[實(shí)用新型]加熱裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201720064151.2
• 申請日: 2017-01-19
• 公開（公告）號: CN206835390U
• 公開（公告）日: 2018-01-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: H.屈默勒;R.米爾尼克爾;K.舍內(nèi)曼;V.布洛克;K.施密特;B.羅賓;M.塔費(fèi)爾納
• 申請（專利權(quán)）人: E.G.O.電氣設(shè)備制造股份有限公司
• 主分類號: H05B1/00
• 分類號: H05B1/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司72001
• 代理人: 盧江,劉春元

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及一種加熱裝置、尤其是一種用于液態(tài)介質(zhì)（如水或者諸如此類的）的電加熱裝置。

背景技術(shù)

從DE 102013200277 A1在原理上已知一種加熱裝置，其中在該加熱裝置上可以在利用電介質(zhì)層的特性的、尤其是電介質(zhì)層的電容特性和/或電阻特性的溫度相關(guān)性的情況下執(zhí)行溫度測量。在此，這里存在如下問題：絕緣特性是值得改善的。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型所基于的任務(wù)在于：提供一種在開頭所提到的加熱裝置，利用所述加熱裝置可以解決現(xiàn)有技術(shù)的問題，而且尤其可以提供一種實(shí)用的加熱裝置。

該任務(wù)通過具有權(quán)利要求1的特征的加熱裝置來解決。本實(shí)用新型的有利的以及優(yōu)選的構(gòu)建方案在其它的權(quán)利要求中被說明，而且在下文進(jìn)一步被解釋。權(quán)利要求的字句（Wortlaut）通過對說明書的內(nèi)容的明確的參考來完成。

規(guī)定：加熱裝置具有平面的載體、有利地是由陶瓷或者金屬或鋼構(gòu)成的平面的或平坦的襯底、可替換地具有管或者諸如此類的。此外，該加熱裝置還具有至少一個(gè)加熱元件、有利地具有厚層加熱元件，如這通常從所提到的現(xiàn)有技術(shù)已知的那樣。加熱裝置具有測量裝置，利用該測量裝置至少可以檢測電容特性或電容變化。在該測量裝置中也可以設(shè)置相對應(yīng)的控制裝置和/或分析部，有利地，所有功能都被集成在其中，特別優(yōu)選地，被集成在微控制器中。

此外，在載體上方設(shè)置有電介質(zhì)層，其中該電介質(zhì)層具有與溫度相關(guān)的電容特性。該電介質(zhì)層雖然可以直接伸展在載體上，但是這不是一定的，即其它的層或者器件還可以被布置在其之間。此外，還設(shè)置有兩個(gè)電極，所述兩個(gè)電極被布置在電介質(zhì)層上方，使得該電介質(zhì)層被設(shè)置在電極與載體之間。所述兩個(gè)電極并排地伸展，而且有利地可以彼此電分離，但是這不是一定的。所述電極連同電介質(zhì)層和載體分別形成電容或電容器。

此外，基礎(chǔ)絕緣層設(shè)置在所述兩個(gè)電極上方，也許也直接被施加到所述兩個(gè)電極上，使得電極被布置在基礎(chǔ)絕緣層與電介質(zhì)層之間。在基礎(chǔ)絕緣層上方布置有至少一個(gè)加熱元件，使得基礎(chǔ)絕緣層基本上用于使得通常用電網(wǎng)電壓和高電流來運(yùn)行的加熱元件在所有情況下都相對電極、載體和要加熱的介質(zhì)安全并且持久地絕緣。

測量裝置與所述兩個(gè)電極連接，而且被構(gòu)造用于檢測在電極上的電容的變化，其中在電容上的變化由于電介質(zhì)層的特性的溫度相關(guān)性而是與溫度相關(guān)的。所述電容變化作為對在加熱裝置上的溫度變化的量度來分析。因此，利用按照本實(shí)用新型的加熱裝置，能夠依據(jù)與溫度相關(guān)的電容變化來檢測在加熱裝置上、至少在電極的區(qū)域中的溫度，或該溫度可以由電容變化來確定。因此，與在之前所提到的現(xiàn)有技術(shù)中不同，將電容的與溫度相關(guān)的變化、也就是說至少也并且不僅僅將電阻的與溫度相關(guān)的變化用于溫度測量。

在本實(shí)用新型的被視為特別有利的第一基本構(gòu)建方案中，測量裝置與所述兩個(gè)電極連接或只與所述兩個(gè)電極連接。在此，測量裝置可以只具有兩個(gè)輸入端，所述兩個(gè)輸入端與所述兩個(gè)電極連接，使得每個(gè)輸入端都與一個(gè)電極連接。在此，因此根據(jù)溫度或電介質(zhì)層的電容特性的與溫度相關(guān)的變化僅僅在所述電極上檢測電容的變化。如果載體是金屬載體，那么該載體可以說用作與電極對置的電容器板，使得最后存在電容的至少部分的串聯(lián)。在這些電容中的電介質(zhì)是與溫度相關(guān)的電介質(zhì)層。

在本實(shí)用新型的另一第二基本構(gòu)建方案中，可能的是：測量裝置一方面共同被連接到所述兩個(gè)電極上、即述兩個(gè)電極彼此連接而且另一方面與載體連接。于是存在兩個(gè)電容的并聯(lián)電路，所述兩個(gè)電容的總電容一方面可以由所述兩個(gè)電極共同來檢測而另一方面可以由作為與測量裝置的輸入端的相應(yīng)的連接的載體來檢測。以與之前所描述的類似的形式，作為在電容中的電介質(zhì)的介質(zhì)層的電容特性的溫度相關(guān)性這里也起作用，這被用于測量在加熱裝置上的溫度。

在本實(shí)用新型的另一構(gòu)建方案中，電介質(zhì)層可以直接被施加到載體上。有利地，該電介質(zhì)層可以在載體側(cè)上基本上覆蓋所述載體的整個(gè)表面或者至少覆蓋加熱元件的區(qū)域中的表面。這樣，載體完全也還可以延伸得比被電介質(zhì)層和/或加熱元件覆蓋的更遠(yuǎn)。在此，電介質(zhì)層的延伸應(yīng)該至少與加熱元件的延伸一樣大，因?yàn)樗鲭娊橘|(zhì)層的延伸正是被設(shè)置用于加熱裝置的加熱并且最后也應(yīng)該在其區(qū)域內(nèi)、有利地在其整個(gè)區(qū)域內(nèi)進(jìn)行溫度測量。

有利地，電介質(zhì)層是具有與能夠與溫度相關(guān)變化的ε_r的玻璃層或者基于玻璃的層。該電介質(zhì)層也可以由玻璃陶瓷構(gòu)成或者具有玻璃陶瓷。也許甚至可以規(guī)定：尤其是當(dāng)不分析電阻或其溫度相關(guān)性時(shí)，電阻的溫度相關(guān)性是很低的。