[實用新型]一種用于OLED壽命加速試驗的溫度測控模組有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201720700997.0 | 申請日: | 2017-06-16 |
| 公開(公告)號: | CN207050886U | 公開(公告)日: | 2018-02-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 朱騰飛;姜程東;慎月強(qiáng);王聰 | 申請(專利權(quán))人: | 杭州市質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督檢測院 |
| 主分類號: | G01K13/00 | 分類號: | G01K13/00 |
| 代理公司: | 杭州之江專利事務(wù)所(普通合伙)33216 | 代理人: | 張慧英 |
| 地址: | 310019 浙*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 oled 壽命 加速 試驗 溫度 測控 模組 | ||
1.一種用于OLED壽命加速試驗的溫度測控模組,其特征在于,包括:若干個測溫探頭(1)、連接線(2)、溫度測試儀(3)、導(dǎo)熱基座(4);測溫探頭(1)分散設(shè)在OLED平板(5)上,測溫探頭(1)通過連接線(2)與溫度測試儀(3)連接;OLED平板(5)設(shè)于導(dǎo)熱基座(4)上方,OLED平板(5)的發(fā)光面向上,OLED平板(5)的背面朝向?qū)峄?4),導(dǎo)熱基座(4)用于散熱。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于OLED壽命加速試驗的溫度測控模組,其特征在于:所述的測溫探頭(1)優(yōu)選至少有五個。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于OLED壽命加速試驗的溫度測控模組,其特征在于:所述的測溫探頭(1)緊貼在OLED平板(5)的背面,其中一個測溫探頭設(shè)在OLED平板(5)的中心。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于OLED壽命加速試驗的溫度測控模組,其特征在于:所述的導(dǎo)熱基座(4)的上表面帶有空槽。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于OLED壽命加速試驗的溫度測控模組,其特征在于:所述導(dǎo)熱基座(4)的幾何尺寸大于OLED平板(5)的幾何尺寸。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于杭州市質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督檢測院,未經(jīng)杭州市質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督檢測院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201720700997.0/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





