[實(shí)用新型]一種顆粒檢測工裝

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201720317644.2
• 申請(qǐng)日: 2017-03-29
• 公開（公告）號(hào): CN206618707U
• 公開（公告）日: 2017-11-07
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陶杰;戴斌;陳華;張偉斌;楊存豐;劉晨;劉本德;王依全
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國工程物理研究院化工材料研究所
• 主分類號(hào): G01N23/04
• 分類號(hào): G01N23/04
• 代理公司: 四川省成都市天策商標(biāo)專利事務(wù)所51213
• 代理人: 龔海月,王荔

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及工業(yè)CT檢測工裝，更具體地，本實(shí)用新型涉及一種用于工業(yè)CT設(shè)備檢測顆粒檢測工裝。

背景技術(shù)

顆粒內(nèi)部結(jié)構(gòu)的檢測并沒有固定的方法，一般在用于工業(yè)CT設(shè)備檢測時(shí)，由于顆粒尺寸較小，又沒有統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)的工裝夾具，且一般的夾具不易夾住顆粒，因此通常是就近取材，如用針狀物(或細(xì)柱物)尖端頂起顆粒，配合不干膠等進(jìn)行固定。但這種工裝具有不確定性、臨時(shí)性等缺點(diǎn)，且在檢測過程中存在顆粒跌落的安全隱患。同時(shí)，臨時(shí)工裝只能檢測一枚或幾枚顆粒，不能進(jìn)行批量檢測，因此檢測效率極為低下。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型克服了現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種用于工業(yè)CT設(shè)備檢測顆粒檢測工裝，以期望能提出一種顆粒檢測的方法以確保顆粒檢測過程中的安全性，并大幅提高顆粒的檢測效率。

為解決上述的技術(shù)問題，本實(shí)用新型的一種實(shí)施方式采用以下技術(shù)方案：

一種顆粒檢測工裝，包括上樣品托盤、下樣品托盤和兩根定位銷，所述上樣品托盤和下樣品托盤均為圓盤結(jié)構(gòu)，上樣品托盤的下表面加工有多個(gè)未穿孔的半球孔，下樣品托盤的上表面加工有多個(gè)未穿孔的圓錐孔，所述半球孔與圓錐孔一一對(duì)應(yīng)，所述半球孔的孔徑≥所述圓錐孔的最大孔徑，每個(gè)樣品托盤上各加工兩個(gè)定位銷孔，一個(gè)位于樣品托盤中央，另一個(gè)位于樣品托盤邊緣；上樣品托盤的下表面和下樣品托盤的上表面疊合在一起使圓錐孔和半球孔一一對(duì)應(yīng)相扣，兩根圓柱狀定位銷分別插入樣品托盤中央和邊緣的定位銷孔中將上樣品托盤和下樣品托盤定位在一起。

進(jìn)一步的技術(shù)方案是：上述顆粒檢測工裝還包括至少一個(gè)中樣品托盤，所述中樣品托盤的上表面加工有多個(gè)未穿孔的圓錐孔，下表面加工有多個(gè)未穿孔的半球孔，其圓錐孔與上樣品托盤的半球孔一一對(duì)應(yīng)，其半球孔與下樣品托盤的圓錐孔一一對(duì)應(yīng)。

上述顆粒檢測工裝中，所述上樣品托盤的下表面有10個(gè)半球孔。

上述顆粒檢測工裝中，所述下樣品托盤的上表面有10個(gè)圓錐孔。

上述顆粒檢測工裝中，所述中樣品托盤的上表面有10個(gè)圓錐孔，下表面有10個(gè)半球孔。

上述顆粒檢測工裝中，所述上樣品托盤和下樣品托盤均采用EPS材料制成，所述定位銷采用木材制成。

上述顆粒檢測工裝中，所述中樣品托盤采用EPS材料制成。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型至少具有以下有益效果：該工裝根據(jù)檢測需要，可以選擇多個(gè)樣品托盤組合使用，可針對(duì)顆粒樣品進(jìn)行批量檢測，提高了檢測效率。將該檢測工裝置于工業(yè)CT設(shè)備檢測時(shí)能在探測器視場范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)最大程度的放大功能，從而能更好地實(shí)現(xiàn)顆粒內(nèi)部結(jié)構(gòu)特征的觀測和表征目的。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型一種實(shí)施例的顆粒檢測工裝側(cè)視圖。

圖2為圖1所述顆粒檢測工裝的俯視圖。

圖3為圖2的C-C剖視圖。

圖4為本實(shí)用新型另一種實(shí)施例的顆粒檢測工裝剖視圖。

圖5為本實(shí)用新型顆粒檢測工裝的下樣品托盤圓錐孔分布圖。

具體實(shí)施方式

為了使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。

本檢測工裝主要用于在工業(yè)CT設(shè)備上檢測顆粒所用。如圖1至圖3所示，顆粒檢測工裝包括上樣品托盤1、下樣品托盤2和兩根定位銷3，上樣品托盤和下樣品托盤均采用EPS材料制成，定位銷采用木材制成。所述上樣品托盤和下樣品托盤均為圓盤結(jié)構(gòu)，上樣品托盤的下表面加工有多個(gè)未穿孔的半球孔4，下樣品托盤的上表面加工有多個(gè)未穿孔的圓錐孔5，所述半球孔與圓錐孔一一對(duì)應(yīng)，所述半球孔的孔徑≥所述圓錐孔的最大孔徑，優(yōu)選的，半球孔的孔徑略大于所述圓錐孔的最大孔徑。圓錐孔的設(shè)計(jì)可以使得不同尺寸的顆粒直徑都能緊密貼合圓錐孔內(nèi)壁面，從而在檢測工裝的旋轉(zhuǎn)環(huán)節(jié)不會(huì)晃動(dòng)。而半球孔的設(shè)計(jì)使得下表面空間足夠，顆粒上部分能完全被包裹起來，不會(huì)出現(xiàn)因顆粒尺寸大小不一使得上、下樣品托分離起翹的現(xiàn)象。每個(gè)樣品托盤上各加工兩個(gè)定位銷孔，一個(gè)位于樣品托盤中央，另一個(gè)位于樣品托盤邊緣；上樣品托盤的下表面和下樣品托盤的上表面疊合在一起使圓錐孔和半球孔一一對(duì)應(yīng)相扣，兩根圓柱狀定位銷分別插入樣品托盤中央和邊緣的定位銷孔中將上樣品托盤和下樣品托盤定位在一起。將該檢測工裝置于工業(yè)CT設(shè)備檢測時(shí)能在探測器視場范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)最大程度的放大功能，從而能更好地觀測和表征顆粒內(nèi)部結(jié)構(gòu)特征，同時(shí)，該工裝能一次性檢測多枚顆粒，即可實(shí)現(xiàn)批量檢測功能。