[實用新型]一種防止單點失效的雙冗余譯碼驅動電路結構有效
| 申請號: | 201720318195.3 | 申請日: | 2017-03-29 |
| 公開(公告)號: | CN206835065U | 公開(公告)日: | 2018-01-02 |
| 發明(設計)人: | 季輕舟;雒寶花;張立博;張冰;李飛強;王勇 | 申請(專利權)人: | 西安微電子技術研究所 |
| 主分類號: | H03M7/00 | 分類號: | H03M7/00 |
| 代理公司: | 西安通大專利代理有限責任公司61200 | 代理人: | 李宏德 |
| 地址: | 710065 陜西*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 防止 單點 失效 冗余 譯碼 驅動 電路 結構 | ||
技術領域
本實用新型涉及集成電路技術領域,具體為一種防止單點失效的雙冗余譯碼驅動電路結構。
背景技術
目前傳統譯碼驅動電路結構如圖1所示。包括4線-16線譯碼器,譯碼驅動電路。其中傳統輸出驅動電路如圖2所示。其中Mp1晶體管源極接電源VDD,漏極接Mp2晶體管源端,襯底接電源VDD,柵極接4線-16線譯碼器的輸出;Mp2晶體管襯底接電源VDD,源極接Mp1晶體管漏極,同時為驅動器的輸出,并且接電阻Ro一端,柵極接4線-16線譯碼器的輸出;電阻Ro一端接Mp2晶體管的漏極,一端接地。這些技術的引進,在Mp1晶體管漏襯漏電或擊穿情況下,防止單點失效引起的輸出異常為高電平。但是圖2所示的驅動結構,若存在Mp2晶體管柵漏漏電或擊穿的情況下,則4線-16線譯碼器輸出高電平引起譯碼驅動電路輸出為高電平,輸出異常;如果Mp2晶體管漏襯漏電或擊穿的情況下,則Mp2晶體管漏襯底所接的VDD引起譯碼驅動電路輸出為高電平,輸出異常;電路正常輸出為高電平時,若Mp2晶體管柵漏漏電或擊穿,柵極連接的前級CMOS反相器中的NMOS存在漏電或擊穿,則輸出為中間電平或低電平,輸出異常。
實用新型內容
針對現有技術中存在的問題,本實用新型提供一種防止單點失效的雙冗余譯碼驅動電路結構,在單點失效情況下,防止輸出異常為高電平;在前級CMOS反相器中的NMOS存在漏電或擊穿情況下,可防止輸出異常為中間電平或低電平,提高電路的可靠性。
本實用新型是通過以下技術方案來實現:
一種防止單點失效的雙冗余譯碼驅動電路結構,包括四個雙冗余輸出驅動PMOS晶體管和四個VDD分壓多晶電阻,以及一個輸出多晶電阻Ro;
第一PMOS晶體管Mp1的襯底與源極相連并連接電源電壓VDD,漏極與第二PMOS晶體管Mp2源極和襯底相連,柵極與第三分壓多晶電阻R3一端相連;
第二PMOS晶體管Mp2漏極與輸出多晶電阻Ro一端相連并與第四PMOS晶體管Mp4漏極相連,柵極與第一分壓多晶電阻R1一端相連;
第三PMOS晶體管Mp3襯底與源極相連并接電源電壓VDD,漏極與第四PMOS晶體管Mp4源極和襯底相連,柵極與第四分壓多晶電阻R4一端相連;
第四PMOS晶體管Mp4漏極與輸出多晶電阻Ro一端相連,柵極與第二分壓多晶電阻R2一端相連;
第一分壓多晶電阻R1另一端和第二分壓多晶電阻R2另一端相連,并與一個4線-16線譯碼器B輸出端YBi相連;
第三分壓多晶電阻R3另一端和第四分壓多晶電阻R4另一端相連,并與一個4線-16線譯碼器A輸出端YAi相連;
輸出多晶電阻Ro的另一端接地。
優選的,第二PMOS晶體管Mp2和第四PMOS晶體管Mp4設置在單獨N阱內。
優選的,第二PMOS晶體管Mp2和第四PMOS晶體管Mp4的柵極分別串聯的第一分壓多晶電阻R1和第二分壓多晶電阻R2的阻值相等。
進一步,第一分壓多晶電阻R1與輸出多晶電阻Ro的阻值比不小于13.2。
優選的,第一PMOS晶體管Mp1和第三PMOS晶體管Mp3的柵極分別串聯的第三分壓多晶電阻R3和第四分壓多晶電阻R4的阻值相等。
進一步,第三分壓多晶電阻R3的阻值不大于4.8kΩ。
優選的,四個雙冗余輸出驅動PMOS晶體管均采用蛇形結構晶體管。
與現有技術相比,本實用新型具有以下有益的技術效果:
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于西安微電子技術研究所,未經西安微電子技術研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201720318195.3/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種雙脈沖的信號發生器
- 下一篇:一種多功能收音設備





