[實用新型]用于UIS測試的多工位直流參數測試裝置

有效

• 申請號: 201720254375.X
• 申請日: 2017-03-15
• 公開（公告）號: CN206710549U
• 公開（公告）日: 2017-12-05
• 發明（設計）人: 胡江;林越來;孫海洋;鐘鋒浩
• 申請（專利權）人: 杭州長川科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 杭州杭誠專利事務所有限公司33109
• 代理人: 尉偉敏,閻忠華

1.一種用于UIS測試的多工位直流參數測試裝置，其特征是，包括分立器件測試器(1)、主機(2)、FPGA控制器(3)、繼電器控制器(4)、電壓電流測量電路(5)、柵極電壓源(6)、漏極電壓源(7)、IGBT控制器(8)、開短路檢測器(9)、UIS測試電路(10)和外接電感(11)；分立器件測試器分別與主機和FPGA控制器電連接，FPGA控制器通過并聯的繼電器控制器、電壓電流測量電路、柵極電壓源、漏極電壓源、IGBT控制器和開短路檢測器與UIS測試電路電連接，UIS測試電路、待測元件(12)和分立器件測試器依次電連接，UIS測試電路與外接電感電連接。

2.根據權利要求1所述的用于UIS測試的多工位直流參數測試裝置，其特征是，UIS測試電路包括電容C1，絕緣柵雙極晶體管IGBT和二極管Diode，電容C1一端和二極管Diode正極接地，電容C1另一端、絕緣柵雙極晶體管IGBT和外接電感依次電連接，二極管Diode負極與絕緣柵雙極晶體管IGBT和外接電感的交接點電連接。

3.根據權利要求1所述的用于UIS測試的多工位直流參數測試裝置，其特征是，柵極電壓源包括光耦繼電器(62)和兩路功率放大電路(61)，兩路功率放大電路均與光耦繼電器電連接，光耦繼電器輸出電源VG給UIS測試電路。

4.根據權利要求3所述的用于UIS測試的多工位直流參數測試裝置，其特征是，所述功率放大電路包括電阻R12、電阻R14、電阻R15、電阻R16、電阻R17，電容C58、電容C59、電容C60、電容C61、電容C62，二極管D19、二極管D31，放大器U13；電阻R12一端接地，電阻R12另一端分別與電阻R13一端、二極管D19負極、二極管D31正極和放大器U13的反相輸入端電連接，電阻R15一端與FPGA控制器電連接。

5.根據權利要求3所述的用于UIS測試的多工位直流參數測試裝置，其特征是，電阻R15另一端分別與二極管D19正極、二極管D31負極和放大器U13電連接，電容C58、電容C59一端接地，電容C58、電容C59另一端與電容C60一端電連接，電容C60另一端分別與電容C62、電容C63一端電連接，電容C62、電容C63另一端接地，電阻R13另一端分別與放大器U13輸出端和光耦繼電器電連接。

6.根據權利要求1或2或3或4或5所述的用于UIS測試的多工位直流參數測試裝置，其特征是，電壓電流測量電路包括電流測量電路和電壓測量電路，電壓測量電路包括一級功放電路(51)和二級功放電路(52)，一級功放電路、二級功放電路和主機依次電連接。