[實用新型]一種深紫外探測器有效
| 申請號: | 201720051168.4 | 申請日: | 2017-01-16 |
| 公開(公告)號: | CN206471340U | 公開(公告)日: | 2017-09-05 |
| 發明(設計)人: | 孫卿;呂志勤;羅紹軍;楊福華;湯磊 | 申請(專利權)人: | 中蕊(武漢)光電科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/0352 | 分類號: | H01L31/0352;H01L31/0304;H01L31/105 |
| 代理公司: | 武漢開元知識產權代理有限公司42104 | 代理人: | 俞鴻 |
| 地址: | 430074 湖北省武漢市東湖新*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 深紫 探測器 | ||
技術領域
本實用新型屬于氮化鎵半導體的應用技術領域,具體涉及一種將氮化鎵半導體用于紫外光探測的器件,特別是280nm波長以下的深紫波段的探測的器件。
背景技術
太陽是自然界最強的紫外光源,其280nm波長以下的深紫波段幾乎被臭氧層完全吸收,這一波段的紫外線幾乎無法到達地面,因此把波長在200nm-280nm的紫外光稱為日盲區。相應地,人們將只對200nm-280nm波段深紫外光產生響應信號的探測器稱為日盲(或太陽盲)探測器。在低空和地面探測到的該波段紫外光信號一般是來自人工發射源,如彈藥爆炸、火災、環境污染等。因此,日盲深紫外探測器在光電對抗、導彈預警、防爆抑爆、水質監測、臭氧監測等軍事和民用眾多領域有重要的應用意義。
目前市場常見的紫外探測器有硅基紫外光電管和光電倍增管。硅基探測器因其制作材料的Si的禁帶寬度為1.12ev,使得其探測器主要應用在可見光波段,通常需要在硅探測器前端加上結構復雜、價格昂貴的濾光系統來除去干擾。光電倍增管雖然有增益大、靈敏度高、響應快、穩定性好等優點,但是其體積大、能耗大、抗輻射能力差、工作電壓高、易破損壞等缺點,在一定程度上限制了其應用。
基于上述傳統紫外探測器的缺點,抗輻射能力強的寬禁帶半導體材料得到了廣泛關注,如SiC、ZnMgO、GaN等。這些寬帶隙半導體材料具有禁帶寬度寬、電子飽和速度高、介電常數小、抗輻射能力強等優點,非常適合作為紫外探測器材料。SiC是禁帶寬度不可調節的間接帶隙材料,熔點高、導熱性好,其禁帶寬度是3.26eV,對應的響應峰值波長在380nm左右,這個波段在日光中有超過98%能穿透臭氧層和云層到達地球表面,對器件的干擾較大,要用于200nm-280nm波段的深紫外探測時需要加紫外濾光片。通過調節ZnMgO的Mg組分,可實現禁帶寬度從3.3eV到7.8eV可調的直接帶隙ZnMgO合金,但不發生結構分相的高Mg組分ZnMgO合金仍然是技術壁壘,實現深紫外探測同樣需要加紫外濾光片。
GaN基的AlGaN深紫外探測器與上述傳統紫外探測器相比具有獨特的優勢。GaN摻Al可實現禁帶寬度從3.4eV到6.2eV可調的直接帶隙AlGaN合金,可制作響應峰值波長在200nm—365nm的高響應紫外探測器。體材料的AlGaN探測器工作波長處于日盲區(280nm以下),Al組分必須高于40%。目前較高晶體質量的高Al組分AlGaN材料很難實現,一般都存在較大的缺陷和位錯密度;而且實現較高濃度的P型AlGaN材料也很困難。這些問題嚴重制約了AlGaN深紫外探測器的發展。
發明內容
本實用新型的目的在于提供一種基于氮化鎵基的PIN型的深紫外探測器,能夠實現波長在200nm-280nm的紫外光探測。
為實現本發明的目的,本發明提供深紫外探測器的技術方案為:
它包括透明的襯底,所述襯底上生長的成核層,成核層上生長的緩沖層,其特征在于緩沖層上依次生長的有n型AlGaN層,周期性結構AlN/AlaGa1-aN阻擋層,周期性結構AlN/AlbGa1-bN吸收層,AlN限制層,周期性結構AlN/AlcGa1-cN阻擋層,p型GaN層;所述AlN/AlaGa1-aN阻擋層中每個周期的AlN厚度、AlN/AlcGa1-cN阻擋層中每個周期的AlN厚度、AlN/AlbGa1-bN吸收層中每個周期的AlN厚度為0.4nm-1.5nm;其中0≤b<a<c<1,;p型GaN層上連接p型歐姆接觸電極合金,n型AlGaN層上連接n型歐姆接觸電極合金。
特別的:AlN/AlaGa1-aN阻擋層首層為壘材料AlN層,其次為阱材料AlaGa1-aN層,接著重復周期壘材料AlN層、阱材料AlaGa1-aN層,最后一層為壘材料AlN層;總厚度為50-500nm。上述的周期性結構的AlN/AlaGa1-aN阻擋層設置能夠實現:晶體質量良好且禁帶寬度大于5.5eV的阻擋層,有效限制吸收區的載流子,從而提高內量子效率。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中蕊(武漢)光電科技有限公司,未經中蕊(武漢)光電科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201720051168.4/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





