[實用新型]一種類島狀電子傳輸?shù)谋∧ぞw管有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201720576037.8 | 申請日: | 2017-05-23 |
| 公開(公告)號: | CN206834182U | 公開(公告)日: | 2018-01-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 寧洪龍;曾勇;姚日暉;鄭澤科;章紅科;徐苗;王磊;彭俊彪 | 申請(專利權(quán))人: | 華南理工大學(xué) |
| 主分類號: | H01L29/06 | 分類號: | H01L29/06;H01L29/221;H01L29/227;H01L29/24;H01L29/786;H01L21/34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 種類 電子 傳輸 薄膜晶體管 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型屬于薄膜晶體管技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種類島狀電子傳輸?shù)谋∧ぞw管。
背景技術(shù)
薄膜晶體管(Thin Film Transistor,簡稱TFT),是一種用途廣泛的半導(dǎo)體器件,其最重要的用途是在顯示器中用于驅(qū)動液晶排列變化、以及驅(qū)動OLED像素發(fā)光。
薄膜晶體管通過柵極電壓來控制有源層半導(dǎo)體的載流子,從而實現(xiàn)器件的開或關(guān)態(tài)。當(dāng)器件處于開態(tài)時,高的載流子濃度,有利于填充陷阱態(tài),從而實現(xiàn)高的遷移率。然而,當(dāng)器件處于關(guān)態(tài)時,關(guān)態(tài)電流主要來自:有源層電流和絕緣層漏電流。其中,有源層電流與載流子的濃度成正比。作為有源層材料,過高的載流子濃度會導(dǎo)致關(guān)態(tài)電流太高,TFT甚至處于一個“always-on”態(tài),無法正常工作。
透明導(dǎo)電氧化物(簡稱,TCO)薄膜具有非常好的透明度和熱穩(wěn)定性,是非常重要電子器件材料。然而,TCO具有非常高的載流子濃度,難以直接用于有源層。為了解決這個問題,目前主流的方法是,通過重摻雜抑制載流子的元素,來有效的控制載流子濃度。例如,摻雜超過5wt.%Al2O3的ZnO。這種方式會增加填隙Al離子,極大的增強雜質(zhì)離子散射,降低遷移率。
實用新型內(nèi)容
針對以上現(xiàn)有技術(shù)存在的缺點和不足之處,本實用新型的目的在于提供一種類島狀電子傳輸?shù)谋∧ぞw管。
本實用新型目的通過以下技術(shù)方案實現(xiàn):
一種類島狀電子傳輸?shù)谋∧ぞw管,由襯底上依次設(shè)置的柵極、柵極絕緣層、有源層和源漏電極構(gòu)成;所述有源層為非連續(xù)的類島狀TCO薄膜和低載流子濃度材料薄膜組成的疊層結(jié)構(gòu),其中低載流子濃度材料薄膜連接相鄰兩個類島狀TCO薄膜,形成一個導(dǎo)電通道。
上述有源層中,類島狀TCO薄膜主要起到載流子施主的作用,而低載流子濃度材料薄膜主要起到連接相鄰兩個島狀,形成一個導(dǎo)電通道。所述的類島狀TCO薄膜的材料為具有高導(dǎo)電性能并且在生長初期以島狀生長為主的TCO材料,而所述低載流子濃度材料為具有低載流子的半導(dǎo)體或者絕緣體。
優(yōu)選地,所述類島狀TCO薄膜的材料為氧化鋅(ZnO)或摻雜氧化鋅、氧化銦(In2O3)或摻雜氧化銦;所述摻雜氧化鋅優(yōu)選摻鋁氧化鋅(AZO),所述摻雜氧化銦優(yōu)選摻錫氧化銦(ITO)。
優(yōu)選地,所述低載流子濃度材料為Al2O3、Ga2O3或HfO2。
上述類島狀電子傳輸?shù)谋∧ぞw管的制備方法,包括如下制備步驟:
(1)室溫下在襯底上用直流磁控濺射沉積柵極;
(2)通過陽極氧化將柵極表面氧化,得到柵極絕緣層;
(3)室溫下通過脈沖激光沉積(Pulsed Laser Deposition,簡稱PLD)的方法在柵極絕緣層上表面依次濺射非連續(xù)的類島狀TCO薄膜和低載流子濃度材料薄膜,得到有源層;
例如,可采用脈沖激光生長類島狀A(yù)ZO薄膜和低載流子濃度Al2O3薄膜形成AZO/Al2O3有源層:先在柵極絕緣層上表面生長一層島狀的AZO薄膜。值得注意的是,AZO薄膜要控制好厚度,避免形成連續(xù)薄膜。在激光能量為305mJ,頻率為5Hz,氧壓為10mtorr的工藝參數(shù)中,AZO的脈沖數(shù)不超過600,獲得的厚度小于6nm,能夠獲得很好的類島狀形貌AZO;對于不同工藝參數(shù),脈沖數(shù)應(yīng)當(dāng)適當(dāng)調(diào)整以獲得一個類島狀薄膜。然后沉積連續(xù)的低載流子濃度Al2O3薄膜,其工藝參數(shù)可參考AZO,厚度應(yīng)該盡可能薄,以避免影響接觸特性。
(4)室溫下用蒸鍍方式沉積源漏電極。源漏電極應(yīng)覆蓋在有源層邊界,避免低載流子濃度薄膜影響接觸特性。
上述制備方法中,所述有源層通過脈沖激光沉積方式在室溫制備而成,且后期不需要退火處理。
優(yōu)選地,步驟(3)中所述脈沖激光沉積的條件為:本底真空度為9×10-7Torr,采用KrF準(zhǔn)分子激光并在波長為248nm、頻率為5Hz的條件下制備。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





