[實用新型]一種浮柵存儲器有效
| 申請號: | 201720485135.0 | 申請日: | 2017-05-04 |
| 公開(公告)號: | CN206877997U | 公開(公告)日: | 2018-01-12 |
| 發明(設計)人: | 許毅勝;熊濤;劉釗;舒清明 | 申請(專利權)人: | 上海格易電子有限公司;北京兆易創新科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/11556 | 分類號: | H01L27/11556 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司11332 | 代理人: | 孟金喆,胡彬 |
| 地址: | 201203 上海市浦東新區張*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 存儲器 | ||
1.一種浮柵存儲器,其特征在于,包括:
襯底;
形成在所述襯底上的多個凹槽;
形成所述凹槽內的隔離絕緣層,所述襯底的上表面高度高于所述隔離絕緣層的上表面,以形成襯底凸起;
形成在所述襯底凸起上方的隧穿氧化層,所述隧穿氧化層延伸在所述隔離絕緣層上方;
形成在所述隧穿氧化層上方的浮柵,所述浮柵覆蓋所述隧穿氧化層;
形成在所述浮柵上方的層間絕緣層,所述層間絕緣層延伸至所述隧穿氧化層上方;
覆蓋在所述層間絕緣層上方的控制柵。
2.根據權利要求1所述的浮柵存儲器,其特征在于,所述層間絕緣層包括依次層疊的第一層間絕緣層、第二層間絕緣層和第三層間絕緣層;
所述第一層間絕緣層的材料為氧化硅;所述第二層間絕緣層的材料為氮化硅;所述第三層間絕緣層的材料為氧化硅。
3.根據權利要求1所述的浮柵存儲器,其特征在于,
所述襯底凸起的上表面為平面或曲面。
4.根據權利要求3所述的浮柵存儲器,其特征在于,
所述襯底凸起的縱截面為正方形。
5.根據權利要求4所述的浮柵存儲器,其特征在于,
所述正方形的邊長范圍為大于等于15nm小于等于30nm。
6.根據權利要求1所述的浮柵存儲器,其特征在于,
所述襯底的導電類型為N型或者P型。
7.根據權利要求1所述的浮柵存儲器,其特征在于,
所述隔離絕緣層的材料為氧化硅。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





