[實用新型]粉體樣品雜質分析儀

有效

• 申請號: 201720247206.3
• 申請日: 2017-03-14
• 公開（公告）號: CN206638603U
• 公開（公告）日: 2017-11-14
• 發明（設計）人: 黃廷磊;張姿
• 申請（專利權）人: 黃廷磊;張姿
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95;G01N1/28
• 代理公司: 桂林市持衡專利商標事務所有限公司45107
• 代理人: 黃瑋

技術領域

本實用新型涉及粉料雜質檢測分析領域，具體為一種粉體樣品雜質分析儀。

背景技術

隨著材料及相關產業的科技進步，粉體作為普通的工業原料，其應用范圍在不斷地擴展，人們對于粉體純度也提出了日益嚴苛的要求，而目前對于粉體材料質量的分析很多都是由人工通過手動一點點刮開并攤平粉末然后通過肉眼識別來完成，由于視覺疲勞等各種個人因素，導致人工檢測效率低，而且分析不準確，尤其針對于微納顆粒狀粉體的分析更是十分困難。

人工檢測不僅精確度低，而且人工成本高，粉體飛揚至空氣中易對于人體健康帶來危害。

實用新型內容

針對現有技術的不足，本實用新型所要解決的技術問題是提出了一種替代人工的粉體樣品雜質分析儀。

能夠解決上述技術問題的粉體樣品雜質分析儀，其技術方案包括對應于鋪料平臺設置的進出料裝置和平鋪清掃裝置，其中：

所述進出料裝置包括設于鋪料平臺一端上方的漏斗和與漏斗連接的間歇下料機構，所述間歇下料機構的出口下方設有將顆粒狀粉體向鋪料平臺下料的出料斜斗。

所述平鋪清掃裝置包括將下料的顆粒狀粉體從下料端向前攤平而后將攤平的顆粒狀粉體向后回收的平鋪刮板和清掃刮板，所述平鋪刮板和清掃刮板前、后豎直設置并通過彈性元件吊裝于鋪料平臺上方懸伸的移動桿上，所述移動桿安裝于螺母座上，所述螺母座旋合于鋪料平臺外設置的絲桿上，所述平鋪刮板和清掃刮板的前、后行程大于鋪料平臺的前、后端，于前、后最大行程處所述平鋪刮板和清掃刮板的底端低于鋪料平臺。

所述鋪料平臺下料端的后下方設有粉體收集容器。

所述鋪料平臺上方設有向下對攤平的顆粒狀粉體拍照的CCD相機或CMOS相機，所述CCD相機或CMOS相機由多腳相機架支撐安裝并通過數據傳輸線連接顯示處理終端，所述顯示處理終端實時對CCD相機或CMOS相機傳送來的圖像數據進行圖像處理，利用圖像識別技術識別并標注出圖像中雜質的位置，同時統計雜質顆粒的數量，并將處理好的圖像和統計結果顯示在顯示處理終端的顯示器上。

所述間歇下料機構的一種結構包括豎狀柱形筒和橫置于柱形筒內的柱形轉門，所述柱形轉門的上部為等腰三角形體，柱形轉門的直徑匹配柱形筒的前、后內壁寬度，柱形轉門與柱形筒外的轉盤同軸安裝，所述轉盤的頂部與柱形筒之間設有回位彈簧，于轉盤的回位位置，柱形轉門的上部等腰三角形體居中位于柱形筒內；柱形筒外設有轉動轉盤即轉動柱形轉門進行下料的控制機構，于柱形轉門的下料位置，柱形轉門的上部等腰三角形體偏轉至柱形筒的前壁或后壁處。

所述控制機構的一種結構包括設于轉盤底部的擋塊和可前、后推動擋塊而轉動柱形轉門的推塊，所述推塊設于推桿上且位于平鋪刮板和清掃刮板前方，所述推桿設于移動桿或螺母座上。

為將顆粒狀粉體鋪平為適宜厚度，所述平鋪刮板的底部設計為光滑的斜面；為將顆粒狀粉體回收干凈，所述清掃刮板的底部設計為粗糙的斜面。

所述多腳相機架的各支腳具有伸縮結構，以此調節CCD相機或CMOS相機的高度和水平位置。

為增補亮度而拍攝清晰的圖像，所述CCD相機或CMOS相機的鏡頭上安裝有補光光源。

所述顯示處理終端采用個人電腦，則其圖像識別技術為PC端軟件。

所述顯示處理終端采用平板電腦或手機，則其圖像識別技術為APP第三方應用程序。

本實用新型的有益效果：

1、本實用新型粉體樣品雜質分析儀可自動將待檢測粉末攤開刮平到適宜的厚度，然后通過相機拍照并將圖像實時傳輸到電腦上進行圖像識別處理，識別出粉末圖像中哪些位置上是雜質并將這些雜質的位置在圖像上標注出來，統計每張圖像上雜質的數量，實時將處理好已標明雜質位置的圖像顯示輸出，同時也將統計的相關數據以及分析結果顯示輸出。

2、本實用新型可自動循環工作，并且可連續長時間工作，克服了人工檢測方法中存在的效率不高、主觀性強、準確率較低并且檢測效率降和不能連續長時間工作的問題，大大提高了粉末雜質分析的效率，同時也避免了人工長時間接觸一些粉末對健康會造成危害的問題。

3、本實用新型可實現全程自動上料、刮平、拍照、圖像處理、雜質顆粒識別、雜質顆粒數量統計、圖像和統計數據顯示、信息存儲以及粉末回收的整個過程，有效將機械結構、單片機控制、圖像數據實時傳輸、圖像軟件識別和自動統計數據等結合在一起，大大提高了工作效率。

附圖說明

圖1為本實用新型一種實施方式的結構示意圖。

圖2為圖1實施方式中進出料裝置和平鋪清掃裝置的結構主視圖。