[實用新型]一種發光器件測試系統

有效

• 申請號: 201720803925.9
• 申請日: 2017-07-04
• 公開（公告）號: CN207050958U
• 公開（公告）日: 2018-02-27
• 發明（設計）人: 楊波;劉振輝;韋日文;李景均
• 申請（專利權）人: 深圳市矽電半導體設備有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及發光器件檢測領域，特別涉及一種發光器件測試系統。

背景技術

有一種二極管發光器件，電極面與發光面相對。在發光器件測試系統中，通過導電物體接觸電極面的P極和N極，點亮發光器件，對其光參數進行檢測。發光器件測試系統中的載片臺用于承載被測發光器件，光參數測試裝置用于收集被測發光器件導通時發光面的光參數，在光參數測試裝置上升至靠近載片臺中被測發光器件以進行測試的位置時，由于光參數測試裝置只做豎向移動，水平方向不移動，而當載片臺在水平方向移動以調節被測發光器件的位置時，容易發生光參數測試裝置與載片臺異常碰撞的情況，造成光參數測試裝置的損傷。

實用新型內容

本實用新型的目的是提供一種發光器件測試系統，具有能夠保護的光參數測試裝置的優點。

本實用新型的上述技術目的是通過以下技術方案得以實現的：一種發光器件測試系統，包括：機座；水平滑移連接于所述機座上、用于承載被測發光器件的載片臺；設于所述機座上、用于對被測發光器件的光參數進行收集并測試的光參數測試裝置；以及，用于對所述光參數測試裝置進行保護的導電保護結構。

通過采用上述技術方案，在發光器件測試系統的測試過程中，光參數測試裝置接近載片臺的位置以進行對被測發光器件的光參數進行收集并測試，當載片臺在水平方向移動以調整被測發光器件的位置時，導電保護結構能夠有效地對光參數測試裝置進行保護。

本實用新型的進一步設置，所述載片臺包括：用于承載發光器件的承載臺；設于承載臺上、用于驅動承載臺旋轉以實現發光器件在圓周方向調整位置的旋轉機構；設于承載臺下、用于驅動承載臺縱向移動以靠近或遠離測試位置的第一傳輸機構；以及，設于第一傳輸機構下、用于驅動第一傳輸機構及承載臺橫向移動以靠近或遠離測試位置的第二傳輸機構。

通過采用上述技術方案，第一傳輸機構可驅動承載臺縱向移動以靠近或遠離測試位置，第二傳輸機構可驅動第一傳輸機構及承載臺橫向移動以靠近或遠離測試位置，旋轉機構用于驅動承載臺旋轉以實現發光器件在圓周方向調整，發光器件測試系統進行測試時，將被測發光器件置于承載臺上，可以很方便地通過第一傳輸機構及第二傳輸機構將承載臺向測試位置移動并進行調整至測試位置，然后通過旋轉機構對承載臺的位置進行進一步的調整，使承載臺準確地到達測試位置以使測量數據較為準確；測試完后，通過第一傳輸機構及第二傳輸機構將承載臺退出，以便取下被測發光器件；從而載片臺具有在輸送和調節過程中較為方便的優點。

本實用新型的進一步設置，所述旋轉機構包括：設于所述安裝座上的電機；以及，設于所述安裝座上、受所述電機驅動以帶動所述承載臺旋轉的傳動件；所述第一傳輸機構包括：滑移座；若干設于所述滑移座上、供所述承載臺滑移的第一導軌；以及，驅動所述承載臺在所述第一導軌上滑移的第一驅動件；所述第二傳輸機構包括：固定座，所述固定座上設有供所述光參數測試裝置容置的讓位缺口；若干設于所述固定座上、供所述滑移座滑移的第二導軌；以及，驅動所述滑移座在所述第二導軌上滑移的第二驅動件。

通過采用上述技術方案，在進行對承載臺圓周方向調整時，安裝座上的電機轉動，受電機驅動的傳動件帶動承載臺旋轉，以使承載臺準確地到達測試位置；第一驅動件驅動承載臺在滑移座上的第一導軌上滑移，以使承載臺靠近或遠離測試位置，便于承載臺的輸送和調節；承載臺通過第一導軌滑移，使承載臺在輸送和調節的過程更為穩定；第二驅動件驅動滑移座在固定座上的第二導軌上滑移，帶動滑移座上的承載臺移動，以使承載臺靠近或遠離測試位置，便于承載臺的輸送和調節；滑移座通過第二導軌滑移，使滑移座和承載臺在輸送和調節的過程更為穩定。

本實用新型的進一步設置，所述第一驅動件及第二驅動件均為絲杠。

通過采用上述技術方案，絲杠具有傳動效率高，定位較為精準的優點，從而在第一傳輸機構及第二傳輸機構對承載臺進行傳輸和調節的過程中，較為精準和穩定。

本實用新型的進一步設置，所述光參數測試裝置包括：設于機座上、用于對被測發光器件的光參數進行收集并測試的收光組件；以及，用于驅動所述收光組件靠近所述載片臺中被測發光器件的位置以進行光參數收集或遠離所述載片臺以便所述載片臺移動至退片位置以取下被測元器件的驅動機構。