[實用新型]一種太陽能硅片的外觀檢測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201720622277.7 | 申請日: | 2017-05-31 |
| 公開(公告)號: | CN206740666U | 公開(公告)日: | 2017-12-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 曹志明;張春雷;席勁松;譚平;唐星;趙成龍 | 申請(專利權(quán))人: | 成都福譽(yù)科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/95 | 分類號: | G01N21/95;G01B11/00 |
| 代理公司: | 四川力久律師事務(wù)所51221 | 代理人: | 王蕓,熊曉果 |
| 地址: | 610207 四川省成都市雙流縣*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 太陽能 硅片 外觀 檢測 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及太陽能硅片檢測技術(shù)領(lǐng)域,特別是一種太陽能硅片的外觀檢測裝置。
背景技術(shù)
太陽能板的主要構(gòu)成部件為太陽能硅片,太陽能硅片的光電轉(zhuǎn)換功能效率不斷提升,在民用、國防、航空、航天等諸方面都有極為重要的應(yīng)用,已成為清凈能源中不可或缺的成員之一,業(yè)界對太陽能硅片需求殷切,而太陽能硅片的外觀品質(zhì)會直接影響到后續(xù)的太陽能電池片的制作和轉(zhuǎn)換效率等,同時太陽能硅片很輕薄,在自動化制造與檢測過程中,稍有不慎,即可能造成破損、缺角甚至肉眼無法觀察的微細(xì)裂縫,降低生產(chǎn)效率,增加生產(chǎn)成本,因此為提升太陽能硅片的質(zhì)量,需要對太陽能硅片進(jìn)行檢測分級。
在對硅片進(jìn)行外形尺寸、外觀缺陷等檢測時,需要分別拍攝硅片的上下表面,現(xiàn)有技術(shù)在拍照時,常采用先拍攝硅片的一面,然后將硅片進(jìn)行翻面后再拍攝另一面,該過程時間較長,效率低下,容易造成硅片破損,增加次品率。
實用新型內(nèi)容
本實用新型的發(fā)明目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)在對硅片進(jìn)行外觀檢測的過程時間長效率低,機(jī)械損耗大,容易造成硅片破損等上述不足,提供一種太陽能硅片的外觀檢測裝置,縮短機(jī)械行程,提高工作效率,減少機(jī)械損耗,提高外觀質(zhì)量。
為了實現(xiàn)上述目的,本實用新型采用的技術(shù)方案為:
一種太陽能硅片的外觀檢測裝置,包括:
抓取部件,包含至少一個吸盤,所有所述吸盤位于同一平面;
旋轉(zhuǎn)部件,所有所述吸盤均連接于所述旋轉(zhuǎn)部件上,所述旋轉(zhuǎn)部件帶動所有所述吸盤同向運(yùn)動;
檢測部件,包含拍照部件一和拍照部件二,所述拍照部件一設(shè)于所述吸盤的下方,所述拍照部件一的位置適配所述吸盤的轉(zhuǎn)動軌跡,所述拍照部件一用于拍攝硅片的底面,所述拍照部件二用于拍攝所述硅片的頂面;
驅(qū)動系統(tǒng),驅(qū)動所述抓取部件、旋轉(zhuǎn)部件和檢測部件;
控制系統(tǒng),控制所述驅(qū)動系統(tǒng)。
采用本實用新型的一種太陽能硅片的外觀檢測裝置,由所述控制系統(tǒng)控制所述驅(qū)動系統(tǒng)帶動所述旋轉(zhuǎn)部件轉(zhuǎn)動,所有所述吸盤位于同一平面,且均連接于所述旋轉(zhuǎn)部件上,所述吸盤連接有負(fù)壓源,當(dāng)所述旋轉(zhuǎn)部件帶動所述吸盤轉(zhuǎn)動至硅片上方時,所述硅片位于所述吸盤的吸附范圍,所述吸盤形成負(fù)壓在原位吸取所述硅片,然后所述控制系統(tǒng)控制所述驅(qū)動系統(tǒng)帶動所述旋轉(zhuǎn)部件,使所述吸盤轉(zhuǎn)動至下一工位,當(dāng)所述控制系統(tǒng)關(guān)閉負(fù)壓時,所述吸盤放下所述硅片實現(xiàn)下料,當(dāng)所述吸盤吸附所述硅片的頂面,此時采用設(shè)于所述吸盤下方的所述拍照部件一對所述硅片的底面進(jìn)行拍攝以便檢測,當(dāng)所述吸盤未吸附所述硅片時,即在所述硅片吸取之前或放下之后,采用所述拍照部件二對所述硅片的頂面進(jìn)行拍攝以便檢測,采用本裝置能夠通過所述吸盤對所述硅片只需一次取放及旋轉(zhuǎn)即可實現(xiàn)對所述硅片正、反面的拍攝,采用檢測部件發(fā)現(xiàn)在初期肉眼無法觀察,但在后道工序中很容易導(dǎo)致碎片的裂紋缺陷,以便提高所述硅片進(jìn)行外觀尺寸及瑕疵檢測的精確性,同時無需將所述硅片進(jìn)行翻面即可檢測,簡化抓取機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu),操作過程短,效率高,檢測方便,減少機(jī)械損耗,減少對硅片的接觸次數(shù),避免對外觀造成損傷,提高外觀質(zhì)量,降低成本,配置有多個所述吸盤時,每次轉(zhuǎn)動均可對一張硅片進(jìn)行抓取、放置及拍攝的動作,進(jìn)一步提高工作效率,減少機(jī)械損耗。
優(yōu)選的,還包含顯示部件。
優(yōu)選的,還包含上料裝置和下料裝置,所述上料裝置和下料裝置的位置適配所述吸盤的轉(zhuǎn)動軌跡,以使每個所述吸盤旋轉(zhuǎn)到所述上料裝置和下料裝置工位上方時分別實現(xiàn)上料和下料。
所有所述吸盤位于同一平面內(nèi),且一直繞固定圓周旋轉(zhuǎn),所述吸盤旋轉(zhuǎn)至所述上料裝置處抓取所述硅片,待旋轉(zhuǎn)至下料裝置處放下所述硅片,所述上料裝置和下料裝置布置于所述吸盤的轉(zhuǎn)動軌跡上,適配所述吸盤的高度以及轉(zhuǎn)動的角度,以使每個所述吸盤旋轉(zhuǎn)到所述上料裝置和下料裝置工位上方時分別實現(xiàn)上料和下料,采用多個所述吸盤時能夠同時實現(xiàn)上料和下料操作,提高機(jī)械效率,便于機(jī)械控制。
進(jìn)一步優(yōu)選的,所述上料裝置包含頂升部件和吹氣部件。
由于所述吸盤的高度固定,而硅片極易破碎,待吸取的硅片與所述吸盤之間達(dá)到一定距離時所述吸盤的負(fù)壓才能將所述硅片吸起,所述控制系統(tǒng)控制所述頂升部件將所述硅片頂升至適配所述吸盤吸取的位置,保障抓取環(huán)節(jié)持續(xù)不間斷,提高工作效率,避免當(dāng)所述吸盤到達(dá)上料位置時無法吸取所述硅片;由于硅片較輕較薄,采用所述吹氣部件將待吸取的所述硅片吹散分離,便于所述吸盤吸取,避免一次吸取兩張以上的所述硅片。
進(jìn)一步優(yōu)選的,所述上料裝置還包含光電傳感器。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于成都福譽(yù)科技有限公司,未經(jīng)成都福譽(yù)科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201720622277.7/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種水果蟲害檢測裝置
- 下一篇:一種薄膜缺陷在線檢測設(shè)備
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





