[實用新型]一種芯片測試裝置

有效

• 申請號: 201720931259.7
• 申請日: 2017-07-28
• 公開（公告）號: CN207081752U
• 公開（公告）日: 2018-03-09
• 發明（設計）人: 劉凈月;龐明奇;趙鵬;劉路揚;陳波;楊景陽
• 申請（專利權）人: 航天科工防御技術研究試驗中心
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 北京風雅頌專利代理有限公司11403
• 代理人: 張擁

技術領域

本實用新型涉及芯片測試技術領域，特別是指一種芯片測試裝置。

背景技術

隨著科學技術的發展，電子芯片已經廣泛應用于各種電子產品中。在完成芯片大批量生產后，需要對芯片的合理性進行檢測，以此來挑選出不合格的芯片，而保留合格的芯片。隨著集成電路規模的增大，簡化目前芯片的測試過程能夠極大的提高生產效率。目前，基于現有的芯片的測試過程是先將待測芯片安裝在測試板的測試插座上，然后擰緊旋鈕，最后鼠標點擊上位機測試程序的開始按鈕，開始一次測試。此過程相對繁瑣，極大影響生產效率。

實用新型內容

有鑒于此，本實用新型的目的在于提出一種芯片測試裝置，該裝置可以簡化目前芯片的測試過程，先將待測芯片安裝在測試板的測試插座上，在擰緊插座旋鈕的同時即可觸發上位機的測試程序開始按鈕，開始一次測試。

基于上述目的，本實用新型提供的一種芯片測試裝置，包括測試插座和控制盒；所述測試插座包括芯片測試座和芯片測試蓋，所述芯片測試蓋包括殼體和旋鈕，所述旋鈕下端設有第一接觸點，所述殼體上設有與所述第一接觸點相對應的第二接觸點，所述第一接觸點和所述第二接觸點接觸時，觸發控制盒的啟動；所述控制盒內設置有單片機、繼電器和上位機，所述單片機與所述繼電器電連接，用于控制所述繼電器的閉合，所述繼電器與所述上位機電連接，用于啟動所述上位機的測試程序。

本實用新型中，控制盒能夠控制上位機的測試程序開始按鈕，同時令測試插座旋鈕作為該控制盒的觸發開關。即，將待測芯片放置在測試插座上，擰緊旋鈕的同時會啟動控制盒內單片機的啟動，單片機上電之后控制繼電器閉合去啟動上位機測試程序。

優選的，所述單片機上設有上電開關，所述第一接觸點與所述上電開關的第一極相連，所述第二接觸點與所述上電開關的第二極相連，旋鈕鎖緊待測芯片和測試插座時，所述第一接觸點和所述第二接觸點接觸，使上電開關閉合，觸發單片機的啟動。

優選的，所述旋鈕的下端固定連接有螺紋管，所述殼體中間設置有中空部，所述中空部的內壁上設置有內螺紋，所述螺紋管與所述中空部的內螺紋相配合。

優選的，所述第一接觸點為動觸點，所述第二接觸點為靜觸點。

在本實用新型中，動觸點與單片機的上電開關的第一極相連，靜觸點與單片機的上電開關的第二極相連，動觸點設置在旋鈕的下端，靜觸點設置在殼體上，旋轉旋鈕的過程中，動觸點會逐漸與殼體上的靜觸點接近，當擰緊旋鈕后，動觸點與靜觸點接觸，啟動單片機的上電開關，從而觸發單片機的啟動，之后控制繼電器閉合去啟動上位機的測試程序。

優選的，所述旋鈕的下端設有主桿，所述主桿和所述第一接觸點之間設置有彈性緩沖部件。

較佳的，所述彈性緩沖部件為彈性緩沖墊層。

在本實用新型中，不同類型的芯片厚度不同，芯片厚度的不同決定了旋鈕擰緊程度不同，從而決定了第一接觸點對第二接觸點向下作用力不同，為了防止第一接觸點對第二接觸點向下作用力過大，對第二觸點造成損害，第一接觸點的上方設置有緩沖部件，用于緩沖第一接觸點對第二接觸點向下的作用力。

優選的，所述主桿內設有伸縮桿，所述伸縮桿滑動連接在所述主桿內，所述伸縮桿外端設有第一接觸點。

在本實用新型中，主桿內設有伸縮桿，可以適應不同厚度的待測芯片。

優選的，所述單片機為AT89C51單片機。

優選的，所述芯片測試蓋外側的一邊活動連接有鉤扣，所述芯片測試座的一邊設置有和所述鉤扣相卡合的卡口。當芯片測試蓋和芯片測試座合上后，鉤扣就能鉤住卡口。

優選的，所述芯片測試座的另一邊設置有兩垂直的支撐塊，該邊與設置有所述卡口的一邊相對。支撐塊上設置有鉸鏈軸，這樣芯片測試蓋就可以靈活的打開或合上了。

優選的，所述殼體下側設置有壓板，所述壓塊下端的中間位置設置有凸塊，所述芯片測試座上設有容納所述凸塊的通腔。當芯片測試座和芯片測試蓋合上后，凸塊就容納在通腔內，壓緊待測芯片。

從上面所述可以看出，本實用新型提供的一種芯片測試裝置，與現有技術中芯片的測試過程比較，省略了人力手工點擊上位機鼠標去觸發測試程序開始按鈕的過程，當待測芯片安置完成后，自動實現一次測試。在大規模芯片的測試作業中，有助于提高工作和生產效率，實用性非常強。

附圖說明

圖1為本實用新型實施例的芯片測試裝置的原理圖；

圖2為本實用新型實施例的第一接觸點、第二接觸點與單片機的上電開關的電連接示意圖；

圖3為本實用新型實施例的測試插座的整體結構示意圖；