[實用新型]一種用于OLED壽命加速試驗的溫度測控模組

有效

• 申請號: 201720700997.0
• 申請日: 2017-06-16
• 公開（公告）號: CN207050886U
• 公開（公告）日: 2018-02-27
• 發明（設計）人: 朱騰飛;姜程東;慎月強;王聰
• 申請（專利權）人: 杭州市質量技術監督檢測院
• 主分類號: G01K13/00
• 分類號: G01K13/00
• 代理公司: 杭州之江專利事務所(普通合伙)33216
• 代理人: 張慧英

技術領域

本實用新型涉及一種溫度測控模組，尤其涉及一種用于OLED壽命加速試驗的溫度測控模組。

背景技術

在現代科學中，關于半導體(LED)照明產品壽命測試的研究非常豐富，業界誕生了LED產品壽命加速測試系統等設備裝置。其基本原理為：在封閉的環境試驗箱內，布置溫度測量單元對每一個被測LED樣品進行溫度實時監測；從而通過分析溫度數據及一定周期樣品光參數衰減程度推算其壽命曲線?，F有LED壽命加速試驗系統試驗對象是LED器件等單顆點光源，其控溫、測溫方式是在被測LED上固定一個溫度探頭，即時記錄溫度數據。在此類系統中，準確測量樣品溫度是關鍵的技術環節。

對于新型有機半導體照明產品(OLED)，由于其發光機制與LED接近，因而在壽命衰減原理及試驗上接近LED。但不同于LED的點光源結構，OLED光源具有平面幾何結構及平面發光、平面發熱特性。研究與實驗表明，OLED正常工作時，整個平面光源上熱學溫度分布十分不均勻，根據尺寸不同，在OLED不同部位通常有3-5℃溫差，這一溫度差異使得目前的LED溫控監測手段及壽命加速測試系統無法滿足可靠推算OLED這一新照明產品壽命的要求。

實用新型內容

本實用新型為克服上述的不足之處，目的在于提供一種用于OLED壽命加速試驗的溫度測控模組，本實用新型結構簡單，方便操作，可以消除OLED溫度分布不均勻的缺陷以及有誤差的溫度值，得到準確的綜合溫度數據，保證壽命加速實驗數據的可靠性。

本實用新型是通過以下技術方案達到上述目的：一種用于OLED壽命加速試驗的溫度測控模組，包括：若干個測溫探頭、連接線、溫度測試儀、導熱基座；測溫探頭分散設在OLED平板上，測溫探頭通過連接線與溫度測試儀連接；OLED平板設于導熱基座上方，OLED平板的發光面向上，OLED平板的背面朝向導熱基座，導熱基座用于散熱。

作為優選，所述的測溫探頭優選至少有五個。

作為優選，所述的測溫探頭緊貼在OLED平板的背面，其中一個測溫探頭設在OLED平板的中心。

作為優選，所述的導熱基座的上表面帶有空槽。

作為優選，所述導熱基座的幾何尺寸大于OLED平板的幾何尺寸。

本實用新型的有益效果在于：(1)本實用新型可以得到可靠的樣品溫度數據，進而可以實現推算OLED壽命時間及分析OLED衰減程度等目的；(2)本實用新型消除了OLED溫度分布不均勻的缺陷，以及有誤差的溫度值，得到準確的綜合溫度數據，用以保證壽命加速實驗數據的可靠性。

附圖說明

圖1是本實用新型實施例的結構示意圖1；

圖2是本實用新型實施例的結構示意圖2。

具體實施方式

下面結合具體實施例對本實用新型進行進一步描述，但本實用新型的保護范圍并不僅限于此：

實施例：如圖1、圖2所示，一種用于OLED壽命加速試驗的溫度測控模組由五個測溫探頭1、連接線2、溫度測試儀3、導熱基座4組成；測溫探頭1分散設在OLED平板5上，測溫探頭1通過連接線2與溫度測試儀3連接；OLED平板5設于導熱基座4上方，OLED平板5的發光面向上，OLED平板5的背面朝向導熱基座4，導熱基座4用于散熱。其中圖2中左下角和右下角的矩形分別表示OLED平板的正電極與負電極。

本實施例以一尺寸100*100mm的OLED平板為例，OLED平板上有正、負兩電極，電極用于連接直流電源，從而實現OLED發光；OLED平板5放置于一導熱基座4上，且發光面朝上，背面朝導熱基座4，OLED平板5通過接觸導熱基座4進行整體散熱，導熱基座4的幾何尺寸大于OLED平板5的尺寸；在OLED平板5背面，充分選取并合理排布一組測溫點(測溫點1、測溫點2、……、測溫點5)。

其中，測溫點的數量及選位設定依據為：根據OLED平板不同幾何尺寸，在樣品平面范圍均勻劃分網格狀區域，在各區域內選取一個代表測溫點，同時在OLED平面中心位置設定一個中心測溫點。以此選出的測溫點陣能可靠呈現OLED不同區間的實際溫度，也能準確反映OLED平面溫度差異情況。