[實用新型]一種芯片測試裝置

有效

• 申請號: 201720931259.7
• 申請日: 2017-07-28
• 公開（公告）號: CN207081752U
• 公開（公告）日: 2018-03-09
• 發明（設計）人: 劉凈月;龐明奇;趙鵬;劉路揚;陳波;楊景陽
• 申請（專利權）人: 航天科工防御技術研究試驗中心
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 北京風雅頌專利代理有限公司11403
• 代理人: 張擁

1.一種芯片測試裝置，其特征在于，包括測試插座和控制盒；所述測試插座包括芯片測試座和芯片測試蓋，所述芯片測試蓋包括殼體和旋鈕，所述旋鈕下端設有第一接觸點，所述殼體上設有與所述第一接觸點相對應的第二接觸點，所述第一接觸點和所述第二接觸點接觸時，觸發控制盒的啟動；所述控制盒內設置有單片機、繼電器和上位機，所述單片機與所述繼電器電連接，用于控制所述繼電器的閉合，所述繼電器與所述上位機電連接，用于啟動所述上位機的測試程序。

2.根據權利要求1所述的芯片測試裝置，其特征在于，所述單片機上設有上電開關，所述第一接觸點與所述上電開關的第一極相連，所述第二接觸點與所述上電開關的第二極相連，旋鈕鎖緊待測芯片和測試插座時，所述第一接觸點和所述第二接觸點接觸，使上電開關閉合，觸發單片機的啟動。

3.根據權利要求1所述的芯片測試裝置，其特征在于，所述旋鈕的下端固定連接有螺紋管，所述殼體中間設置有中空部，所述中空部的內壁上設置有內螺紋，所述螺紋管與所述中空部的內螺紋相配合。

4.根據權利要求1所述的芯片測試裝置，其特征在于，所述第一接觸點為動觸點，所述第二接觸點為靜觸點。

5.根據權利要求1所述的芯片測試裝置，其特征在于，所述旋鈕的下端設有主桿，所述主桿和所述第一接觸點之間設置有彈性緩沖部件。

6.根據權利要求5所述的芯片測試裝置，其特征在于，所述彈性緩沖部件為彈性緩沖墊層。

7.根據權利要求5所述的芯片測試裝置，其特征在于，所述主桿內設有伸縮桿，所述伸縮桿滑動連接在所述主桿內，所述伸縮桿外端設有第一接觸點。

8.根據權利要求1所述的芯片測試裝置，其特征在于，所述芯片測試蓋外側的一邊活動連接有鉤扣，所述芯片測試座的一邊設置有和所述鉤扣相卡合的卡口。

9.根據權利要求8所述的芯片測試裝置，其特征在于，所述芯片測試座的另一邊設置有兩垂直的支撐塊，該邊與設置有所述卡口的一邊相對。

10.根據權利要求1所述的芯片測試裝置，其特征在于，所述殼體下側設置有壓板，所述壓板下端的中間位置設置有凸塊，所述芯片測試座上設有容納所述凸塊的通腔。