[實用新型]一種托盤式集成電路芯片測試裝置有效
| 申請號： | 201720208400.0 | 申請日： | 2017-03-03 |
| 公開（公告）號： | CN206515440U | 公開（公告）日： | 2017-09-22 |
| 發明（設計）人： | 陳家鋒;蔣偉;段超毅 | 申請（專利權）人： | 深圳凱智通微電子技術有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市中科創為專利代理有限公司44384 | 代理人： | 高早紅,謝亮 |
| 地址： | 518000 廣東省深圳市寶安*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 托盤 集成電路 芯片 測試 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種托盤式集成電路芯片測試裝置，其特征在于：
包括測試機架和接觸導通用探針模組；其中，測試機架上設置測試料盤載盤、以及使測試料盤載盤升降運動的氣動升降部件，并且，測試料盤載盤還設置有對測試料盤進行限位的限位部件、以及升降感應及控制器；
接觸導通用探針模組包括有托板、托板上由上往下設置有轉接插槽、PCB固定板、PCB轉接板、探針A板、探針B板和測試探針，其中，測試探針分別固定在探針A板和探針B板內，并與PCB轉接板接觸連通。
2.根據權利要求1所述的托盤式集成電路芯片測試裝置，其特征在于：還包括一放置在測試料盤載盤上的測試料盤，測試料盤上設置有若干用于放置待測IC的限位框，各限位框與測試探針一一對應。
3.根據權利要求1所述的托盤式集成電路芯片測試裝置，其特征在于：接觸導通用探針模組還設置有若干定位銷。
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