[實(shí)用新型]全自動(dòng)擴(kuò)膜機(jī)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201720913329.6 | 申請(qǐng)日: | 2017-07-26 |
| 公開(公告)號(hào): | CN207097786U | 公開(公告)日: | 2018-03-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 魏峰;蔡家豪;馬建華;吳釗;陳明浩;魏瑩;王亞杰;邱智中;張家宏 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 安徽三安光電有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/67 | 分類號(hào): | H01L21/67 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 241000 安徽*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 全自動(dòng) 擴(kuò)膜機(jī) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型屬于半導(dǎo)體設(shè)備領(lǐng)域,尤其涉及一種自動(dòng)夾取片源、放置片源,檢測(cè)擴(kuò)膜歪異常,調(diào)節(jié)晶粒位置及控制擴(kuò)膜大小的全自動(dòng)擴(kuò)膜機(jī)。
背景技術(shù)
目前常規(guī)晶粒的制作方法為:提供一襯底,在襯底通過(guò)MOCVD方法進(jìn)行外延沉積形成外延片,然后將外延片切割成多個(gè)陣列的晶粒,晶粒置于藍(lán)膜或者白膜上,為了便于后續(xù)將不同規(guī)格的晶格進(jìn)行分選,需先將藍(lán)膜或者白膜通過(guò)擴(kuò)膜機(jī)拉伸,使其上晶粒的間距擴(kuò)大。
目前常用的擴(kuò)膜機(jī)需人工操作的部分較多,例如手動(dòng)放片和取片,并且因無(wú)檢測(cè)擴(kuò)膜尺寸機(jī)構(gòu)而導(dǎo)致擴(kuò)膜效率降低,產(chǎn)生異常片源續(xù)流,降低良率的問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型公開了全自動(dòng)擴(kuò)膜機(jī),至少包括平臺(tái),位于所述平臺(tái)上的進(jìn)料區(qū)、擴(kuò)膜機(jī)構(gòu)、出料區(qū),以及主控單元,所述擴(kuò)膜機(jī)構(gòu)位于進(jìn)料區(qū)和出料區(qū)的中間,所述進(jìn)料區(qū)和出料區(qū)分別放置有存放晶片的第一料盒和第二料盒,所述主控單元控制擴(kuò)膜機(jī)的運(yùn)作,其特征在于:還包括第一夾取機(jī)構(gòu)和第二夾取機(jī)構(gòu),所述第一夾取機(jī)構(gòu)的頂端包括感應(yīng)晶片位置的第一感應(yīng)裝置,所述第二夾取機(jī)構(gòu)頂端包括吸附晶片的真空吸附裝置,所述擴(kuò)膜機(jī)構(gòu)上設(shè)置有復(fù)數(shù)個(gè)感應(yīng)擴(kuò)膜尺寸的第二感應(yīng)裝置,所述擴(kuò)膜機(jī)構(gòu)上方還設(shè)置有掃描裝置以及抓取晶粒的第三夾取機(jī)構(gòu)。
優(yōu)選的,所述第一感應(yīng)裝置、第二感應(yīng)裝置均為光電感應(yīng)裝置。
優(yōu)選的,所述第一感應(yīng)裝置、第二感應(yīng)裝置均包括一光源和一傳感器
優(yōu)選的,所述擴(kuò)膜機(jī)構(gòu)至少包括放置晶片的載臺(tái),以及置于所述載臺(tái)上方的下壓環(huán)。
優(yōu)選的,所述第二感應(yīng)裝置包括分布于載臺(tái)外周的復(fù)數(shù)個(gè)傳感器和分布于所述下壓環(huán)上的復(fù)數(shù)個(gè)光源,所述光源與傳感器位置對(duì)應(yīng)。
