[實(shí)用新型]封裝模具有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201720175457.5 | 申請(qǐng)日: | 2017-02-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN206516613U | 公開(公告)日: | 2017-09-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 洪振榮;王杰祥 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 日月光封裝測(cè)試(上海)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/56 | 分類號(hào): | H01L21/56 |
| 代理公司: | 北京律盟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司11287 | 代理人: | 林斯凱 |
| 地址: | 201203 上海市浦*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 封裝 模具 | ||
1.一種封裝模具,其特征在于所述封裝模具包含:
基座,其包含:
若干定位孔,自所述基座的上表面向所述基座的下表面方向延伸;
若干收納孔,自所述基座的上表面向所述基座的下表面方向延伸;
一組調(diào)整墊,經(jīng)配置以收容于相應(yīng)的收納孔底部且具有依注塑需要而定的厚度;
若干彈性件,經(jīng)配置以設(shè)置于相應(yīng)的收納孔內(nèi)的調(diào)整墊上方且頂部凸伸于該相應(yīng)的收納孔外;及
注塑支撐件,凸伸于所述若干收納孔之間的區(qū)域;
可移動(dòng)件,其包含:
第一可移動(dòng)基板,具有自其上表面延伸至其下表面的若干組限位孔,不同組限位孔具有不同的限位深度;且所述第一可移動(dòng)基板經(jīng)配置以依所述注塑需要而在相應(yīng)組限位孔中收容限位件以使所述限位件固定于所述基座上的相應(yīng)定位孔,從而使所述第一可移動(dòng)基板可移動(dòng)的限位于所述基座上方;及
第二可移動(dòng)基板,定位于所述第一可移動(dòng)基板上方;
注塑槽,經(jīng)配置以貫穿所述第一可移動(dòng)基板的下表面至所述第二可移動(dòng)基板的上表面;所述注塑支撐件凸伸于所述注塑槽內(nèi)而定義該注塑槽的底部。
2.如權(quán)利要求1所述的封裝模具,其特征在于所述第一可移動(dòng)基板具有對(duì)應(yīng)所述注塑槽的開口,每一組限位孔中的至少兩者位于所述開口的相對(duì)側(cè),且沿所述開口的對(duì)角線或中軸線方向排列。
3.如權(quán)利要求1所述的封裝模具,其特征在于所述封裝模具具有三組限位孔及相應(yīng)的三組定位孔。
4.如權(quán)利要求1所述的封裝模具,其特征在于所述若干組限位孔的深度與所述注塑槽的初始深度呈正比。
5.如權(quán)利要求1所述的封裝模具,其特征在于所述組調(diào)整墊呈環(huán)形。
6.如權(quán)利要求1所述的封裝模具,其特征在于所述第一可移動(dòng)基板進(jìn)一步包含自其下表面延伸至其上表面的若干第二限位孔,所述若干第二限位孔經(jīng)配置以收納所述若干彈性件中相應(yīng)者的頂部。
7.如權(quán)利要求1所述的封裝模具,其特征在于所述基座進(jìn)一步包含位于底部的底部基板和位于頂部的主基板,所述底部基板的底面定義所述基座的下表面,所述主基板的上表面定義所述基座的上表面。
8.如權(quán)利要求1所述的封裝模具,其特征在于所述限位件包含經(jīng)配置以收容于在相應(yīng)限位孔中限位栓套,及嵌套在所述限位栓套內(nèi)且底部固定在所述相應(yīng)定位孔內(nèi)的螺絲。
9.如權(quán)利要求1所述的封裝模具,其特征在于所述封裝模具進(jìn)一步包括適應(yīng)不同注塑需要而具有不同厚度的其它組調(diào)整墊,所述封裝模具經(jīng)配置以依所述不同注塑需要而替換所述組調(diào)整墊。
10.如權(quán)利要求9所述的封裝模具,其特征在于所述組調(diào)整墊及所述其它組調(diào)整墊的厚度與所述注塑槽的初始深度呈正比。
11.如權(quán)利要求1所述的封裝模具,其特征在于所述第一可移動(dòng)基板具有對(duì)應(yīng)所述注塑槽的開口,每一組限位孔中的至少兩者位于所述開口的相對(duì)側(cè);且所述若干組限位孔在每一側(cè)的排列順序相反。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





