[實用新型]光學檢查設備

有效

• 申請號: 201720290027.8
• 申請日: 2017-03-23
• 公開（公告）號: CN206725414U
• 公開（公告）日: 2017-12-08
• 發明（設計）人: 王宣復
• 申請（專利權）人: 華洋精機股份有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/94
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司11006
• 代理人: 梁揮,鮑俊萍

1.一種光學檢查設備，其特征在于，該設備包括：

一光源裝置，沿一入射光軸照射一待測物并在該待測物的一臟污形成漫反射光；

一濾光裝置；以及

一影像捕獲設備，沿一漫反射光軸接收通過該濾光裝置的該漫反射光，該漫反射光軸與該入射光軸相對于該待測物的一法線呈不對稱，其中，該濾光裝置僅允許沿該漫反射光軸的該漫反射光通過該濾光裝置。

2.如權利要求1所述的光學檢查設備，其特征在于，該濾光裝置包括一頂面、一底面及一漫反射通道，該漫反射通道貫穿該頂面及該底面，該漫反射光軸通過該漫反射通道。

3.如權利要求2所述的光學檢查設備，其特征在于，該濾光裝置包括一入射通道，該入射通道貫穿該頂面及底面，且供該入射光軸通過，并與該底面形成一第一銳角，該漫反射通道與該底面形成一第二銳角，該第一銳角的角度與該第二銳角的角度不相同。

4.如權利要求3所述的光學檢查設備，其特征在于，該第一銳角的角度介于50-75度之間，該第二銳角的角度介于50-80度之間。

5.如權利要求3所述的光學檢查設備，其特征在于，該濾光裝置包括一定位系統，該光源裝置沿該入射光軸照射該待測物并在該待測物上形成反射光，該影像捕獲設備接收通過該定位系統的反射光。

6.如權利要求5所述的光學檢查設備，其特征在于，該定位系統包括貫穿該頂面及該底面的一第一定位通道及一第二定位通道，該第一定位通道與該入射通道相互連通，該第二定位通道與該漫反射通道相互連通，該第一定位通道及該第二定位通道位于該濾光裝置相同側邊。

7.如權利要求1所述的光學檢查設備，其特征在于，該濾光裝置包括一定位系統，該光源裝置沿該入射光軸照射該待測物并在該待測物上形成反射光，該影像捕獲設備接收通過該定位系統的反射光。

8.如權利要求1所述的光學檢查設備，其特征在于，該光源裝置包括一發光二極管。