優(yōu)選的,所述下壓環(huán)上設(shè)置有呈“十”字排列的滑軌,所述復(fù)數(shù)個(gè)光源置于所述滑軌上,并沿滑軌移動(dòng)。
優(yōu)選的,所述第二感應(yīng)裝置的數(shù)目大于或等于4。
優(yōu)選的,所述第三夾取機(jī)構(gòu)頂端具有吸附晶粒的吸嘴。
優(yōu)選的,所述掃描裝置為CCD。
本實(shí)用新型在現(xiàn)有擴(kuò)膜機(jī)的基礎(chǔ)上,進(jìn)行改進(jìn),增設(shè)第一夾取機(jī)構(gòu)、第二夾取機(jī)構(gòu)、第三夾取機(jī)構(gòu)和掃描裝置以及在擴(kuò)膜機(jī)構(gòu)上設(shè)置光電感應(yīng)裝置,從而實(shí)現(xiàn)擴(kuò)膜機(jī)的自動(dòng)夾取片源、放置片源,檢測(cè)擴(kuò)膜歪異常,調(diào)節(jié)晶粒位置及控制擴(kuò)膜大小的功能,形成全自動(dòng)擴(kuò)膜機(jī)。從而節(jié)省人力、減少異常片源續(xù)流,提高良率。
附圖說(shuō)明
圖1為本實(shí)用新型之全自動(dòng)擴(kuò)膜機(jī)側(cè)視結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2為本實(shí)用新型之下壓環(huán)俯視結(jié)構(gòu)示意圖。
圖3為本實(shí)用新型之載臺(tái)俯視結(jié)構(gòu)示意圖。
附圖標(biāo)注:10.平臺(tái);20.擴(kuò)膜機(jī)構(gòu);21.載臺(tái);211.傳感器;22.下壓環(huán);221.光源;222.滑軌;30.主控單元;41.第一料盒;42.第二料盒;50.第一夾取機(jī)構(gòu);51.第一感應(yīng)裝置;60.第二夾取機(jī)構(gòu);61.真空吸附裝置;70.掃描裝置;80.第三夾取機(jī)構(gòu)。
具體實(shí)施方式
在下列段落中參照附圖以舉例方式更具體地描述本實(shí)用新型。根據(jù)下面說(shuō)明和權(quán)利要求書,本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)和特征將更清楚。需說(shuō)明的是,附圖均采用非常簡(jiǎn)化的形式且均使用非精準(zhǔn)的比例,僅用以方便、明晰地輔助說(shuō)明本實(shí)用新型實(shí)施例的目的。
實(shí)施例1
參看附圖1,本實(shí)用新型公開了全自動(dòng)擴(kuò)膜機(jī),至少包括平臺(tái)10,位于平臺(tái)10上的進(jìn)料區(qū)、擴(kuò)膜機(jī)構(gòu)20、出料區(qū),以及主控單元30,擴(kuò)膜機(jī)構(gòu)20位于進(jìn)料區(qū)和出料區(qū)的中間,進(jìn)料區(qū)和出料區(qū)分別放置有存放晶片的第一料盒41和第二料盒42,主控單元30控制擴(kuò)膜機(jī)的運(yùn)作,其還包括第一夾取機(jī)構(gòu)50和第二夾取機(jī)構(gòu)60,第一夾取機(jī)構(gòu)50的頂端包括感應(yīng)晶片位置的第一感應(yīng)裝置51,第二夾取機(jī)構(gòu)60頂端包括吸附晶片的真空吸附裝置61,擴(kuò)膜機(jī)構(gòu)20上方還設(shè)置有掃描裝置70以及抓取晶粒的第三夾取機(jī)構(gòu)80。第三夾取機(jī)構(gòu)80頂端具有吸附晶粒的吸嘴81。第一感應(yīng)裝置51為光電感應(yīng)裝置,由光源和傳感器組成。掃描裝置70為CCD。擴(kuò)膜機(jī)構(gòu)20至少包括放置晶片的載臺(tái)21,以及置于載臺(tái)21上方的下壓環(huán)22。晶片則是有復(fù)數(shù)個(gè)陣列的晶粒粘附于藍(lán)膜或者白膜上形成,擴(kuò)膜即拉伸藍(lán)膜或者白膜,使晶粒之間的間距增大。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





