[實(shí)用新型]一種顆粒檢測(cè)工裝

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201720317644.2
• 申請(qǐng)日: 2017-03-29
• 公開（公告）號(hào): CN206618707U
• 公開（公告）日: 2017-11-07
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陶杰;戴斌;陳華;張偉斌;楊存豐;劉晨;劉本德;王依全
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)工程物理研究院化工材料研究所
• 主分類號(hào): G01N23/04
• 分類號(hào): G01N23/04
• 代理公司: 四川省成都市天策商標(biāo)專利事務(wù)所51213
• 代理人: 龔海月,王荔

1.一種顆粒檢測(cè)工裝，其特征在于包括上樣品托盤(1)、下樣品托盤(2)和兩根定位銷(3)，所述上樣品托盤和下樣品托盤均為圓盤結(jié)構(gòu)，上樣品托盤的下表面加工有多個(gè)未穿孔的半球孔(4)，下樣品托盤的上表面加工有多個(gè)未穿孔的圓錐孔(5)，所述半球孔與圓錐孔一一對(duì)應(yīng)，所述半球孔的孔徑≥所述圓錐孔的最大孔徑，每個(gè)樣品托盤上各加工兩個(gè)定位銷孔，一個(gè)位于樣品托盤中央，另一個(gè)位于樣品托盤邊緣；上樣品托盤的下表面和下樣品托盤的上表面疊合在一起使圓錐孔和半球孔一一對(duì)應(yīng)相扣，兩根圓柱狀定位銷分別插入樣品托盤中央和邊緣的定位銷孔中將上樣品托盤和下樣品托盤定位在一起。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顆粒檢測(cè)工裝，其特征在于還包括至少一個(gè)中樣品托盤(6)，所述中樣品托盤的上表面加工有多個(gè)未穿孔的圓錐孔，下表面加工有多個(gè)未穿孔的半球孔，其圓錐孔與上樣品托盤的半球孔一一對(duì)應(yīng)，其半球孔與下樣品托盤的圓錐孔一一對(duì)應(yīng)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的顆粒檢測(cè)工裝，其特征在于所述上樣品托盤的下表面有10個(gè)半球孔。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的顆粒檢測(cè)工裝，其特征在于所述下樣品托盤的上表面有10個(gè)圓錐孔。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顆粒檢測(cè)工裝，其特征在于所述中樣品托盤的上表面有10個(gè)圓錐孔，下表面有10個(gè)半球孔。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顆粒檢測(cè)工裝，其特征在于所述上樣品托盤和下樣品托盤均采用EPS材料制成，所述定位銷采用木材制成。

7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顆粒檢測(cè)工裝，其特征在于所述中樣品托盤采用EPS材料制成。