[實(shí)用新型]一種太陽(yáng)能硅片的外觀檢測(cè)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201720622277.7 | 申請(qǐng)日: | 2017-05-31 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN206740666U | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-12-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 曹志明;張春雷;席勁松;譚平;唐星;趙成龍 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 成都福譽(yù)科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N21/95 | 分類(lèi)號(hào): | G01N21/95;G01B11/00 |
| 代理公司: | 四川力久律師事務(wù)所51221 | 代理人: | 王蕓,熊曉果 |
| 地址: | 610207 四川省成都市雙流縣*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 太陽(yáng)能 硅片 外觀 檢測(cè) 裝置 | ||
1.一種太陽(yáng)能硅片的外觀檢測(cè)裝置,其特征在于,包括:
抓取部件,包含至少一個(gè)吸盤(pán)(1),所有所述吸盤(pán)(1)位于同一平面;
旋轉(zhuǎn)部件,所有所述吸盤(pán)(1)均連接于所述旋轉(zhuǎn)部件上,所述旋轉(zhuǎn)部件帶動(dòng)所有所述吸盤(pán)(1)同向運(yùn)動(dòng);
檢測(cè)部件,包含拍照部件一(10)和拍照部件二(11),所述拍照部件一(10)設(shè)于所述吸盤(pán)(1)的下方,所述拍照部件一(10)的位置適配所述吸盤(pán)(1)的轉(zhuǎn)動(dòng)軌跡,所述拍照部件一(10)用于拍攝硅片(12)的底面,所述拍照部件二(11)用于拍攝所述硅片(12)的頂面;
驅(qū)動(dòng)系統(tǒng),驅(qū)動(dòng)所述抓取部件、旋轉(zhuǎn)部件和檢測(cè)部件;
控制系統(tǒng),控制所述驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種太陽(yáng)能硅片的外觀檢測(cè)裝置,其特征在于,還包含顯示部件。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種太陽(yáng)能硅片的外觀檢測(cè)裝置,其特征在于,還包含上料裝置和下料裝置,所述上料裝置和下料裝置的位置適配所述吸盤(pán)(1)的轉(zhuǎn)動(dòng)軌跡,以使每個(gè)所述吸盤(pán)(1)旋轉(zhuǎn)到所述上料裝置和下料裝置工位上方時(shí)分別實(shí)現(xiàn)上料和下料。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種太陽(yáng)能硅片的外觀檢測(cè)裝置,其特征在于,所述上料裝置包含頂升部件(51)和吹氣部件(52)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種太陽(yáng)能硅片的外觀檢測(cè)裝置,其特征在于,所述拍照部件一(10)位于所述上料裝置和下料裝置之間,所述下料裝置為傳輸帶(9),所述傳輸帶(9)的高度適配所述吸盤(pán)(1)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種太陽(yáng)能硅片的外觀檢測(cè)裝置,其特征在于, 所述拍照部件二(11)位于所述傳輸帶(9)的正上方。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-6任一所述的一種太陽(yáng)能硅片的外觀檢測(cè)裝置,其特征在于,所述旋轉(zhuǎn)部件包含一個(gè)分氣組件,所述分氣組件包含導(dǎo)氣管(2)和套筒(3),所述導(dǎo)氣管(2)為中空結(jié)構(gòu),所述套筒(3)設(shè)有內(nèi)孔(31),所述導(dǎo)氣管(2)的下端與所述內(nèi)孔(31)相連通,所述導(dǎo)氣管(2)的上端設(shè)有一個(gè)開(kāi)口一,所述套筒(3)的下端設(shè)有至少兩個(gè)開(kāi)口二,每個(gè)所述開(kāi)口二均連通所述內(nèi)孔(31),每個(gè)所述開(kāi)口二連接有氣管一(4),所述氣管一(4)連通所述吸盤(pán)(1)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種太陽(yáng)能硅片的外觀檢測(cè)裝置,其特征在于,所述開(kāi)口一通過(guò)旋轉(zhuǎn)接頭(6)連接氣管二(7)。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種太陽(yáng)能硅片的外觀檢測(cè)裝置,其特征在于,所述套筒(3)連接有轉(zhuǎn)盤(pán)(8),所有所述吸盤(pán)(1)連接于所述轉(zhuǎn)盤(pán)(8),所有所述吸盤(pán)(1)沿所述轉(zhuǎn)盤(pán)(8)的圓周均勻分布,所述吸盤(pán)(1)每次轉(zhuǎn)動(dòng)的角度相同。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的一種太陽(yáng)能硅片的外觀檢測(cè)裝置,其特征在于,所述轉(zhuǎn)盤(pán)(8)上連接有豎向的連接板,每個(gè)所述吸盤(pán)(1)螺栓連接一個(gè)所述連接板。
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G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
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G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專(zhuān)用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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