi)關(guān),所述第二開(kāi)關(guān)具有第四端、第五端及第六端,且選擇性將所述第四端與所述第五端導(dǎo)通,或?qū)⑺龅谒亩伺c所述第六端導(dǎo)通,所述第四端電性連接至所述多個(gè)導(dǎo)電接觸頂針且電性連接至所述電源的所述第二電極,所述第五端電性連接至所述發(fā)光二極管進(jìn)而間接連接至所述電源的所述第一電極,所述第六端為浮接;
當(dāng)所述第一端與所述第二端導(dǎo)通且第四端與所述第五端導(dǎo)通,所述發(fā)光二極管正常亮,當(dāng)所述第一端與所述第三端導(dǎo)通且所述第四端與所述第六端導(dǎo)通,所述發(fā)光二極管正常滅。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)物件表面凹陷或翹曲的接觸式測(cè)試裝置,其特征是,所述導(dǎo)電接觸頂針系根據(jù)所述待測(cè)物件表面凹陷或翹曲的所述預(yù)設(shè)程度,而調(diào)整所述導(dǎo)電接觸頂針與所述待測(cè)物件的所述導(dǎo)電面的接觸距離。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)物件表面凹陷或翹曲的接觸式測(cè)試裝置,其特征是,各所述導(dǎo)電接觸頂針包括:
頂針頭,設(shè)置于所述導(dǎo)電接觸頂針的頂端;
彈簧,抵頂于所述頂針頭的底部;以及
頂針底桿,用于容置于所述彈簧及所述頂針頭,所述頂針底桿的一端抵頂于所述頂針頭,且所述頂針底桿的另一端設(shè)置有與所述導(dǎo)電底板固定的固定結(jié)構(gòu)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的用于檢測(cè)物件表面凹陷或翹曲的接觸式測(cè)試裝置,其特征是,所述導(dǎo)電底板與所述導(dǎo)電接觸頂針的所述另一端分別具有相合的螺紋結(jié)構(gòu)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢測(cè)物件表面凹陷或翹曲的接觸式測(cè)試裝置,其特征是,包括相對(duì)設(shè)置的兩個(gè)限位塊,設(shè)置于所述絕緣墊塊上,所述兩個(gè)限 位塊分別相對(duì)設(shè)置有多條容置軌道,所述容置軌道容置固定滾棒的一端,所述固定滾棒的兩端分別抵頂于所述容置軌道,所述固定滾棒通過(guò)所述容置軌道于所述容置軌道長(zhǎng)度范圍內(nèi)相對(duì)所述限位塊滑動(dòng),所述待測(cè)物件通過(guò)所述固定滾棒,不與所述絕緣墊塊接觸而容置于所述二限位塊之間。
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