[實用新型]集成電路測試裝置及其測試探針

有效

• 申請號: 201720299385.5
• 申請日: 2017-03-24
• 公開（公告）號: CN206696394U
• 公開（公告）日: 2017-12-01
• 發明（設計）人: 王國華;謝偉
• 申請（專利權）人: 深圳市斯納達科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/067;G01R1/073
• 代理公司: 深圳市沃德知識產權代理事務所(普通合伙)44347
• 代理人: 高杰,于志光

1.一種測試探針，包括由導電材料制成的針筒、連接于所述針筒一端的第一針頭、和連接于所述針筒另一端的第二針頭，其特征在于，所述測試探針還包括為針頭活動提供彈力的非螺旋形彈性體，所述彈性體裝設在所述針筒內，所述第一針頭的內端可活動地插設在所述針筒內，所述第一針頭的外端伸出到所述針筒外，所述第一針頭的內端與所述彈性體的一端抵接。

2.如權利要求1所述的測試探針，其特征在于，所述彈性體由導電或不導電的硅膠制成。

3.如權利要求1或2所述的測試探針，其特征在于，所述彈性體包括沿所述針筒軸向排列的多個單體。

4.如權利要求3所述的測試探針，其特征在于，所述單體的形狀為球狀或柱狀。

5.如權利要求1或2所述的測試探針，其特征在于，所述彈性體為單一的長條柱狀。

6.如權利要求1所述的測試探針，其特征在于，所述第二針頭的內端可活動地插設在所述針筒內，所述第二針頭的外端伸出到所述針筒外，所述第二針頭的內端與所述彈性體的另一端抵接。

7.如權利要求1所述的測試探針，其特征在于，所述第二針頭與所述針筒一體成型制成。

8.一種集成電路測試裝置，包括壓緊機構、探針組件、以及用于放置待測集成電路的限位框，所述探針組件包括安裝塊及安裝在所述安裝塊上的多個測試探針，所述測試探針的下端用于與測試用印制電路板導電接觸，所述限位框設于所述探針組件上側，所述壓緊機構設于所述限位框的上方以用于壓緊待測集成電路使待測集成電路的引腳與對應的測試探針導電接觸，其特征在于，所述測試探針為如權利要求1至7項中任意一項所述的測試探針。