[實用新型]一種發光器件測試系統

有效

• 申請號: 201720803925.9
• 申請日: 2017-07-04
• 公開（公告）號: CN207050958U
• 公開（公告）日: 2018-02-27
• 發明（設計）人: 楊波;劉振輝;韋日文;李景均
• 申請（專利權）人: 深圳市矽電半導體設備有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種發光器件測試系統，其特征在于，包括：

機座(1)；

水平滑移連接于所述機座(1)上、用于承載被測發光器件的載片臺(2)；

設于所述機座(1)上、用于對被測發光器件的光參數進行收集并測試的光參數測試裝置(3)；以及，

用于對所述光參數測試裝置(3)進行保護的導電保護結構(4)。

2.根據權利要求1所述的一種發光器件測試系統，其特征在于，所述載片臺(2)包括：

用于承載發光器件的承載臺(21)；

設于所述承載臺(21)上、用于驅動所述承載臺(21)旋轉以實現被測發光器件在圓周方向調整位置的旋轉機構(22)；

設于所述承載臺(21)下、用于驅動所述承載臺(21)縱向移動以靠近或遠離測試位置的第一傳輸機構；以及，

設于第一傳輸機構下、用于驅動第一傳輸機構及承載臺(21)橫向移動以靠近或遠離測試位置的第二傳輸機構。

3.根據權利要求2所述的一種發光器件測試系統，其特征在于，所述承載臺(21)設有安裝座(29)，所述旋轉機構(22)包括：

設于所述安裝座(29)上的電機(221)；以及，

設于所述安裝座(29)上、受所述電機(221)驅動以帶動所述承載臺(21)旋轉的傳動件(222)；

所述第一傳輸機構包括：

滑移座(23)；

若干設于所述滑移座(23)上、供所述承載臺(21)滑移的第一導軌(24)；以及，

驅動所述承載臺(21)在所述第一導軌(24)上滑移的第一驅動件(25)；

所述第二傳輸機構包括：

固定座(26)，所述固定座(26)上設有供所述光參數測試裝置(3)容置的讓位缺口(6)；

若干設于所述固定座(26)上、供所述滑移座(23)滑移的第二導軌(27)；以及，

驅動所述滑移座(23)在所述第二導軌(27)上滑移的第二驅動件(28)。

4.根據權利要求3所述的一種發光器件測試系統，其特征在于，所述第一驅動件(25)及第二驅動件(28)均為絲杠。

5.根據權利要求1所述的一種發光器件測試系統，其特征在于，所述光參數測試裝置(3)包括：

設于機座(1)上、用于對被測發光器件的光參數進行收集并測試的收光組件(31)；以及，

用于驅動所述收光組件(31)靠近所述載片臺(2)中被測發光器件的位置以進行光參數收集或遠離所述載片臺(2)以便所述載片臺(2)移動至退片位置以取下被測元器件的驅動機構(32)。

6.根據權利要求5所述的一種發光器件測試系統，其特征在于，所述收光組件(31)包括：

用于與被測發光器件的發光面接觸以收集被測發光器件的光參數的積分球(311)；

承載所述積分球(311)的積分球安裝座(312)；

用于夾持所述積分球(311)的積分球夾具(313)；以及，

與所述積分球(311)連接、用于接受并分析所述積分球(311)所收集的光參數的光學測試件；

所述驅動機構(32)包括：

穿設于所述機座(1)的固定板(321)；

滑移連接于所述固定板(321)上、與所述安裝座(29)固定的移動座(322)；

設于所述固定板(321)一側的絲杠(323)，所述絲杠(323)的螺母座連接于所述移動座(322)；以及，用于驅動所述絲杠(323)活動的驅動電機(324)。

7.根據權利要求6所述的一種發光器件測試系統，其特征在于，所述固定板(321)上設有滑軌(325)，所述移動座(322)上設有在所述滑軌(325)上滑移的滑塊(326)。

8.根據權利要求5所述的一種發光器件測試系統，其特征在于，所述導電保護結構(4)包括：

控制中心；

設于所述載片臺(2)上、與所述控制中心連接的第一導電件(41)；以及，

設于所述收光組件(31)上、與所述控制中心連接的、用于與所述第一導電件(41)導通的第二導電件(42)，所述第一導電件(41)及所述第二導電件(42)接觸導通，以觸發所述控制中心控制所述移動組件停止移動以防止所述收光組件(31)撞傷。